本发明专利技术公开了一种霍尔芯片老化测试装置，属于芯片测试用设备技术领域。一种霍尔芯片老化测试装置，包括壳体，壳体内设有老化测试机构，壳体后端面左右两侧均设有转动柱，转动柱圆周外壁中部固设有第一转动板，转动柱圆周外壁后部内侧固设有弧形齿条，转动柱前端贯穿壳体后端面延伸至壳体内部并固设有连接板，连接板前端面上侧转动连接有支撑板，壳体内壁中部设有盒体，盒体内壁底面设有呈倾斜结构设置的斜坡，斜坡顶面左侧设有固定板，固定板右侧设有变温组件。本发明专利技术为一体式结构设计，工作人员将霍尔芯片放置好后，可直接对待测霍尔芯片进行老化测试，一方面提高了测试效率，另一方面也避免了多次取出和放置老化测试机构对芯片造成损坏。片造成损坏。片造成损坏。
【技术实现步骤摘要】
一种霍尔芯片老化测试装置
[0001]本专利技术涉及芯片测试用设备
，更具体地说，涉及一种霍尔芯片老化测试装置。
技术介绍
[0002]霍尔芯片是一种基于霍尔效应的磁传感器。用它们可以检测磁场及其变化，可在各种与磁场有关的场合中使用。霍尔芯片具有许多优点，它们的结构牢固，体积小，重量轻，寿命长，安装方便，功耗小，频率高(可达1MHZ)，耐震动，不怕灰尘、油污、水汽及盐雾等的污染或腐蚀。为了保证霍尔芯片在使用时能够安全稳定的运行，工作人员需要在霍尔芯片上市前对其进行老化测试，因此霍尔芯片制造商经常需要用到霍尔芯片老化测试装置。现有技术公开号为CN111665433A的专利文献提供了一种霍尔芯片老化测试装置及测试方法，该装置存在下列问题：1、当使用该装置对霍尔芯片进行多种环境下的老化测试时，必须人工将本装置放置进高低温湿度箱内，首先当待测芯片数量较多时，这种方式效率低下，增加了工作人员的工作强度；2、该装置在将装有待测霍尔芯片的该装置放置和取出于高低温湿度箱内的过程中，容易造成芯片损坏；3、该装置在进行高温条件下的老化测试时，工作人员取出该装置时也很有可能被高低温湿度箱烫伤。鉴于此，我们提出一种霍尔芯片老化测试装置。
技术实现思路
[0003]1.要解决的技术问题
[0004]本专利技术的目的在于提供一种霍尔芯片老化测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]2.技术方案
[0006]一种霍尔芯片老化测试装置，包括壳体，所述壳体内设有老化测试机构，所述壳体上端面左右两侧均滑动连接有U形门板，左侧的所述U形门板顶面外侧设有U形拉手，所述壳体右端面中部后侧固设有电源箱，所述电源箱内设有电源及控制器，所述壳体底面四角处均设有万向轮，所述壳体后端面左右两侧均设有转动柱，所述转动柱圆周外壁中部固设有第一转动板，所述转动柱圆周外壁后部内侧固设有弧形齿条，所述转动柱前端贯穿壳体后端面延伸至壳体内部并固设有连接板，所述连接板前端面上侧转动连接有支撑板，所述支撑板前端面上部外侧固设有连接柱，所述第一转动板外侧设有第二转动板，所述壳体后端面中部固设有限位套，所述限位套圆周内壁后侧滑动连接有导杆，所述壳体内壁中部设有盒体，所述盒体前后左右四侧中部均设有空腔，所述空腔内设有电热丝，所述盒体内壁底面设有呈倾斜结构设置的斜坡，所述斜坡顶面左侧设有固定板，所述老化测试机构位于固定板顶面，所述固定板顶面中部设有温度计，所述温度计右侧设有湿度计，所述固定板右侧设有变温组件，所述斜坡顶面右侧前后两部均开设有定位槽，所述斜坡终止侧中部设有贯穿盒体及斜坡的出水管，所述出水管下端连接有金属软管，所述金属软管下端连接有排水管，
所述排水管左端贯穿壳体左端面中部并延伸至外部，所述排水管圆周内壁左侧螺纹连接有管塞。
[0007]优选地，所述第二转动板前端面上侧及第一转动板前端面上侧均与相对应的U形门板后端面转动连接，所述转动柱圆周外壁前侧与壳体后侧中部内壁转动连接，所述所述第二转动板前端面下侧与壳体后端面转动连接，所述连接柱前端面与盒体后端面中部转动连接，右侧的所述弧形齿条与左侧的弧形齿条啮合连接，所述壳体前侧及盒体前侧均为透明材质制成。
[0008]优选地，所述壳体内壁底面左右两侧均设有第一弹簧，所述第一弹簧上端与盒体下端面活动接触。
[0009]优选地，所述限位套内壁后端面中部固设有第二弹簧，所述第二弹簧后端与导杆前端面中部连接固定，所述导杆后端呈倒角形结构设置。
[0010]优选地，右侧的所述U形门板内端面中部设有凸形密封塞，左侧的所述U形门板内端面中部开设有与凸形密封塞相适配的凸形密封环，所述凸形密封塞外壁与凸形密封环内壁活动接触。
[0011]优选地，所述变温组件包括固设于斜坡顶面右侧上方的变温盒以及固设于斜坡顶面中部的支撑块，所述变温盒底面前后两侧均设有定位块，所述定位块外壁与定位槽内壁活动接触。
[0012]优选地，所述变温盒顶面左侧设有顶板，所述顶板右端铰接有盒盖，所述盒盖顶面右侧中部设有把手，所述顶板顶面中后部固设有连接盒，所述连接盒后端面中部固设有电机箱，所述电机箱内设有电动机，所述电动机输出轴端部连接有转轴，所述转轴贯穿连接盒前端面并延伸至连接盒内部，所述转轴圆周外壁前侧呈环形等间距设有多个呈倾斜结构设置的叶片。
[0013]优选地，所述连接盒前端面中部设有L形吸收管，所述L形吸收管下端贯穿顶板顶面并延伸至变温盒内部，所述连接盒左端面中部设有Z形输出管，所述Z形输出管外壁下侧与支撑块顶面活动接触，所述Z形输出管左端连接有布液管，所述布液管左端面中部呈线性等间距设有多个分流管，所述分流管左端连接有球形喷嘴，所述球形喷嘴圆周外壁左侧密布有多个贯穿球形喷嘴外壁的通水孔，所述球形喷嘴内部设有滚球，所述变温盒内壁左侧设有分隔网。
[0014]3.有益效果
[0015]相比于现有技术，本专利技术的优点在于：
[0016]1、本专利技术通过设置在壳体内的老化测试机构，壳体内壁中部的盒体，盒体前后左右四侧中部的空腔，空腔内的电热丝，固定板右侧的变温组件之间的配合，使本装置为一体式结构设计，工作人员将霍尔芯片放置好后，可直接对待测霍尔芯片进行老化测试，一方面减轻了工作人员的劳动强度，提高了测试效率，另一方面也避免了多次取出和放置老化测试机构对芯片造成损坏。
[0017]2、本专利技术通过设置在左侧的U形门板顶面外侧的U形拉手，转动柱圆周外壁中部的第一转动板，转动柱圆周外壁后部内侧的弧形齿条，连接板前端面上侧的支撑板，支撑板前端面上部外侧的连接柱以及支撑板前端面上部外侧的连接柱之间的配合，由工作人员手持U形拉手并向左侧拉动，U形门板向两侧分开的同时，无需工作人员用手触碰，支撑板即可将
盒体向上顶起，避免工作人员在对霍尔芯片进行高温老化测试时遭到烫伤。
[0018]3、本专利技术通过设置在壳体底面四角处的万向轮，便于工作人员对本装置进行移动，使工作人员便于在任意指定位置对霍尔芯片进行老化测试。
[0019]4、本专利技术通过设置在电机箱内的电动机，电动机输出轴端部的转轴，转轴圆周外壁前侧呈环形等间距的多个叶片，连接盒前端面中部的L形吸收管以及连接盒左端面中部的Z形输出管，在电动机的作用下，转轴带动叶片旋转，使连接盒内呈负压状态，当变温盒内放水时，Z形输出管能够将水吸出对芯片增加湿度，当变温盒内放置冰袋时，Z形输出管能够将冷空气吸出，使芯片所处环境温度降低。
[0020]5、本专利技术通过设置在壳体后端面中部的限位套，限位套圆周内壁后侧的导杆以及限位套内壁后端面中部的第二弹簧，能够在弧形齿条向外侧转动至最外侧时，对弧形齿条进行限位，从而防止升至壳体上方的盒体向下掉落，无需工作人员对盒体进行固定。
附图说明
[0021]图1为本专利技术的整体结构示意图；
[0022]图2为本专利技术的整体结构后视示意图；
[0023]图3为本专利技术中壳体剖切后的整体结构结构后视示意图；
[0024]图4为本专利技术中盒体升起时的整体结构后视示本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种霍尔芯片老化测试装置，包括壳体(1)，所述壳体(1)内设有老化测试机构(23)，其特征在于：所述壳体(1)上端面左右两侧均滑动连接有U形门板(3)，左侧的所述U形门板(3)顶面外侧设有U形拉手(5)，所述壳体(1)右端面中部后侧固设有电源箱(27)，所述电源箱(27)内设有电源及控制器，所述壳体(1)底面四角处均设有万向轮(4)，所述壳体(1)后端面左右两侧均设有转动柱(12)，所述转动柱(12)圆周外壁中部固设有第一转动板(8)，所述转动柱(12)圆周外壁后部内侧固设有弧形齿条(15)，所述转动柱(12)前端贯穿壳体(1)后端面延伸至壳体(1)内部并固设有连接板(16)，所述连接板(16)前端面上侧转动连接有支撑板(10)，所述支撑板(10)前端面上部外侧固设有连接柱(20)，所述第一转动板(8)外侧设有第二转动板(7)，所述壳体(1)后端面中部固设有限位套(18)，所述限位套(18)圆周内壁后侧滑动连接有导杆(17)，所述壳体(1)内壁中部设有盒体(2)，所述盒体(2)前后左右四侧中部均设有空腔(201)，所述空腔(201)内设有电热丝(26)，所述盒体(2)内壁底面设有呈倾斜结构设置的斜坡(202)，所述斜坡(202)顶面左侧设有固定板(22)，所述老化测试机构(23)位于固定板(22)顶面，所述固定板(22)顶面中部设有温度计(24)，所述温度计(24)右侧设有湿度计(25)，所述固定板(22)右侧设有变温组件(6)，所述斜坡(202)顶面右侧前后两部均开设有定位槽(203)，所述斜坡(202)终止侧中部设有贯穿盒体(2)及斜坡(202)的出水管(21)，所述出水管(21)下端连接有金属软管(9)，所述金属软管(9)下端连接有排水管(11)，所述排水管(11)左端贯穿壳体(1)左端面中部并延伸至外部，所述排水管(11)圆周内壁左侧螺纹连接有管塞(14)。2.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片老化测试装置，其特征在于：所述第二转动板(7)前端面上侧及第一转动板(8)前端面上侧均与相对应的U形门板(3)后端面转动连接，所述转动柱(12)圆周外壁前侧与壳体(1)后侧中部内壁转动连接，所述所述第二转动板(7)前端面下侧与壳体(1)后端面转动连接，所述连接柱(20)前端面与盒体(2)后端面中部转动连接，右侧的所述弧形齿条(15)与左侧的弧形齿条(15)啮合连接，所述壳体(1)前侧及盒体(2)前侧均为透明材质制成。3.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片老化测试装置，其特征在于：所述壳体(1)内壁底面...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗学杰，
申请(专利权)人：罗学杰，
类型：发明
国别省市：
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