【技术实现步骤摘要】
本公开涉及芯片，具体而言，涉及一种芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
1、随着人工智能技术的发展，越来越多的人工智能(artificial intelligence，ai)模型走入了人们的日常生活，为了能够使得ai模型能够应用于不同的场景中，往往需要根据具体的应用场景下的样本数据对ai模型进行训练。
2、相关技术中，由于ai模型在训练时的计算量较大，因此会采用专门用于进行ai训练的ai加速芯片(以下简称ai芯片)对ai模型进行训练，从而提高模型的训练速度，而不同的ai芯片的各项性能往往是不同的，因此如何对ai芯片进行更为全面的测试成为了该领域内亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本公开实施例至少提供一种芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
2、第一方面，本公开实施例提供了一种芯片测试方法，包括：
3、获取待测芯片对应的待测计算库的测试配置信息；其中，所述测试配置信息中包含与所述待测计算库中的算子对应的测试用例；
4、在...
【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测芯片为两个以上，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述测试配置信息对应的测试环境中，根据测试用例对所述待测计算库中的算子进行功能测试，包括：
4.根据权利要求1～3任一所述的方法，其特征在于，所述方法包括根据以下步骤进行功能测试：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各待测算子分别对应的测试输出结果和标准输出结果，确定所述待测芯片对应的功能测试结果，包括：
6.根据权利要求...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测芯片为两个以上，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述测试配置信息对应的测试环境中，根据测试用例对所述待测计算库中的算子进行功能测试，包括：
4.根据权利要求1～3任一所述的方法，其特征在于，所述方法包括根据以下步骤进行功能测试：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各待测算子分别对应的测试输出结果和标准输出结果，确定所述待测芯片对应的功能测试结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述功能测试结果包含用于表征待测芯片对各算子支持程度的功能分数；
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括根据以下步骤进行性能测试：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在基于所述待测芯片、该目标算子对应的测试用例以及预设的第一执行次数，确定所述待测芯片每次执行该目标算子对应的测试用例时的测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：王磊，杨桦桉，王志宏，刘叶枫，张行程，
申请(专利权)人：北京市商汤科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：
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