雷达参数综合测量系统及测量方法技术方案

本发明专利技术实施例提供了一种雷达参数综合测量系统的测量方法，其特征在于，包括步骤：步骤1：搭建雷达参数综合测量系统；步骤2：雷达天线指向校准；步骤3：根据不同参数测量需求驱动滑台使滑台支架(2)运动，并记录滑台支架(2)运动速度、运动时间、相对滑台(3)起点的位置等信息，同时记录雷达测量目标参数的结果；步骤4：比较步骤3中的滑台支架(2)信息以及雷达测量结果，即可计算目标参数测量精度。本发明专利技术提出的雷达参数综合测量系统能够提高雷达参数测量的准确性和便利性，减小雷达参数测量的误差。差。差。

【技术实现步骤摘要】
雷达参数综合测量系统及测量方法


[0001]本专利技术属于雷达目标测量领域，涉及目标距离、速度和角度的综合测量雷达系统。

技术介绍

[0002]不同体制的雷达针对目标的不同参数测量，如测量距离的脉冲雷达、测量速度的多普勒雷达等。在测量目标参数时，需建立准确的坐标系，并确保雷达天线主轴与目标测量坐标系重合。在雷达及目标架设完成后，首先要确定目标相对雷达的真实距离、角度等参数，以供后续验证雷达测量误差。对于静止目标，参数测量相对简单。对于运动目标，一般难以保持匀速运动，测速精度验证有困难，若同时进行角度测量，则目标轨迹难以有效控制，测角精度验证同样存在难度。此外，随着测量次数的增加、目标状态的变化，目标真实参数需要不断标定，测量将变得异常繁琐。但是目前文献中对于雷达参数测量的实验方法介绍很少，尤其是运动目标速度和角度的测量，因此有必要提出一种雷达参数综合测量系统，以适应多种雷达参数的测量。
[0003]本专利技术提出了一种雷达参数综合测量系统，适应多种雷达参数的测量，能够有效地保证目标真实参数的准确性，进而降低目标参数测量的误差。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种雷达参数综合测量系统，其特征在于，包括：
[0005]滑台3，所述滑台3上表面设置有导轨；
[0006]滑台支架2，所述滑台支架2沿所述导轨移动；所述滑台支架2上安装有反射器1；
[0007]雷达7以及雷达支架8；以及定标体5；
[0008]优选地，所述滑台3还设置有滑台底部滑轮6，用于便捷移动滑台3位置。
[0009]优选地，所述滑台3设置有控制线4，与上位机相连，用于控制滑台支架2的移动。
[0010]本专利技术还提供了一种雷达参数综合测量系统的测量方法，其特征在于，包括步骤：
[0011]步骤1：搭建雷达参数综合测量系统；
[0012]步骤2：雷达天线指向校准；
[0013]步骤3：根据不同参数测量需求驱动滑台使滑台支架2运动，并记录滑台支架2运动速度、运动时间、相对滑台3起点的位置等信息，同时记录雷达测量目标参数的结果；
[0014]步骤4：比较步骤3中的滑台支架2信息以及雷达测量结果，即可计算目标参数测量精度。
[0015]优选地，所述步骤1中，记录雷达7、雷达支架8、定标体5、滑台3、滑台支架2、反射器1的坐标信息。
[0016]优选地，所述步骤2中，在空间中选择第一条线即中轴线和第二条线即标记线，在所述第一条线上放置定标体5，在所述第二条线上放置滑台3。
[0017]优选地，测量综合测量系统中轴线上的定标体5角度若定标体5角度小于阈值δ，即则无需校正。否则，当则雷达天线需顺时针转，反之，雷达天线逆时
针转。天线固定后，再次测量定标体5角度如此反复调整天线指向，直至|θ
i
|<δ，则校准完成，且天线主轴方向记为
[0018]优选地，角度误差阈值δ需根据测角精度来设置。
[0019]优选地，所述步骤2中，当目标相对雷达的角度需改变时，仅需改变雷达天线指向，滑台可保持当前位置不变。假设初始目标相对雷达的角度为θ
H
，现欲将目标角度变为θ
’
H
，则天线需旋转的角度为σ＝(θ
H
‑
θ
’
H
)，且σ>0，天线顺时针旋转σ，反之，逆时针旋转。
[0020]优选地，当测试环境或测试条件改变时需对雷达天线指向重新校准。
[0021]优选地，所述步骤3中，测量的目标角度需减去天线主轴方向角度θ
T
。
[0022]优选地，所述步骤3中，当测量目标角度或距离时，驱动滑台3使滑台支架2移动到特定距离处，并记录滑台支架2位置。
[0023]优选地，所述步骤3中，当测量运动目标速度时，控制滑台3运动速度及运动行程，并记录。
[0024]本专利技术的有益效果包括：
[0025](1)支持雷达多参数一体化测量
[0026]该测量系统支持目标距离、速度、角度测量。如采用多个支架或多组滑台，可支持多目标多参数测量。
[0027](2)作为雷达参数测量校准系统
[0028]由于滑台速度可控，可用于雷达测速精度验证。滑台步进行程极小，可用于雷达高精度测距验证。此外，滑台为线性运动，保证目标角度一致性。
[0029](3)可重复、高便利
[0030]测量系统一经安装固定，即可实现大量实验测量，而且实验可重复。当目标角度需要变化时，也仅需调整天线指向。
附图说明
[0031]图1是雷达参数综合测量系统示意图。
[0032]图2是雷达天线指向校正示意图。
[0033]图3是距离和角度测量示意图。
[0034]图4是速度测量示意图。
具体实施方式
[0035]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。
[0036]当前已有的文献在介绍雷达参数测量时，一般通过激光测距仪或卷尺确定反射体与雷达之间的距离，每次目标位置发生改变，都需要重新测量。而在测量目标速度时，一般运动物体难以保持匀速运动，测速精度验证存在难度。本专利技术提出的雷达参数综合测量系统能够提高雷达参数测量的准确性和便利性，减小雷达参数测量的误差。
[0037]本专利技术主要针对目标参数测量过程繁琐、测量误差大的问题，提出一种雷达参数综合测量系统，具体如下：一种雷达参数综合测量系统，其特征在于，包括：
[0038]滑台(3)，所述滑台(3)上表面设置有导轨；
[0039]滑台支架(2)，所述滑台支架(2)沿所述导轨移动；所述滑台支架(2)上安装有反射器(1)；
[0040]雷达(7)以及雷达支架(8)；以及定标体(5)。
[0041]根据本专利技术的一个实施例，所述滑台(3)还设置有滑台底部滑轮(6)，用于便捷移动滑台(3)位置。
[0042]根据本专利技术的一个实施例，所述滑台(3)设置有控制线(4)，与上位机相连，用于控制滑台支架(2)的移动。
[0043]本专利技术还提出了一种雷达参数综合测量系统的测量方法，其特征在于，包括步骤：
[0044]步骤1：搭建雷达参数综合测量系统；
[0045]步骤2：雷达天线指向校准；
[0046]步骤3：根据不同参数测量需求驱动滑台使滑台支架(2)运动，并记录滑台支架(2)运动速度、运动时间、相对滑台(3)起点的位置等信息，同时记录雷达测量目标参数的结果；
[0047]步骤4：比较步骤3中的滑台支架(2)信息以及雷达测量结果，即可计算目标参数测量精度。
[0048]根据本专利技术的一个实施例，所述步骤1中，记录雷达(7)、雷达支架(8)、定标体(5)、滑台(3)、滑台支架(2)、反射器(1)的坐标信息。
[0049]根据本专利技术的一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种雷达参数综合测量系统，其特征在于，包括：滑台(3)，所述滑台(3)上表面设置有导轨；滑台支架(2)，所述滑台支架(2)沿所述导轨移动；所述滑台支架(2)上安装有反射器(1)；雷达(7)以及雷达支架(8)；以及定标体(5)。2.如权利要求1所述的雷达参数综合测量系统，其特征在于，所述滑台(3)还设置有滑台底部滑轮(6)，用于便捷移动滑台(3)位置。3.如权利要求1所述的雷达参数综合测量系统，其特征在于，所述滑台(3)设置有控制线(4)，与上位机相连，用于控制滑台支架(2)的移动。4.一种权利要求1
‑
3任一项所述的雷达参数综合测量系统的测量方法，其特征在于，包括步骤：步骤1：搭建雷达参数综合测量系统；步骤2：雷达天线指向校准；步骤3：根据不同参数测量需求驱动滑台使滑台支架(2)运动，并记录滑台支架(2)运动速度、运动时间、相对滑台(3)起点的位置等信息，同时记录雷达测量目标参数的结果；步骤4：比较步骤3中的滑台支架(2)信息以及雷达测量结果，即可计算目标参数测量精度。5.如权利要求4所述的雷达参数综合测量系统的测量方法，其特征在于，所述步骤1中，记录雷达(7)、雷达支架(8)、定标体(5)、滑台(3)、滑台支架(2)、反射器(1)的坐标信息。6.如权利要求5所述的雷达参数综合测量系统的测量方法，其特征在于，所述步骤2中，在空间中选择...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜卫忠，陈栋志，孔凡伟，钱婧怡，白旭东，
申请(专利权)人：上海科学仪器厂有限公司，
类型：发明
国别省市：