一种SAT分析芯片中的3DX-ray制造技术

技术编号:28166943 阅读:213 留言:0更新日期:2021-04-22 01:29
本实用新型专利技术公开了一种SAT分析芯片中的3DX

【技术实现步骤摘要】
一种SAT分析芯片中的3DX

ray


[0001]本技术涉及芯片制造领域,尤其涉及一种SAT分析芯片中的3DX

ray。

技术介绍

[0002]3DX

RAY是近几年才兴起的一种新型测试技术,这种技术就是截面成像技术和断层扫描CT技术两种又分为在线3DX

RAY和离线3DX

RAY.X

RAY技术己从以往的2D检验法发展到目前的3D检验法.2DX

RAY为透射X射线检验法,对于单面板上的元件焊点可产生清晰的视像。
[0003]现存在的问题:
[0004]机器在工作时会产生热量,因为是很精密的仪器,如果不及时扇热,可能会对内部的元器件产生损伤。
[0005]机器在工作的过程中会产生震动,目前的机器没有一个很好的防震结构,会对工作中的机器产生影响。

技术实现思路

[0006]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种SAT分析芯片中的3DX<br/>‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SAT分析芯片中的3DX

ray,包括机体(1),所述机体(1)的前端设置有显示窗口(2),所述显示窗口(2)前端设置有功能按钮(3),所述显示窗口(2)的一侧设置有调节旋钮(7),其特征在于:所述机体(1)的上端连接有警示灯(10),所述显示窗口(2)下端设置有把手(4),所述机体(1)的底部连接有底座(6),所述底座(6)的下方连接有支撑块(5),所述机体(1)的后端设置有水管(9),所述水管(9)的四周设置有固定扣(12),所述底座(6)的内部设置有弹簧(11),所述机体(1)的一侧设置有风扇(8),所述风扇(8)的后端设置有固定装置(14),所述固定装置(14)的底部设置有电机(13)。2.根据权利要求1所述的一种SAT分析芯片中的3DX

ray,其特征在于:所述机体(1)与显示窗口(2)固定连接,所述显示窗口(2)的材质为玻璃。3.根据权利要求1所述的一种SAT分析芯片中的3DX

ray,其特征在于:所述功能按钮(3)与显示窗口(2)的前端固定连接,所述功能按钮(3)的数量为若干个,所述警示灯(10)与机体(1)旋转连...

【专利技术属性】
技术研发人员:戴帅
申请(专利权)人:深圳市立恩检测有限公司
类型:新型
国别省市:

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