一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质技术方案

本申请公开了一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质，在预设的内存数据库中获取调试信息；按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；将调试结果记录至内存数据库中。本申请中，借助内存数据库保存调试信息，这样，当需要修改调试信息时，可以直接通过内存数据库对其进行修改，无需对SDK的源代码进行修改，且可以将调试结果保存在内存数据库中，可以保存调试结果中的有效信息，还便于借助内存数据库对调试结果进行处理，适用性好。本申请提供的一种芯片调试系统、设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质
本申请涉及计算机
，更具体地说，涉及一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
在计算机中，需要根据应用需要对芯片进行调试，比如可以通过软件开发工具包(SoftwareDevelopmentKit，SDK)来进行芯片调试。但是，在应用SDK进行芯片调试的过程中，芯片性能调试时不同的场景有不同的性能数据统计需求，也即需要根据需要修改调测信息的调测信息，但调试信息的修改一般需要修改SDK相关源代码，过程繁琐不易实时；且调试信息存储在SDK中，无法保留有效信息；适用性差。综上所述，如何提高芯片调试方法的适用性是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种芯片调试方法，其能在一定程度上解决如何提高芯片调试方法的适用性的技术问题。本申请还提供了一种芯片调试系统、设备及计算机可读存储介质。为了实现上述目的，本申请提供如下技术方案：一种芯片调试方法，包括：在预设的内存数据库中获取调试信息；按本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片调试方法，其特征在于，包括：/n在预设的内存数据库中获取调试信息；/n按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；/n将所述调试结果记录至所述内存数据库中。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片调试方法，其特征在于，包括：
在预设的内存数据库中获取调试信息；
按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；
将所述调试结果记录至所述内存数据库中。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在预设的内存数据库中获取调试信息，包括：
在所述内存数据库中获取调试信息控制表；
基于所述调试信息控制表确定所述调试信息；
其中，所述调试信息控制表的数据结构包括：芯片模块标识、调试级别、性能模式、文件名、行号。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中，包括：
将所述调试结果记录至所述内存数据库的调试信息记录表中；
所述调试信息记录表的数据结构包括：时间戳、进程标识、线程标识、芯片模块标识、调试级别、文件名、行号、调试结果。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果，包括：
按照所述调试信息对所述目标芯片进行调试；
判断所述调试信息中的所述性能模式是否开启，若是，则记录性能数据作为所述调试结果。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述判断所述调试信息中的所述性能模式是否开启之后，还包括：
若所述性能模式未开启，则判断所述调试信息中是否包含文件名和/或行号；

【专利技术属性】
技术研发人员：任明刚，吴睿振，余洪斌，崔健，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37