【技术实现步骤摘要】
一种双能量X射线安全检查设备的物质分类方法
[0001]本专利技术涉及图像处理
,尤其涉及一种双能量X射线安全检查设备的物质分类方法。
技术介绍
[0002]传统安检机的运行速度是0.22米/秒,高速安检机一般会在2.5米/秒以上,是传统安检机的10倍以上。所以,高速安检机在单位时间需要处理的图像数据也是传统安检机的10倍以上,使用传统的图像伪彩色上色方法需要进行计算每一点的物质分界点,大量使用计算资源,使得安检机伪彩色上色较慢,同时传统的伪彩色分界点计算不够准确,造成安检机图像伪彩色上色错误,影响包裹图像的展示和人员的准确判断。
技术实现思路
[0003]有鉴于此,须提供一种判读效率高、效果好的物质分类方法,以便设备能准确判断物质类别进行上色,提高物品识别准确率。
[0004]本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的,一种双能量X射线安全检查设备的物质分类方法,包括:1)利用双能量X射线安全检查设备分别对不同厚度的有机玻璃、铝、低碳钢标定块进行扫描,采集探测板所接收每种标定块的像素点数据。< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种双能量X射线安全检查设备的物质分类方法,其特征在于,包括以下步骤:1)利用双能量X射线安全检查设备分别对不同厚度的多个有机玻璃、铝、低碳钢标定块进行扫描,采集探测板所接收每种标定块的像素点数据;2)以像素点的低能值为横坐标,高能值为纵坐标,分别对所述每种标定块的像素点数据进行曲线拟合;3)确定有机物和混合物的边界曲线为:f(x)
1 = k
1 * f(x)
pmma + k
2 * f(x)
Al
,其中k
1 * 6.5 + k
2 * 13 = 10,k
1 + k
2 = 1;确定无机物和混合物的边界曲线为:f(x)
2 = k
3 * f(x)
Fe + k
4 * f(x)
Al
,其中k
3 * 26 + k
4 * 13 = 18,k
3 + k
4 = 1;4)建立边界曲线的过渡区域;确定有机物上界曲线为μ
o
=(1
‑
s1)* f(x)1;混合物下界曲线为μ
m1
=(1+s1)* f(x)1;混合物上界曲线为μ
m2
=(1
‑
s2)* f(x)2;无机物下界曲线为μ
ino
=(1+s1)* f(x...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴小洲,潘伟航,刘飞,
申请(专利权)人:浙江啄云智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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