本实用新型专利技术公开了一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置，包括测试板，测试板上设置有IPS液晶屏，IPS液晶屏的底端连接有驱动IC，驱动IC远离IPS液晶屏的一端连接FPC，FPC的底端连接有转接板，转接板的一侧通过电源线连接有电源模块，电源模块远离转接板的一侧连接有发光二极管，发光二极管的一端通过电源线连接有检测表笔，IPS液晶屏的底部一侧设置有点银浆。有益效果：通过检测电路及检测表笔，可快速检测IPS液晶屏上银浆是否将ITO屏蔽地层与FPC地层导通，从而有效提高产品的可靠性及生产效率，保证了IPS液晶屏的质量。保证了IPS液晶屏的质量。保证了IPS液晶屏的质量。
【技术实现步骤摘要】
一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置
[0001]本技术涉及显示屏检测设备
，具体来说，涉及一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置。
技术介绍
[0002]目前基于IPS技术的显示屏为了防止生产和使用过程中产生的静电问题， IPS显示屏在上玻璃基板表面会镀一层ITO薄膜，IPS显示屏模组驱动芯片的地会与ITO屏蔽地层通过导电材料连接起来，IPS显示屏模组驱动芯片的地又和FPC上的地是连接在一起的。为了使ITO上的屏蔽地层与驱动芯片上的地连通，在液晶模组的制造中，前段一般采用点银浆工艺以达到该目的，且产品需要100％进行银浆测试，传统的测试装置结构复杂，需要专业人员操作才可完成检测作业。
[0003]针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
[0004]针对相关技术中的问题，本技术提出一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。
[0005]为此，本技术采用的具体技术方案如下：
[0006]一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置，包括测试板，测试板上设置有IPS液晶屏，IPS液晶屏的底端连接有驱动IC，驱动IC远离IPS液晶屏的一端连接FPC，FPC的底端连接有转接板，转接板的一侧通过电源线连接有电源模块，电源模块远离转接板的一侧连接有发光二极管，发光二极管的一端通过电源线连接有检测表笔，IPS液晶屏的底部一侧设置有点银浆。
[0007]进一步的，IPS液晶屏包括下基板，下基板的顶端设置有液晶层，液晶层的顶端设置有遮光片，遮光片的顶端设置有上基板。
[0008]进一步的，为了起到稳固结构、保护元器件的作用，在一定程度上延长该装置的使用寿命，测试板上且位于IPS液晶屏的两侧对称设置有滑槽，滑槽内均设置有滑块，滑块上设置有旋钮，滑块朝向IPS液晶屏的一侧均设置有固定板，测试板上且位于滑槽的下方设置与若干卡槽。
[0009]进一步的，为了降压电路功耗小、效率高，能够将40V以下的输入电压稳定输出到5V，电源模块的内部设置有降压电路和稳压电路，降压电路包括芯片U1、开关S1、接口JK1、电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容 C5、二极管D1、二极管D2、电感L1及电阻R1；芯片U1上设置有引脚1、引脚2、引脚3、引脚4、引脚5及引脚6；接口JK1的一端和开关S1连接，接口JK1的另一端接地，开关S1的另一端分别与电容C1和电容C2及引脚1 连接，电容C1与电容C2的另一端均接地，引脚2分别与二极管D1和电感 L1的一端连接，电感L1的另一端分别与电容C3和电容C4连接，电容C3的另一端与电容C4连接，二极管D1的另一端分别与引脚3和引脚6连接，电容C4的一端与电阻R1，电容C4的另一端二极管D2连接，电阻R1的另一端与电容C5连
接，电容C5的另一端与二极管D2的另一端连接，引脚4与电感L1的一端连接，引脚5接地。
[0010]进一步的，为了提高该测试装置工作时的可靠性，稳压电路包括芯片U2、电容C6及电容C7，芯片U2上设置有引脚7、引脚8及引脚9；引脚7接地，引脚9与引脚2连接，电容C6的一端和电容C7的一端连接，电容C6和电容 C7的另一端均接地。
[0011]本技术的有益效果为：
[0012](1)、本技术通过检测电路及检测表笔，可快速检测IPS液晶屏上银浆是否将ITO屏蔽地层与FPC地层导通，无需专业人员操作只需通过观察发光二极管是否点亮即可判断通断，从而使操作简单，有效提高产品的可靠性及生产效率，保证了IPS液晶屏的质量。
[0013](2)、通过设置滑槽与滑块相配合，可以对不同尺寸的IPS液晶屏进行固定，以便于检测IPS液晶屏点银浆作业后的质量，同时采用卡槽来固定该装置的部件，起到了稳固结构，保护元器件的作用，在一定程度上可以延长该装置的使用寿命。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1是根据本技术实施例的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置的结构示意图；
[0016]图2是图1中A处的局部放图；
[0017]图3是根据本技术实施例的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置的IPS液晶屏的结构示意图；
[0018]图4是根据本技术实施例的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置的降压电路的电路图；
[0019]图5是根据本技术实施例的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置的稳压电路的电路图。
[0020]图中：
[0021]1、测试板；2、IPS液晶屏；201、下基板；202、液晶层；203、遮光片； 204、上基板；3、驱动IC；4、FPC(柔性电路板)；5、转接板；6、电源模块；7、发光二极管；8、检测表笔；9、点银浆；10、滑槽；11、滑块； 12、旋钮；13、固定板；14、卡槽。
具体实施方式
[0022]为进一步说明各实施例，本技术提供有附图，这些附图为本技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理，配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本技术的优点，图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
[0023]根据本技术的实施例，提供了一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置。
[0024]现结合附图和具体实施方式对本技术进一步说明，如图1
‑
5所示，根据本技术实施例的用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置，包括测试板1，测试板1上设置有IPS
液晶屏2，IPS液晶屏2的底端连接有驱动IC3，驱动IC3远离IPS液晶屏2的一端连接FPC4，FPC4的底端连接有转接板5，转接板5的一侧通过电源线连接有电源模块6，电源模块6远离转接板5的一侧连接有发光二极管7，发光二极管7的一端通过电源线连接有检测表笔8，IPS 液晶屏2的底部一侧设置有点银浆9。
[0025]借助于上述方案，通过检测电路及检测表笔，可快速检测IPS液晶屏上银浆是否将ITO屏蔽地层与FPC地层导通，从而有效提高产品的可靠性及生产效率，保证了IPS液晶屏的质量。
[0026]在一个实施例中，IPS液晶屏2包括下基板201，下基板201的顶端设置有液晶层202，液晶层202的顶端设置有遮光片203，遮光片203的顶端设置有上基板204。
[0027]在一个实施例中，测试板1上且位于IPS液晶屏2的两侧对称设置有滑槽 10，滑槽10内均设置有滑块11，滑块11上设置有旋钮12，滑块11朝向IPS 液晶屏2的一侧均设置有固定板13，测试板本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置，其特征在于，包括测试板(1)，所述测试板(1)上设置有IPS液晶屏(2)，所述IPS液晶屏(2)的底端连接有驱动IC(3)，所述驱动IC(3)远离所述IPS液晶屏(2)的一端连接FPC(4)，所述FPC(4)的底端连接有转接板(5)，所述转接板(5)的一侧通过电源线连接有电源模块(6)，所述电源模块(6)远离所述转接板(5)的一侧连接有发光二极管(7)，所述发光二极管(7)的一端通过电源线连接有检测表笔(8)，所述IPS液晶屏(2)的底部一侧设置有点银浆(9)。2.根据权利要求1所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置，其特征在于，所述IPS液晶屏(2)包括下基板(201)，所述下基板(201)的顶端设置有液晶层(202)，所述液晶层(202)的顶端设置有遮光片(203)，所述遮光片(203)的顶端设置有上基板(204)。3.根据权利要求1所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置，其特征在于，所述测试板(1)上且位于所述IPS液晶屏(2)的两侧对称设置有滑槽(10)，所述滑槽(10)内均设置有滑块(11)，所述滑块(11)上设置有旋钮(12)，所述滑块(11)朝向所述IPS液晶屏(2)的一侧均设置有固定板(13)。4.根据权利要求3所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置，其特征在于，所述测试板(1)上且位于所述滑槽(10)的下方设置与若干卡槽(14)。5.根据权利要求1所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖卿侠，罗教平，
申请(专利权)人：深圳市天正达电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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