【技术实现步骤摘要】
一种接线座多点位测试装置
[0001]本技术涉及检测
,具体涉及一种接线座多点位测试装置。
技术介绍
[0002]探针是电测试的接触媒介,为高端精密型电子五金元器件。现有探针结构一般都具有导电套管及设置在导电套管内的弹簧和导电探针,其中导电探针的一端裸露在导电套管外部,用以与待测产品接触。
[0003]在通过接线座进行导线的连接时,往往需要对导电体进行导电性能的测试,一般会采用探针对连接座进行多点位的测试;在探针的使用中,如果探针的长度过长会导致电流通过的路径较长,电阻变大,从而使得检测精度降低,因此为了保证一定的测量精度,需要使探针长度尽可能短。
[0004]然而在多个探针对多个测试点进行同时测试时,由于测试点的测试高度可能存在着不一致的情况,因此探针会通过导电探针与弹簧的配合来适应测试高度的不同,但由于探针的导电套管一般是固定的,这样会使得多个探针之间的整体长度不一致,如此会影响各个测试点的检测精度。
技术实现思路
[0005](一)解决的技术问题
[0006]本技术提供了一种接 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种接线座多点位测试装置,其特征在于,包括探针基板(1),所述探针基板(1)内设有槽腔(101),所述槽腔(101)内设有多个探针(2),多个所述探针(2)均可伸缩于所述槽腔(101)内,所述槽腔(101)内设有多组滑槽(3),多组所述滑槽(3)与多个所述探针(2)一一对应设置,所述探针(2)与所述滑槽(3)滑动连接;所述探针(2)包括导电套管(201)和与所述导电套管(201)连接的导电探针(202),所述导电套管(201)上设有弹簧(4),所述弹簧(4)的活动方向与所述探针(2)的活动方向一致。2.根据权利要求1所述的一种接线座多点位测试装置,其特征在于,每组所述滑槽(3)包括两个对称设于所述探针(2)两侧的所述滑槽(3),所述导电套管(201)对应两个所述滑槽(3)的位置均设有滑轴(5),所述导电套管(201)通过两个所述滑轴(5)滑动连接于两个所述滑槽(3)之间。3.根据权利要求2所述的一种接线座多点位测试装置,其特征在于,所述弹簧(4)的数量为两个,且分别对应设于两个所述滑槽(3)内,所述弹簧(4)的一端连接于所述滑轴(5),另一端连接于所述滑槽(3)远离所述滑轴(5)的一侧,所述...
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