【技术实现步骤摘要】
SPI双沿采样方法
[0001]本专利技术属于数据采样
,涉及一种采样方法,尤其涉及一种SPI双沿采样方法。
技术介绍
[0002]SPI是串行外设的接口(Serial Peripheral Interface)。广泛的应用于各种芯片间的全双工数据传输,常规SPI速率在5MHZ~30MHZ左右,目前常用来作为芯片的读写配置总线使用。标准SPI接口有两种总线模式,分为3线模式和4线模式,以主从方式工作。4线模式和3线模式的区别在于数据总线使用的是输入输出独立总线或者一根双向总线来使用,常规4线SPI包含:MISO
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Master Input Slave Output,主设备数据输入;MOSI
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Master Output Slave Input,主设备数据输出;SCLK
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Serial Clock,时钟信号,主设备产生;CS
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Chip Select,从设备使能信号,也称之为片选信号,主设备产生。常规使用时当CS信号产生时,每个SCLK下降沿(参见图1)或上升沿(参见图2)对应的数据总线都是有效的传输内容。这里需要注意的是SCLK和数据的对齐关系不同的厂家使用的方式往往是不同的,需要解读各个厂家提供的芯片数据手册来确认SPI沿触发的方向。由于业内芯片的种类繁多各家使用的沿对齐方案不同,所以在常规使用时需要关注SCLK和数据的沿对齐规则,根据时钟对齐规则来设计沿触发的方向,在一个庞大的项目中需要消耗许多研发时间来确认此处是否满足要求。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种SPI双沿采样方法,其特征在于:所述SPI双沿采样方法包括以下步骤:1)对一个原始时钟做2分频处理,得到时钟A以及时钟B,所述时钟...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵新星,关哲野,
申请(专利权)人:西安富成防务科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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