一种开放仓体式CT检测设备制造技术

本发明专利技术提供一种开放仓体式CT检测设备，解决现有CT检测设备可检测零件的尺寸相对较小以及只能离线检测的问题。该开放仓体式CT检测设备包括仓体、屏蔽层、防辐射橡胶条、射线源、探测器和控制器；仓体为梯形仓体，其左侧板和右侧板沿X方向排布，且左侧板在Y方向的宽度小于右侧板在Y方向的宽度；射线源设置在左侧板上，探测器设置在右侧板上，射线源发出射线垂直于探测器，且射线源的出射中心和探测器的接收中心同轴设置；仓体的前侧板和后侧板上设置有开口，且开口处设置有多个防辐射橡胶条，用于防止辐射泄露；屏蔽层设置在仓体内，用于屏蔽射线源产生的辐射；控制器设置在仓体外侧，用于控制射线源工作状态。用于控制射线源工作状态。用于控制射线源工作状态。

【技术实现步骤摘要】
一种开放仓体式CT检测设备


[0001]本专利技术属于无损检测
，具体涉及一种开放仓体式CT检测设备。

技术介绍

[0002]工业CT是工业用计算机断层成像技术的简称，是应用于工业中的核成像技术，其基本原理是利用放射性核素或其他辐射源发射出的、具有一定能量和强度的X射线或γ射线，根据辐射在被检测物体中的减弱和吸收特性，以及辐射在被检测物体中的衰减规律及分布情况，由探测器获得物体内部的详细信息，随后采用计算机信息处理和图像重建技术，以图像形式将被检测物体的内部图像显示出来。因其在对检测物体无损伤条件下可以清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况，被誉为目前最佳无损检测和无损评估技术。
[0003]目前，工业CT多采用离线自屏蔽的方式对零件进行检测，离线检测即在零件成型后进行检测，一旦检测出缺陷就有可能使得零件报废而无法进行补救，且有可能导致整批采用相同工艺的零件报废的风险，因此在工艺流程中越早的检测出缺陷对于减少报废率是越有益的。
[0004]同时，目前采用自屏蔽方式或辐射防护室进行工业CT辐射防护设计。自屏蔽式设计，即屏蔽体与X射线探伤装置主体结构一体设计和制造，其检测器件及运动系统在屏蔽体内，屏蔽体能够将装置产生的X射线剂量减少到规定的剂量限值以下，但此种方式可检测零件的尺寸相对较小；另一种较为多用的方式为建设辐射防护室，此种方式在一定程度上增大了检测设备自由度及可检测零件的尺寸，但由于辐射防护室的造价及建造难度要远高于自屏蔽设计，且由于自屏蔽设计的灵活性要好于辐射防护室，因此目前工业CT还是多采用自屏蔽设计，而自屏蔽下的大尺寸零件检测问题是亟待解决的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是解决现有CT检测设备可检测零件的尺寸相对较小以及只能离线检测的问题，提供一种开放仓体式CT检测设备。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0007]一种开放仓体式CT检测设备，包括仓体、屏蔽层、防辐射橡胶条、射线源、探测器和控制器；设定仓体的长度方向为X方向，宽度方向为Y方向，高度方向为Z方向；所述仓体为梯形仓体，其左侧板和右侧板沿X方向排布，且左侧板在Y方向的宽度小于右侧板在Y方向的宽度；所述射线源设置在左侧板上，所述探测器设置在右侧板上，所述射线源发出射线垂直于探测器，且射线源的出射中心和探测器的接收中心同轴；所述仓体的前侧板和后侧板上设置有开口，且开口处设置有多个防辐射橡胶条，用于防止辐射泄露；所述屏蔽层设置在仓体内，用于屏蔽射线源产生的辐射；所述控制器设置在仓体外侧，用于控制射线源工作状态。
[0008]进一步地，所述屏蔽层通过屏蔽层夹紧组件设置在仓体内，所述屏蔽层夹紧组件包括夹紧架、夹紧块和夹紧锁扣；所述夹紧块设置在仓体外侧，且与仓体固定连接，其上端
设置有卡槽；所述夹紧架为L形结构，所述夹紧架的立板位于屏蔽层内侧，且与屏蔽层之间设置有夹紧板，所述夹紧架的横板设置在仓体的底端；所述夹紧锁扣包括由上至下依次连接的卡扣、操作板和旋转轴，所述卡扣与夹紧块的卡槽配合连接，所述旋转轴与夹紧架的横板铰接，所述操作板带动旋转轴旋转，使得夹紧锁扣作XZ平面内的摆动，将屏蔽层与仓体夹紧，夹紧后，将操作板固连在夹紧架的横板上。
[0009]进一步地，所述屏蔽层为铅层板。
[0010]进一步地，所述探测器通过探测器支撑组件安装在仓体内，所述探测器支撑组件包括U型支架和支撑块，所述支撑块固定设置在右侧板外侧，所述U型支架包括内侧支架、外侧支架以及连接内侧支架、外侧支架的底板，所述内侧支架设置在仓体内，与探测器连接，所述外侧支架设置在仓体外，与支撑块通过销轴铰接，且通过锁紧装置固定其位置。
[0011]进一步地，所述锁紧装置为锁紧销或顶丝，所述锁紧销穿过支撑块和销轴，对U型支架的位置进行固定，或者，所述顶丝穿过支撑块，其末端抵靠在销轴上，对销轴进行固定。
[0012]进一步地，所述仓体设置在多维运动机构上，多维运动机构能够带动仓体实现多个方向的运动。
[0013]进一步地，所述多维运动机构为四维运动机构，能够实现仓体沿XYZ三个方向的直线移动以及沿Z轴的旋转运动。
[0014]进一步地，所述防辐射橡胶条为多层设置，且相邻防辐射橡胶条错开设置。
[0015]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0016]1.本专利技术开放仓体式CT检测设备在仓体的两侧设置有开口，使得大型环形零件的部分结构位于仓体内，可以满足大型环形件及小尺寸零件的检测需要，拥有更灵活的应用场景。同时，该开放仓体式与制造设备集成在一起满足在线检测需求，具有良好的扩展性，可在制造过程中及时发现缺陷，从而降低产品制造成本，提高生产效率，最终保障产品质量。
[0017]2.本专利技术设备的仓体为梯形仓体，射线源端的安装宽度小于探测器端的安装宽度，使得射线源端可采用小型化、紧凑化设计，与探测器端形成非对称结构，相比射线源与探测器端尺寸相同的传统立方体结构，该设备具有更强的适应性，能够适配多种类型和尺寸的工件，可以适配的检测工件更为广泛。
附图说明
[0018]图1为本专利技术开放仓体式CT检测设备的结构示意图一；
[0019]图2为本专利技术开放仓体式CT检测设备的结构示意图二；
[0020]图3为本专利技术探测器支撑组件的结构示意图；
[0021]图4为本专利技术屏蔽层夹紧组件的安装示意图；
[0022]图5为本专利技术屏蔽层夹紧组件的结构示意图；
[0023]图6为本专利技术CT检测设备检测检测大型环形工件的结构示意图；
[0024]图7为本专利技术CT检测设备检测小型环形工件的示意图；
[0025]图8为本专利技术CT检测设备检测检测大型环形工件的示意图；
[0026]图9为本专利技术CT检测设备检测检测大尺寸弧形工件的示意图；
[0027]图10为本专利技术CT检测设备检测检测平板型工件的示意图；
[0028]图11为本专利技术CT检测设备检测检测小型工件的示意图。
[0029]附图标记：1
‑
仓体，2
‑
屏蔽层，3
‑
防辐射橡胶条，4
‑
射线源，5
‑
探测器，6
‑
控制器，7
‑
屏蔽层夹紧组件，8
‑
探测器支撑组件，9
‑
多维运动机构，11
‑
左侧板，12
‑
右侧板，13
‑
前侧板，14
‑
后侧板，71
‑
夹紧架，72
‑
夹紧块，73
‑
夹紧锁扣，74
‑
夹紧板，711
‑
立板，712
‑
横板，731
‑
卡扣，732
‑
操作板，733
‑
旋转轴，81
‑
U型支架，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开放仓体式CT检测设备，其特征在于：包括仓体(1)、屏蔽层(2)、防辐射橡胶条(3)、射线源(4)、探测器(5)和控制器(6)；设定仓体(1)的长度方向为X方向，宽度方向为Y方向，高度方向为Z方向；所述仓体(1)为梯形仓体，其左侧板(11)和右侧板(12)沿X方向排布，且左侧板(11)在Y方向的宽度小于右侧板(12)在Y方向的宽度；所述射线源(4)设置在左侧板(11)上，所述探测器(5)设置在右侧板(12)上，所述射线源(4)发出射线垂直于探测器(5)，且射线源(4)的出射中心和探测器(5)的接收中心同轴；所述仓体(1)的前侧板(13)和后侧板(14)上设置有开口，且开口处设置有多个防辐射橡胶条(3)，用于防止辐射泄露；所述屏蔽层(2)设置在仓体(1)内，用于屏蔽射线源(4)产生的辐射；所述控制器(6)设置在仓体(1)外侧，用于控制射线源(4)工作状态。2.根据权利要求1所述的开放仓体式CT检测设备，其特征在于：所述屏蔽层(2)通过屏蔽层夹紧组件(7)设置在仓体(1)内，所述屏蔽层夹紧组件(7)包括夹紧架(71)、夹紧块(72)和夹紧锁扣(73)；所述夹紧块(72)设置在仓体(1)外侧，且与仓体(1)固定连接，其上端设置有卡槽；所述夹紧架(71)为L形结构，所述夹紧架(71)的立板(711)位于屏蔽层(2)内侧，且与屏蔽层(2)之间设置有夹紧板(74)，所述夹紧架(71)的横板(712)设置在仓体(1)的底端；所述夹紧锁扣(73)包括由上至下依次连接的卡扣(731)、操作板(732)和旋转轴(733)，所述卡扣(731)与夹紧块(72)的卡槽配合连接，所述旋转轴(733)与夹紧架(71)的横板(712)铰接，所述操作板(732)...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵纪元，卢秉恒，杨高磊，史立超，
申请(专利权)人：西安增材制造国家研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：