一种霍尔芯片老化测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种霍尔芯片老化测试装置，属于芯片测试用设备技术领域。一种霍尔芯片老化测试装置，包括壳体，壳体内设有老化测试机构，壳体后端面左右两侧均设有转动柱，转动柱圆周外壁中部固设有第一转动板，转动柱圆周外壁后部内侧固设有弧形齿条，转动柱前端贯穿壳体后端面延伸至壳体内部并固设有连接板，连接板前端面上侧转动连接有支撑板，壳体内壁中部设有盒体，盒体内壁底面设有呈倾斜结构设置的斜坡，斜坡顶面左侧设有固定板，固定板右侧设有变温组件。本发明专利技术为一体式结构设计，工作人员将霍尔芯片放置好后，可直接对待测霍尔芯片进行老化测试，一方面提高了测试效率，另一方面也避免了多次取出和放置老化测试机构对芯片造成损坏。片造成损坏。片造成损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种霍尔芯片老化测试装置


[0001]本专利技术涉及芯片测试用设备
，更具体地说，涉及一种霍尔芯片老化测试装置。

技术介绍

[0002]霍尔芯片是一种基于霍尔效应的磁传感器。用它们可以检测磁场及其变化，可在各种与磁场有关的场合中使用。霍尔芯片具有许多优点，它们的结构牢固，体积小，重量轻，寿命长，安装方便，功耗小，频率高(可达1MHZ)，耐震动，不怕灰尘、油污、水汽及盐雾等的污染或腐蚀。为了保证霍尔芯片在使用时能够安全稳定的运行，工作人员需要在霍尔芯片上市前对其进行老化测试，因此霍尔芯片制造商经常需要用到霍尔芯片老化测试装置。现有技术公开号为CN111665433A的专利文献提供了一种霍尔芯片老化测试装置及测试方法，该装置存在下列问题：1、当使用该装置对霍尔芯片进行多种环境下的老化测试时，必须人工将本装置放置进高低温湿度箱内，首先当待测芯片数量较多时，这种方式效率低下，增加了工作人员的工作强度；2、该装置在将装有待测霍尔芯片的该装置放置和取出于高低温湿度箱内的过程中，容易造成芯片损坏；3、该装置在进行高温条件下的老化测试时，工作人员取出该装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种霍尔芯片老化测试装置，包括壳体(1)，所述壳体(1)内设有老化测试机构(23)，其特征在于：所述壳体(1)上端面左右两侧均滑动连接有U形门板(3)，左侧的所述U形门板(3)顶面外侧设有U形拉手(5)，所述壳体(1)右端面中部后侧固设有电源箱(27)，所述电源箱(27)内设有电源及控制器，所述壳体(1)底面四角处均设有万向轮(4)，所述壳体(1)后端面左右两侧均设有转动柱(12)，所述转动柱(12)圆周外壁中部固设有第一转动板(8)，所述转动柱(12)圆周外壁后部内侧固设有弧形齿条(15)，所述转动柱(12)前端贯穿壳体(1)后端面延伸至壳体(1)内部并固设有连接板(16)，所述连接板(16)前端面上侧转动连接有支撑板(10)，所述支撑板(10)前端面上部外侧固设有连接柱(20)，所述第一转动板(8)外侧设有第二转动板(7)，所述壳体(1)后端面中部固设有限位套(18)，所述限位套(18)圆周内壁后侧滑动连接有导杆(17)，所述壳体(1)内壁中部设有盒体(2)，所述盒体(2)前后左右四侧中部均设有空腔(201)，所述空腔(201)内设有电热丝(26)，所述盒体(2)内壁底面设有呈倾斜结构设置的斜坡(202)，所述斜坡(202)顶面左侧设有固定板(22)，所述老化测试机构(23)位于固定板(22)顶面，所述固定板(22)顶面中部设有温度计(24)，所述温度计(24)右侧设有湿度计(25)，所述固定板(22)右侧设有变温组件(6)，所述斜坡(202)顶面右侧前后两部均开设有定位槽(203)，所述斜坡(202)终止侧中部设有贯穿盒体(2)及斜坡(202)的出水管(21)，所述出水管(21)下端连接有金属软管(9)，所述金属软管(9)下端连接有排水管(11)，所述排水管(11)左端贯穿壳体(1)左端面中部并延伸至外部，所述排水管(11)圆周内壁左侧螺纹连接有管塞(14)。2.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片老化测试装置，其特征在于：所述第二转动板(7)前端面上侧及第一转动板(8)前端面上侧均与相对应的U形门板(3)后端面转动连接，所述转动柱(12)圆周外壁前侧与壳体(1)后侧中部内壁转动连接，所述所述第二转动板(7)前端面下侧与壳体(1)后端面转动连接，所述连接柱(20)前端面与盒体(2)后端面中部转动连接，右侧的所述弧形齿条(15)与左侧的弧形齿条(15)啮合连接，所述壳体(1)前侧及盒体(2)前侧均为透明材质制成。3.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片老化测试装置，其特征在于：所述壳体(1)内壁底面...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗学杰，
申请(专利权)人：罗学杰，
类型：发明
国别省市：