计算机设备、存储介质、伺服电机的状态检测方法、装置和系统制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种计算机设备、存储介质、伺服电机的状态检测方法、装置和系统。该方法包括：对伺服电机输出的反馈电压按照采样周期进行采样处理得到采样值，并对采样值的数量进行累加处理得出第一设定数量；根据采样值、第一设定数量和采样周期，生成斜率值；判断累加出的斜率值的数量小于累加阈值或等于累加阈值；若判断出斜率值的数量小于累加阈值时，继续执行对伺服电机输出的反馈电压进行采样处理的步骤；若判断出斜率值的数量等于累加阈值时，判断连续的累加阈值个斜率值是否均小于斜率门限值，并根据判断结果通过电机驱动芯片对伺服电机进行控制。本申请实施例提高了检测时效性以及降低了检测成本。

【技术实现步骤摘要】
计算机设备、存储介质、伺服电机的状态检测方法、装置和系统
本申请涉及电机
，尤其涉及一种计算机设备、存储介质、伺服电机的状态检测方法、装置和系统。
技术介绍
在汽车空调控制系统中，空调箱内部的伺服电机是重要的控制部件。如果伺服电机在运行过程中发生反馈电压采样异常或者被异物卡牢的情况，而电控板未能收到异常信息，仍然在驱动伺服电机转动，那么就会导致电机发热损坏或者把卡住的异物打断的情况，此时伺服电机无法继续转动，此种情况称为堵转。相关技术中，可通过采集伺服电机机身温度来判定伺服电机是否堵转，由于温度上升需要一定时间，因此检测时效性较差，且采集机身温度需要设置温度采样电路，因此会提升检测成本。
技术实现思路
有鉴于此，本申请实施例提供了一种计算机设备、存储介质、伺服电机的状态检测方法、装置和系统，用以提高检测时效性以及降低检测成本。一方面，本申请实施例提供了一种伺服电机的状态检测方法，包括：对所述伺服电机输出的反馈电压按照采样周期进行采样处理得到采样值，并对采样值的数量进行累加处理得出第一设定数量；根据所述采样值、所述第一设定数量和所述采样周期，生成斜率值；判断累加出的所述斜率值的数量小于累加阈值或等于累加阈值；若判断出所述斜率值的数量小于所述累加阈值时，继续执行对所述伺服电机输出的反馈电压进行采样处理的步骤；若判断出所述斜率值的数量等于所述累加阈值时，判断连续的累加阈值个所述斜率值是否均小于斜率门限值，并根据判断结果通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制。可选地，所述根据判断结果通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制，包括：若判断出连续的累加阈值个所述斜率值均小于所述斜率门限值时，置位堵转标志位，并根据寄存器中存储的标志位通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制；若判断出连续的累加阈值个所述斜率值中任一斜率值大于或等于所述斜率门限值时，清除堵转标志位，并根据寄存器中存储的标志位通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制；其中，所述寄存器中存储的标志位包括堵转标志位。可选地，所述根据所述采样值、所述第一设定数量和所述采样周期，生成斜率值，包括：根据所述第一设定数量个所述采样值的最大值和最小值的差值生成采样差值；将所述采样差值除以所述采样时间，生成所述斜率值，其中，所述采样时间包括所述采样周期和所述第一设定数量的乘积。可选地，所述状态检测方法包括：在对反馈电压进行采样的前四个采样周期内，清除电机驱动芯片中存储的第一开路标志位，读取所述电机驱动芯片中存储的第一开路标志位，根据读取的第一开路标志位置位或者清除第二开路标志位；清除电机驱动芯片中存储的第一过流标志位，读取所述电机驱动芯片中存储的第一过流标志位，根据读取的第一过流标志位置位或者清除第二过流标志位；根据所述寄存器中存储的标志位通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制，其中，所述寄存器中存储的标志位还包括所述第二开路标志位和所述第二过流标志位。可选地，所述斜率门限值的取值范围包括50至300。另一方面，本申请实施例提供了一种伺服电机的状态检测装置，包括：采样模块、计数模块、生成模块、第一判断模块、第二判断模块和控制模块；所述采样模块，用于对所述伺服电机输出的反馈电压按照采样周期进行采样；所述计数模块，用于对采样值的数量进行累加处理和用于对斜率值的数量进行累加处理；所述生成模块，用于根据所述采样值、所述第一设定数量和所述采样周期，生成斜率值；所述第一判断模块，用于判断累加出的所述斜率值的数量小于累加阈值或等于累加阈值，若斜率值的数量小于累加阈值时，所述采样模块继续执行对所述伺服电机输出的反馈电压进行采样处理；所述第二判断模块，用于若斜率值的数量等于累加阈值时，判断所述斜率值是否均小于斜率门限值；所述控制模块，用于根据所述第二判断模块的判断结果通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制。另一方面，本申请实施例提供了一种伺服电机的状态检测系统，提供伺服电机，所述状态检测系统包括：微控制器和电机驱动芯片；所述微控制器用于对所述伺服电机输出的反馈电压按照采样周期进行采样处理得到采样值，并对采样值的数量进行累加处理得出第一设定数量；用于根据所述采样值、所述第一设定数量和所述采样周期，生成斜率值；用于判断累加出的所述斜率值的数量小于累加阈值或等于累加阈值；用于若判断出所述斜率值的数量等于所述累加阈值时，判断连续的累加阈值个所述斜率值是否均小于斜率门限值，并根据判断结果通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制。可选地，所述微控制器可以置位或者清除堵转标志位；所述微控制器用于若判断出连续的累加阈值个所述斜率值均小于所述斜率门限值时，置位堵转标志位，并根据寄存器中存储的标志位通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制；若判断出连续的累加阈值个所述斜率值中任一斜率值大于或等于所述斜率门限值时，清除堵转标志位，并根据寄存器中存储的标志位通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制；其中，所述寄存器中存储的标志位包括堵转标志位。另一方面，本申请实施例了一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行上述伺服电机的状态检测方法。另一方面，本申请实施例了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储包括程序指令的信息，所述处理器用于控制程序指令的执行，所述程序指令被处理器加载并执行时实现上述伺服电机的状态检测方法的步骤。本申请实施例提供的技术方案中，通过对伺服电机输出的反馈电压进行采样得到采样值，根据采样值计算出斜率值，若判断出累加出的斜率值的数量等于累加阈值时，判断连续的累加阈值个斜率值是否均小于斜率门限值，并根据判断结果通过电机驱动芯片对伺服电机进行控制，本申请实施例通过累加阈值个斜率值即可实现对伺服电机状态的检测，检测时间短，检测速度快，从而提高了检测时效性；无需设置温度采样电路，从而降低了检测成本。【附图说明】为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本申请实施例提供的一种伺服电机的状态检测系统的系统架构图；图2为本申请实施例提供的一种伺服电机的状态检测方法的流程图；图3为本申请实施例中伺服电机正常运行时的反馈电压的示意图；图4为本申请实施例中伺服电机发生堵转时的反馈电压的示意图；图5为本申请实施例中堵转状态下斜率值的理论示意图；图6为本申请实施例中堵转状态下斜率值的一种实际应用示意图；图7为本申请实施例中堵转状态下斜率值的另一种实际应用示意图；图8为本申请实施例中伺服电机运行时的斜率值的实际应用示意图；图9为本申本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种伺服电机的状态检测方法，其特征在于，包括：/n对所述伺服电机输出的反馈电压按照采样周期进行采样处理得到采样值，并对采样值的数量进行累加处理得出第一设定数量；/n根据所述采样值、所述第一设定数量和所述采样周期，生成斜率值；/n判断累加出的所述斜率值的数量小于累加阈值或等于累加阈值；/n若判断出所述斜率值的数量小于所述累加阈值时，继续执行对所述伺服电机输出的反馈电压进行采样处理的步骤；/n若判断出所述斜率值的数量等于所述累加阈值时，判断连续的累加阈值个所述斜率值是否均小于斜率门限值，并根据判断结果通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制。/n

【技术特征摘要】
1.一种伺服电机的状态检测方法，其特征在于，包括：
对所述伺服电机输出的反馈电压按照采样周期进行采样处理得到采样值，并对采样值的数量进行累加处理得出第一设定数量；
根据所述采样值、所述第一设定数量和所述采样周期，生成斜率值；
判断累加出的所述斜率值的数量小于累加阈值或等于累加阈值；
若判断出所述斜率值的数量小于所述累加阈值时，继续执行对所述伺服电机输出的反馈电压进行采样处理的步骤；
若判断出所述斜率值的数量等于所述累加阈值时，判断连续的累加阈值个所述斜率值是否均小于斜率门限值，并根据判断结果通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制。


2.根据权利要求1所述的伺服电机的状态检测方法，其特征在于，所述根据判断结果通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制，包括：
若判断出连续的累加阈值个所述斜率值均小于所述斜率门限值时，置位堵转标志位，并根据寄存器中存储的标志位通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制；
若判断出连续的累加阈值个所述斜率值中任一斜率值大于或等于所述斜率门限值时，清除堵转标志位，并根据寄存器中存储的标志位通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制；
其中，所述寄存器中存储的标志位包括堵转标志位。


3.根据权利要求1所述的伺服电机的状态检测方法，其特征在于，所述根据所述采样值、所述第一设定数量和所述采样周期，生成斜率值，包括：
根据所述第一设定数量个所述采样值的最大值和最小值的差值生成采样差值；
将所述采样差值除以所述采样时间，生成所述斜率值，其中，所述采样时间包括所述采样周期和所述第一设定数量的乘积。


4.根据权利要求2所述的伺服电机的状态检测方法，其特征在于，所述状态检测方法包括：
在对反馈电压进行采样的前四个采样周期内，清除电机驱动芯片中存储的第一开路标志位，读取所述电机驱动芯片中存储的第一开路标志位，根据读取的第一开路标志位置位或者清除第二开路标志位；清除电机驱动芯片中存储的第一过流标志位，读取所述电机驱动芯片中存储的第一过流标志位，根据读取的第一过流标志位置位或者清除第二过流标志位；
根据所述寄存器中存储的标志位通过电机驱动芯片对所述伺服电机进行控制，其中，所述寄存器中存储的标志位还包括所述第二开路标志位和所述第二过流标志位。


5.根据权利要求1至4任一所述的伺服电机的状态检测方法，其特征在于，所述斜率门限值的取值范围包括50至300。


6.一种伺服电机的...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：杭州三花研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33