一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，该方法包括：获取模板图像、以及待检测图像；基于模板图像、以及待检测图像，生成与待检测图像对应的蒙版图像；蒙版图像中每个第一像素点的像素值，表征位置与每个第一像素点匹配的第二像素点存在缺陷的异常度值；第二像素点为待检测图像中位置与第一像素点匹配的像素点；基于蒙版图像，确定待检测图像的缺陷检测结果。本公开实施例基于模板图像和待检测图像，生成待检测图像对应的蒙版图像，该蒙版图像中的每个第一像素点的像素值，表征了在待检测图像中对应位置的第二像素点是否存在缺陷的异常度值，然后根据蒙版图像，确定待检测图像的检测结果，具有更高的检测精度。

【技术实现步骤摘要】
一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质
本公开涉及图像处理
，具体而言，涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
随着科技的发展，现代制造业对于印刷电路板(Printedcircuitboard，PCB)的需求也日益增长。电子设备性能的优劣不但受电子元器件本身质量和性能的影响，而且在很大程度上取决于PCB质量的好坏。PCB缺陷检测技术是关系到电子系统质量和生产周期的重要环节，自从PCB专利技术以来就备受重视。当前各种设备的生产厂商对于电路板的要求越来越高，不只是追求更高性能和生产效率，对电路板的良品率等质量因素还有更加严格的要求。当前通常利用自动光学检测(AutomatedOpticalInspection，AOI)设备来进行PCB缺陷检测；AOI设备在自动检测时，通过摄像头对PCB进行自动扫描得到PCB图像，然后将PCB图像中的焊点与数据库中合格PCB的模板图像进行比较，以检查出PCB上存在的缺陷；但是实际上，PCB在生产过程中，常常造成PCB上存在生产误差；另外在将PCB的待检测图像和模板图像进行比对时，也会存在图像之间的匹配误差；此外，待检测图像在采集过程也可能存在采集噪声；这些误差导致了当前对PCB的缺陷检测结果存在大量误检区域，造成缺陷检测精度的下降。
技术实现思路
本公开实施例至少提供一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。第一方面，本公开实施例提供了一种缺陷检测方法，包括：获取模板图像、以及待检测图像；基于所述模板图像、以及所述待检测图像，生成与所述待检测图像对应的蒙版图像；所述蒙版图像中每个第一像素点的像素值，表征第二像素点存在缺陷的异常度值；所述第二像素点为所述待检测图像中位置与所述第一像素点匹配的像素点；基于所述蒙版图像，确定所述待检测图像的缺陷检测结果。这样，通过模板图像和待检测图像，生成待检测图像对应的蒙版图像，该蒙版图像中的每个第一像素点的像素值，表征了在待检测图像中对应位置的第二像素点是否存在缺陷的异常度值，然后根据蒙版图像，确定待检测图像的检测结果，具有更高的检测精度。一种可能的实施方式中，所述基于所述模板图像、以及所述待检测图像，生成与所述待检测图像对应的蒙版图像，包括：根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像；针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像中，确定与该第三像素点对应的多个目标像素点；所述多个目标像素点与所述第二图像中的目标第四像素点之间的距离小于第一距离阈值，所述目标第四像素点为所述第二图像中位置与所述第三像素点匹配的第四像素点；针对每个所述第三像素点，基于所述多个所述目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度，确定该第三像素点的异常度值；根据所述第三像素点的异常度值，确定所述待检测图像中与所述第三像素点对应的第二像素点的异常度值。这样，通过从第二图像中确定与第一图像中的各个第三像素点对应的多个目标像素点，基于多个目标像素点分别与对应第三像素点之间的相似度来确定该对应第三像素点异常度值，进而得到与该第三像素点对应的第二像素点的异常度值，使得第二像素点的异常度值受到模板图像中多个像素点的影响，以降低生产误差、匹配误差、采集噪声等对待检测图像中第二像素点的缺陷检测结果的影响，提升对待处理图像的缺陷检测精度。一种可能的实施方式中，所述根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像，包括：将所述待检测图像确定为所述第一图像，以及将所述模板图像确定为所述第二图像；或者，所述根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像，包括：获取所述待检测图像的第一特征图，并将所述第一特征图确定为所述第一图像；获取所述模板图像的第二特征图，并将所述第二特征图确定为所述第二图像。这样，将待检测图像确定为第一图像、将模板图像确定为第二图像，也即直接基于待检测图像和模板图像得到待检测图像的蒙版图像，蒙版图像所表征的待检测图像中各个第二像素点的存在缺陷的异常度值更加精确；将待检测图像的第一特征图作为第一图像、将模板图像的第二特征图作为第二图像，也即基于第一特征图和第二特征图得到待检测图像的蒙版图像，有利于减少生成蒙版图像时所需要耗费的运算量和运算时间，提升检测效率。一种可能的实施方式中，针对每个所述第三像素点，基于所述多个所述目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度，确定该第三像素点的异常度值，包括：确定所述多个目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度中的最大相似度；基于所述最大相似度，确定该第三像素点的异常度值。这样，基于多个目标像素点分别与第三像素点之间的相似度中的最大相似度，来确定第三像素点的异常度值，能够提升蒙版图像所表征的各个第二像素点是否存在异常的精确度。一种可能的实施方式中，针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像中，确定与该第三像素点对应的多个目标像素点，包括：针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像的多个第四像素点中，确定与该第三像素点位置匹配的目标第四像素点；从所述第二图像的多个所述第四像素点中，确定与所述目标第四像素点距离小于第一距离阈值的多个第四像素点，并将确定的第四像素点确定为所述目标像素点。这样，通过第一距离阈值的限定，确定目标像素点，以基于各个目标像素点与对应第三像素点之间的像素低，来确定蒙版图像，进而降低由于生产误差、采集噪声、匹配误差等对待处理图像的缺陷检测造成的影响。一种可能的实施方式中，针对每个所述第三像素点，采用下述方式确定每个目标像素点与该第三像素点之间的相似度：基于该第三像素点在所述第一图像中的位置、以及预设的第二距离阈值，得到该第三像素点对应的第一子图；以及基于所述每个目标像素点在所述第二图像中的位置、以及所述第二距离阈值，得到所述每个目标像素点对应的第二子图；基于所述第一子图、以及所述第二子图，确定所述每个目标像素点与该第三像素点之间的相似度。这样，通过第三像素点周围的区域、以及目标像素点周围的区域，来确定第三像素点和目标像素点之间的像素度，能够降低由于生产误差、采集噪声、匹配误差等对待处理图像的缺陷检测造成的影响。一种可能的实施方式中，所述基于该第三像素点在所述第一图像中的位置、以及预设的第二距离阈值，得到该第三像素点对应的第一子图，包括：在所述第一图像中，确定以该第三像素点为圆心、以所述第二距离阈值为半径的第一圆形区域，基于所述第一图像上位于该第一圆形区域内的第三像素点，得到所述第一子图；所述基于所述每个目标像素点在所述第二图像中的位置、以及所述第二距离阈值，得到所述每个目标像素点对应的第二子图，包括：在所述第二图像中，确定以所述每个目标像素点为圆心、以所述第二距离阈值为半径的第二圆形区域，基于所述第二图像上位于该第二圆形区域内的第四像素点，得到所述第二子图。一种可能的实施方式中，所述基于该第三像素点在所述第一图像中的位置、以及预设的第二距离阈值，得到该第三像素点对应的第一子图，包括：基于所述第二距离阈值，确定目标边长；在所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：/n获取模板图像、以及待检测图像；/n基于所述模板图像、以及所述待检测图像，生成与所述待检测图像对应的蒙版图像；所述蒙版图像中每个第一像素点的像素值，表征第二像素点存在缺陷的异常度值；所述第二像素点为所述待检测图像中位置与所述第一像素点匹配的像素点；/n基于所述蒙版图像，确定所述待检测图像的缺陷检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：
获取模板图像、以及待检测图像；
基于所述模板图像、以及所述待检测图像，生成与所述待检测图像对应的蒙版图像；所述蒙版图像中每个第一像素点的像素值，表征第二像素点存在缺陷的异常度值；所述第二像素点为所述待检测图像中位置与所述第一像素点匹配的像素点；
基于所述蒙版图像，确定所述待检测图像的缺陷检测结果。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述模板图像、以及所述待检测图像，生成与所述待检测图像对应的蒙版图像，包括：
根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像；
针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像中，确定与该第三像素点对应的多个目标像素点；所述多个目标像素点与所述第二图像中的目标第四像素点之间的距离小于第一距离阈值，所述目标第四像素点为所述第二图像中位置与所述第三像素点匹配的第四像素点；
针对每个所述第三像素点，基于所述多个所述目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度，确定该第三像素点的异常度值；
根据所述第三像素点的异常度值，确定所述待检测图像中与所述第三像素点对应的第二像素点的异常度值。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像，包括：
将所述待检测图像确定为所述第一图像，以及将所述模板图像确定为所述第二图像；
或者，
所述根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像，包括：
获取所述待检测图像的第一特征图，并将所述第一特征图确定为所述第一图像；获取所述模板图像的第二特征图，并将所述第二特征图确定为所述第二图像。


4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，针对每个所述第三像素点，基于所述多个所述目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度，确定该第三像素点的异常度值，包括：
确定所述多个目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度中的最大相似度；基于所述最大相似度，确定该第三像素点的异常度值。


5.根据权利要求2-4任一项所述的方法，其特征在于，针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像中，确定与该第三像素点对应的多个目标像素点，包括：
针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像的多个第四像素点中，确定与该第三像素点位置匹配的目标第四像素点；
从所述第二图像的多个所述第四像素点中，确定与所述目标第四像素点距离小于第一距离阈值的多个第四像素点，并将确定的第四像素点确定为所述目标像素点。


6.根据权利要求2-5任一项所述的方法，其特征在于，针对每个所述第三像素点，采用下述方式确定每个目标像素点与该第三像素点之间的相似度：
基于该第三像素点在所述第一图像中的位置、以及预设的第二距离阈值，得到该第三像素点对应的第一子图；以及
基于所述每个目标像素点在所述第二图像中的位置、以及所述第二距离阈值，得到所述每个目标像素点对应的第二子图；
基于所述第一子图、以及所述第二子图，确定所述每个目标像素点与该第三像素点之间的相似度。


7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于该...

【专利技术属性】
技术研发人员：牛临潇，李诚，
申请(专利权)人：北京市商汤科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11