确定设备异常原因的方法、装置、服务器和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术是关于一种确定设备异常原因的方法、装置、服务器和存储介质，属于医学技术领域。所述方法包括：获取图像的第一质量参数，图像为通过待检测设备采集的；获取待检测设备对应的第二质量参数；基于第一质量参数与第二质量参数的匹配结果，确定第一质量参数中的异常参数；根据异常参数定位待检测设备的异常原因。采用本发明专利技术，可以根据待检测设备采集的图像的质量参数中的异常参数，定位待检测设备的异常原因。后续还可以根据待检测设备的异常原因，对设备进行维护，以提高设备的质量，进而提高图像的质量，最终可以达到提高诊断的准确性的目的。的目的。的目的。

【技术实现步骤摘要】
确定设备异常原因的方法、装置、服务器和存储介质


[0001]本专利技术涉及医学
，尤其涉及一种确定设备异常原因的方法、装置、服务器和存储介质。

技术介绍

[0002]在相关技术中，可以通过医疗设备采集病人的医学影像，医生可以根据医学影像对病人的病情进行诊断。医疗设备本身的质量的高低，直接决定了最终输出的医学影像的置信度，如果能够提高医学影像的置信度，则相应也会辅助提高诊断的准确性。在根据医学影像对病人的病情进行诊断时，有必要知道所使用的医疗设备的质量。如果医疗设备的质量不符合要求，医疗设备本身存在一些问题，则需要解决这些问题，否则会严重影响对病情的诊断。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种确定设备异常原因的方法、装置、服务器和存储介质，能够自动定位待检测设备中的异常原因，辅助提高诊断的准确性。
[0004]本专利技术的第一方面提供了一种确定设备异常原因的方法，所述方法包括：
[0005]获取图像的第一质量参数，所述图像为通过待检测设备采集的；
[0006]获取所述待检测设备对应的第二质量参数；
[0007]基于所述第一质量参数与所述第二质量参数的匹配结果，确定所述第一质量参数中的异常参数；
[0008]根据所述异常参数定位所述待检测设备的异常原因。
[0009]可选地，所述第二质量参数包括预设的质量参数或者前预设次检测所述待检测设备时采集的质量参数。
[0010]可选地，所述第二质量参数为前预设次检测所述待检测设备时采集的质量参数，所述基于所述第一质量参数与所述第二质量参数的匹配结果，确定所述第一质量参数中的异常参数，包括：
[0011]在所述第一质量参数中，确定与所述第二质量参数之间的变化差值大于预设差值阈值的异常参数。
[0012]可选地，所述方法还包括：
[0013]确定所述待检测设备对应的厂家终端；
[0014]向所述厂家终端发送所述异常原因。
[0015]可选地，所述质量参数包括几何精度、空间分辨力、低对比度分辨力、信噪比、均匀度、中心频率、发射增益和是否存在伪影中的至少一项。
[0016]可选地，所述方法还包括：
[0017]基于所述第一质量参数与所述第二质量参数的匹配结果，确定所述待检测设备的第一质量。
[0018]可选地，所述获取图像的第一质量参数，包括：
[0019]对所述图像的窗位窗宽值进行调整；
[0020]确定经过调整的图像中的标志物；
[0021]基于所述标志物，确定调整前的图像对应的第一质量参数。
[0022]可选地，所述方法还包括：
[0023]将所述图像输入到预先训练的网络模型中，得到所述待检测设备的第二质量；
[0024]比较所述待检测设备的所述第一质量和所述第二质量；
[0025]基于比较结果，确定所述第二质量的置信度。
[0026]本专利技术的第二方面提供了一种确定设备异常原因的装置，所述装置包括：
[0027]获取模块，用于获取图像的第一质量参数，所述图像为通过待检测设备采集的；获取所述待检测设备对应的第二质量参数；
[0028]确定模块，用于基于所述第一质量参数与所述第二质量参数的匹配结果，确定所述第一质量参数中的异常参数；
[0029]定位模块，用于根据所述异常参数定位所述待检测设备的异常原因。
[0030]可选地，所述第二质量参数包括预设的质量参数或者前预设次检测所述待检测设备时采集的质量参数。
[0031]可选地，所述第二质量参数为前预设次检测所述待检测设备时采集的质量参数，所述确定模块，用于：
[0032]在所述第一质量参数中，确定与所述第二质量参数之间的变化差值大于预设差值阈值的异常参数。
[0033]可选地，所述确定模块，用于确定所述待检测设备对应的厂家终端；
[0034]所述装置还包括：
[0035]发送模块，用于向所述厂家终端发送所述异常原因。
[0036]可选地，所述质量参数包括几何精度、空间分辨力、低对比度分辨力、信噪比、均匀度、中心频率、发射增益和是否存在伪影中的至少一项。
[0037]可选地，所述确定模块，用于：
[0038]基于所述第一质量参数与所述第二质量参数的匹配结果，确定所述待检测设备的第一质量。
[0039]可选地，所述获取模块，用于：
[0040]对所述图像的窗位窗宽值进行调整；
[0041]确定经过调整的图像中的标志物；
[0042]基于所述标志物，确定调整前的图像对应的第一质量参数。
[0043]可选地，所述确定模块，还用于：
[0044]将所述图像输入到预先训练的网络模型中，得到所述待检测设备的第二质量；
[0045]比较所述待检测设备的所述第一质量和所述第二质量；
[0046]基于比较结果，确定所述第二质量的置信度。
[0047]本专利技术的第三方面提供了一种服务器，包括：
[0048]存储器，用于存储计算机程序；
[0049]处理器，用于运行所述存储器中存储的计算机程序以实现第一方面所述的确定设
备异常原因的方法。
[0050]本专利技术的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有程序指令，所述程序指令用于实现第一方面所述的确定设备异常原因的方法。
[0051]本专利技术的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0052]通过本专利技术实施例提供的方法，可以根据待检测设备采集的图像的质量参数中的异常参数，定位待检测设备的异常原因。后续还可以根据待检测设备的异常原因，对设备进行维护，以提高设备的质量，进而提高图像的质量，最终可以达到提高诊断的准确性的目的。通过本专利技术，可以自动化定位设备的异常原因，避免了通过人工的方式对设备进行全方面的异常排查，大大提高了检测效率。
附图说明
[0053]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0054]图1是根据一示例性实施例示出的一种确定设备异常原因的方法的流程示意图；
[0055]图2是根据一示例性实施例示出的一种确定设备异常原因的系统的结构示意图；
[0056]图3是根据一示例性实施例示出的一种图像测量方法的示意图；
[0057]图4是根据一示例性实施例示出的一种图像测量方法的示意图；
[0058]图5是根据一示例性实施例示出的一种图像测量方法的示意图；
[0059]图6是根据一示例性实施例示出的一种图像测量方法的示意图；
[0060]图7是根据一示例性实施例示出的一种确定设备异常原因的装置的结构示意图；
[0061]图8是根据一示例性实施例示出的一种服务器的结构示意图。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种确定设备异常原因的方法，其特征在于，所述方法包括：获取图像的第一质量参数，所述图像为通过待检测设备采集的；获取所述待检测设备对应的第二质量参数；基于所述第一质量参数与所述第二质量参数的匹配结果，确定所述第一质量参数中的异常参数；根据所述异常参数定位所述待检测设备的异常原因。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二质量参数包括预设的质量参数或者前预设次检测所述待检测设备时采集的质量参数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二质量参数为前预设次检测所述待检测设备时采集的质量参数，所述基于所述第一质量参数与所述第二质量参数的匹配结果，确定所述第一质量参数中的异常参数，包括：在所述第一质量参数中，确定与所述第二质量参数之间的变化差值大于预设差值阈值的异常参数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：确定所述待检测设备对应的厂家终端；向所述厂家终端发送所述异常原因。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述质量参数包括几何精度、空间分辨力、低对比度分辨力、信噪比、均匀度、中心频率、发射增益和是否存在伪影中的至少一项。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：基于所述第一质量参数与所述第二质量参数的匹配结果，确定所述待检测设备的第一质量。...

【专利技术属性】
技术研发人员：王振常，任鹏玲，尹红霞，刘雅文，杨正汉，张婷婷，
申请(专利权)人：首都医科大学附属北京友谊医院，
类型：发明
国别省市：