电路端口信息检查方法技术

本发明专利技术公开了一种电路端口信息检查方法，涉及计算机应用技术领域。该方法包括以下步骤：将待检查电路对应的待检查LEF文件在所述待检查电路的界面打开；提取所述待检查电路中所有端口信息的第一端口名称；提取所述待检查LEF文件中所有端口信息的第二端口名称；将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式；将所述第一端口名称与所述第二端口名称按照同一种排序规则进行排序，并分别保存；将排序后的端口名称进行一一对比，并输出对比结果。本发明专利技术技术方案通过将待检查电路及其生成的待检查LEF文件中的端口名称进行一一对比，可快速准确地找出电路与LEF文件中端口信息的差异。信息的差异。信息的差异。

【技术实现步骤摘要】
电路端口信息检查方法


[0001]本专利技术涉及计算机应用
，特别是涉及一种电路端口信息检查方法。

技术介绍

[0002]LEF（library exchang format,库交换格式）文件，是用于描述库单元（库单元是集成电路芯片后端设计过程中的基础部分，包括版图库、符号库、电路逻辑库等）的物理属性，包括端口位置、层定义和通孔定义，其抽象了单元的底层几何细节，提供了足够的信息，以便允许布线器在不对内部单元约束来进行修订的基础上进行单元连接，LEF文件一般是由版图工作人员根据电路图画出版图，再将版图通过EDA（电子设计自动化，Electronics Design Automation）工具生成的文件。LEF文件包含了工艺的技术信息，如布线的层数、最小的线宽、线与线之间的最小距离等。
[0003]在实际工作过程中，模拟版图与数字后端之间一般是通过LEF文件进行交涉，但是，由EDA工具生成的LEF文件中的端口个数和端口名称有时会与原电路图中的端口个数和端口名称存在差异，如果不进行检查对比直接进入下一流程，会报错误信息，但是人工检查既耗时又无法保证检查结果完全准确。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种电路端口信息检查方法，旨在快速准确地找出电路与LEF文件中端口信息的差异。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种电路端口信息检查方法，包括以下步骤：将待检查电路对应的待检查LEF文件在所述待检查电路的界面打开；提取所述待检查电路中所有端口信息的第一端口名称；提取所述待检查LEF文件中所有端口信息的第二端口名称；将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式；将所述第一端口名称与所述第二端口名称按照同一种排序规则进行排序，并分别保存；将排序后的端口名称进行一一对比，并输出对比结果：当所述第一端口名称与所述第二端口名称完全一致时，输出检查通过；当所述第一端口名称与所述第二端口名称有差异时，提示错误并将有差异的端口名称输出。
[0006]优选地，所述将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式还包括：将所述第一端口名称中命名规则相同的同一组端口进行拆分命名，并按照由小到大的顺序进行排序。
[0007]优选地，所述将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式还包括：将所述第一端口名称中带尖括号的端口名称中的尖括号替换为方括号。
[0008]优选地，所述将所述第一端口名称与所述第二端口名称按照同一种排序规则进行排序还包括：将所有端口名称按照字母表从A至Z、从小到大的顺序进行排序。
[0009]优选地，所述将所述第一端口名称与所述第二端口名称按照同一种排序规则进行排序，并分别保存还包括：将排序后的第一端口名称依次保存至预设的第一文件夹中的列表并填充序号，将排序后的第二端口名称依次保存至预设的第二文件夹中的列表并填充序号。
[0010]优选地，当所述第一端口名称与所述第二端口名称有差异时，提示错误并将有差异的端口名称输出还包括：当所述待检查电路与所述待检查LEF文件中的端口名称数量不相等时，在输出的对比结果中使用空白格替代缺少的端口名称。
[0011]优选地，当所述第一端口名称与所述第二端口名称有差异时，提示错误并将有差异的端口名称输出还包括：根据输出的有差异的端口名称对应修改所述待检查电路中的端口信息或修改所述待检查LEF文件中的端口信息。
[0012]本专利技术技术方案通过将待检查电路及其生成的待检查LEF文件中的端口名称进行一一对比，可快速准确地找出电路与LEF文件中端口信息的差异，提高了数据的可靠性和可执行性，使得后续工作能准确快速地完成。
附图说明
[0013]图1为本专利技术电路端口信息检查方法的流程示意图。
[0014]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
[0015]具体实施方式
[0016]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0017]下面结合附图对本专利技术进一步说明。
[0018]一种电路端口信息检查方法，如图1所示，包括以下步骤：将待检查电路对应的待检查LEF文件在所述待检查电路的界面打开。
[0019]在集成电路领域中，待检查电路为研发工作人员根据研发需求绘制的电路图，研发工作人员再根据该电路图绘制出对应的集成电路版图，通过EDA工具可将集成电路版图生成LEF文件。将本专利技术的电路端口信息检查方法生成脚本程序，并在待检查电路界面执行该脚本程序，并写入待检查LEF文件的地址，以将待检查LEF文件在待检查电路的界面打开。
[0020]提取所述待检查电路中所有端口信息的第一端口名称；提取所述待检查LEF文件中所有端口信息的第二端口名称。
[0021]端口信息包括端口名称、端口位置、层定义和通孔定义等。在本实施例中，主要通过提取端口信息中的端口名称，以检查生成的LEF文件中端口名称与电路图存在的差异。
[0022]将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式。将待检查电路中的端口名称和待检查LEF文件中的端口名称进行统一格式，以便后续的对比。
[0023]优选地，所述将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式还包括：将所述第一端口名称中命名规则相同的同一组端口进行拆分命名，并按照由小到大的顺序进行排序。
[0024]在具体实施例中，待检查电路中的第一端口名称的命名规则包括：由英文字母和/或数字和/或字符等组成的单个端口名称，如PU1、SH_AON、DC_AON、B<0>等；由相同命名规则组成的一组端口名称X<NO.：0>，如A<2：0>，表示由A<0>、A<1>、A<2>三个端口组成的一组端口名称，该三个端口名称的大小关系根据该端口名称中括号内的数字大小进行判断。
[0025]优选地，所述将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式还包括：将所述第一端口名称中带尖括号的端口名称中的尖括号替换为方括号。
[0026]在具体实施例中，将待检查电路中如A<0>、A<1>、A<2>等方式命名的端口名称修改为A[0]、A[1]、A[2]。待检查电路中端口名称使用尖括号进行命名，而待检查LEF文件中的端口名称使用方括号进行命名，将两者格式统一可方便后续比较。
[0027]将所述第一端口名称与所述第二端口名称按照同一种排序规则进行排序，并分别保存。由于端口名称的命名包括数字、英文字母，数字可以由大到小或由小到大排序，而英文字母也可根据字母表顺序进行排序，将第一端口名称和第二端口名称按照同一种排序规则进行排序可方便两者的比较。
[0028]优选地，所述将所述第一端口名称与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路端口信息检查方法，其特征在于，包括以下步骤：将待检查电路对应的待检查LEF文件在所述待检查电路的界面打开；提取所述待检查电路中所有端口信息的第一端口名称；提取所述待检查LEF文件中所有端口信息的第二端口名称；将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式；将所述第一端口名称与所述第二端口名称按照同一种排序规则进行排序，并分别保存；将排序后的端口名称进行一一对比，并输出对比结果：当所述第一端口名称与所述第二端口名称完全一致时，输出检查通过；当所述第一端口名称与所述第二端口名称有差异时，提示错误并将有差异的端口名称输出。2.根据权利要求1所述的电路端口信息检查方法，其特征在于，所述将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式还包括：将所述第一端口名称中命名规则相同的同一组端口进行拆分命名，并按照由小到大的顺序进行排序。3.根据权利要求2所述的电路端口信息检查方法，其特征在于，所述将所述第一端口名称的格式转换为所述第二端口名称的格式还包括：将所述第一端口名称中带尖括号的端口名称中的尖括号替换为方括号。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓鹏辉，
申请(专利权)人：成都锐成芯微科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：