一种与原子力显微镜联用的材料微顶推装置及其使用方法制造方法及图纸

一种与原子力显微镜联用的材料微顶推装置及其使用方法，顶推装置和AFM替换底座，顶推装置设置在AFM替换底座上。该顶推装置包括液压动力装置、液压筒、卡扣、顶推活塞、厚壁软管、电机、电机电源、水箱。其中，液压筒内设有顶推活塞。液压筒顶端与卡扣嵌套连接。液压筒下部用厚壁软管与液压动力装置连接。液压动力装置用厚壁软管与水箱连接。电机与液压动力装置连接并驱动液压动力装置。本发明专利技术与AFM联用获取材料的表面形貌信息、动力学响应、粘附力、动态模量、耗散值等数据。本发明专利技术通过液压动力装置可以精确控制实验样品的向上位移和速度，同时采用限位片较为精确地控制实验样品向上的最大位移。

【技术实现步骤摘要】
一种与原子力显微镜联用的材料微顶推装置及其使用方法
本专利技术涉及一种顶推装置及其使用方法，具体涉及一种与原子力显微镜联用的材料微顶推装置及其使用方法，属于微观材料领域。
技术介绍
传统的力学实验研究难以获取材料在变形过程中对应的微观结构演化图像，而通过分子模拟虽然可以提供重要的原子或分子尺度的信息，但这些模拟通常基于严苛的极限条件，如理想的高应变率、超低温度或极小的样品尺寸等，难以为实验所验证。原位观测材料表面在变形过程中的力、电、热、磁、光等性质变化，是研究材料这些性质变化对应所的材料结构机理的重要途径。当原位观测的尺度达到纳米级甚至原子级时，这种观测所得到的信息，可为材料的各种理论和模拟研究提供重要依据和验证。原子力显微镜(AtomicForceMicroscopy,AFM)是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。AFM可以在空气和液体环境下对材料纳米区域的物理化学性质、形貌进行原子级分辨率探测，或直接进行纳米操作。它通过检测待测样品表面和微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种与原子力显微镜联用的材料微顶推装置，其特征在于：顶推装置(A)和AFM替换底座(B)；顶推装置(A)设置在AFM替换底座(B)上；该顶推装置(A)包括液压动力装置(1)、液压筒(2)、厚壁软管(3)、电机(4)、电机电源(5)、水箱(6)；其中，液压筒(2)下部通过厚壁软管(3)与液压动力装置(1)连接；液压动力装置(1)通过厚壁软管(3)与水箱(6)连接；电机(4)与液压动力装置(1)连接并驱动液压动力装置(1)；电机电源(5)与电机(4)连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种与原子力显微镜联用的材料微顶推装置，其特征在于：顶推装置(A)和AFM替换底座(B)；顶推装置(A)设置在AFM替换底座(B)上；该顶推装置(A)包括液压动力装置(1)、液压筒(2)、厚壁软管(3)、电机(4)、电机电源(5)、水箱(6)；其中，液压筒(2)下部通过厚壁软管(3)与液压动力装置(1)连接；液压动力装置(1)通过厚壁软管(3)与水箱(6)连接；电机(4)与液压动力装置(1)连接并驱动液压动力装置(1)；电机电源(5)与电机(4)连接。


2.根据权利要求1所述的顶推装置，其特征在于：所述液压筒(2)包括筒体(201)、卡扣(202)、顶推活塞(203)；其中顶推活塞(203)设置在筒体(201)内部，卡扣(202)设置在筒体(201)上方并与筒体(201)连接。


3.根据权利要求2所述的顶推装置，其特征在于：所述卡扣(202)为可装配式的设置并与筒体(201)嵌套连接；所述卡扣(202)与筒体(201)嵌套连接处设有限位孔位(7)；优选的是，限位孔位高度为1.0-10.0mm，优选为1.2-8.0mm，更优选为1.5-6.0mm；作为优选，该装置设有两个限位孔位(7)，两个限位孔位(7)以筒体(201)中心线为对称轴对称设置。


4.根据权利要求2或3所述的装置，其特征在于：该装置(A)还包括限位片(8)；限位片(8)设置在限位孔位(7)处，并穿过限位孔位(7)和顶推活塞(203)；所述限位片(8)厚度为0.1-1.0mm；优选的是，限位片(8)的数量为1-10片，改变限位孔位(7)处设置的限位片(8)的数量实现不同的顶推活塞(203)上行最大位移限位；作为优选，所述限位片...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘易洲，许福，胡朝晖，丁燕怀，罗文波，
申请(专利权)人：湘潭大学，
类型：发明
国别省市：湖南;43