一种用于光盘尺寸检测的定位工装及装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及公差检测技术领域，更具体地，涉及一种用于光盘尺寸检测的定位工装及装置。用于解决在测量光盘尺寸过程中，定位和固定光盘时，速度慢、效果差以及不能批量测量的问题。此种用于光盘尺寸检测的定位工装，包括底板和限位块，所述限位块设置在底板的上方；所述底板上设置有中心孔和吸附通道，所述吸附通道围绕所述中心孔外侧一周，所述底板的侧面设置有第一接口；所述吸附通道向上设置有开口，并向侧面连通所述第一接口。通过上述技术方案，以在测量光盘尺寸时，能快速有效的定位及固定光盘，并进行批量检测的技术效果。并进行批量检测的技术效果。并进行批量检测的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光盘尺寸检测的定位工装及装置


[0001]本技术涉及公差检测
，更具体地，涉及一种用于光盘尺寸检测的定位工装及装置。

技术介绍

[0002]二次元测量仪是用来测量产品或模具的尺寸的，或者说是用来测量被测要素的形位公差，如位置度、同心度、直线度轮廓度、圆度和与基准有关的尺寸等，二次元主要用于较溥产品(如弹片)及较小产品的二维：平面检测或其它工件的二维投影检测。目前二次元测量设备在测量产品时，产品在平台上的位置不能固定，以至于测量的结果不准确；对于产品大、尺寸要求严的产品需要以一边为基准来进行测试，由于产品较多需要每个产品分别对基准用二次元进行测试。操作复杂，严重影响测试效率。
[0003]现有的圆环工件定位测量，一般采用定位导向轴插入工件内孔后，4个测头与工件外表面接触，旋转工件测量内外径尺寸，现有技术中用夹子夹住工件旋转，夹子夹会损坏工件表面，夹子定位不准、测量不准。本技术应用于在使用二次元测量仪对光盘进行外形尺寸检测时，对光盘进行快速有效的定位及固定，使二次元测量仪自动对光盘进行批量测量，提高测量效率及准确性。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光盘尺寸检测的定位工装，其特征在于，包括底板(1)和限位块(2)，所述限位块(2)设置在底板(1)的上方；所述底板(1)上设置有中心孔(5)和吸附通道(4)，所述吸附通道(4)围绕所述中心孔(5)外侧一周，所述底板(1)的侧面设置有第一接口(3)；所述吸附通道(4)向上设置有开口，并向侧面连通所述第一接口(3)。2.根据权利要求1所述的一种用于光盘尺寸检测的定位工装，其特征在于，所述开口为一个环形开口或间隔的多个孔洞，所述环形与所述中心孔(5)为同心圆或所述孔洞的数量为3个以上。3.根据权利要求1所述的一种用于光盘尺寸检测的定位工装，其特征在于，所述限位块(2)包括第一限位块和第二限位块，所述第一限位块和第二限位块以所述中心孔(5)为对称中心呈中心对称设置。4.根据权利要求3所述的一种用于光盘尺寸检测的定位工装，其特征在于，所述第一限位块和第二限位块之间的区域未完全覆盖被检测的光盘。5.根据权利要求4所述的一种用于光盘尺寸检测的定位工装，其特征在于，所述区域包括一组直线对边和一组弧线对边，所述直线对边互相平行，所述第一限位块和第二限位块分别设置在所述弧线对边上。6.根据权利要求3所述的一种用于光盘尺寸检测的定位工装，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑穆，罗铁威，
申请(专利权)人：广东紫晶信息存储技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：