用于大型对象的快速工业计算机断层扫描制造技术

本发明专利技术题为“用于大型对象的快速工业计算机断层扫描”。用于计算机断层扫描检查的系统可包括台、固定辐射源、固定辐射检测器和控制器。台可将目标固定在其上并使目标围绕旋转轴线旋转。辐射源可从焦点发射穿透辐射的光束，该光束被引导到目标的一部分上。辐射检测器可包括感测面，该感测面被配置为采集作为位置的函数的入射在其上的辐射光束强度的测量值。控制器可命令台在横向于辐射光束的中心轴线的方向上从第一位置平移到第二位置。目标在第一位置和第二位置处的放大率可大致相等。在由检测器测量辐射光束强度期间，台不横向于辐射光束的中心轴线平移。束的中心轴线平移。束的中心轴线平移。

【技术实现步骤摘要】
用于大型对象的快速工业计算机断层扫描
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2019年10月9日提交的名称为“Fast Industrial Computed Tomography For Large Objects”的美国临时专利申请62/912,698的权益，该美国临时专利申请的全文以引用方式并入。

技术介绍

[0003]非破坏性测试(NDT)是一类可用于在不引起损坏的情况下检查目标以确定被检查的目标是否符合所需规格的分析技术。NDT已在采用不易从其周围环境中去除的结构的工业(诸如航空航天、发电、石油和天然气的运输或精炼、以及运输)中得到广泛认可。
[0004]计算机断层扫描(CT)是NDT技术的一个示例。在某些具体实施中，CT可提供作为穿过目标的横截面的几何形状的函数的材料密度的定量图像。这些横截面图像可组合以产生目标的对应三维(体积)表示。
[0005]然而，现有CT系统可采集包括伪影的CT图像。伪影可指CT图像与基于目标材料的密度和目标几何形状的预期之间的任何差异。因此，仍然需要减少CT图像中伪影的出现的用于C本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种系统，所述系统包括：台，所述台被配置为将目标固定在其上并使所述目标围绕旋转轴线旋转；固定辐射源，所述固定辐射源被配置为从焦点发射穿透辐射的光束并且将所述光束引导到所述目标的一部分上；固定辐射检测器，所述固定辐射检测器包括感测面，所述感测面被配置为采集作为位置的函数的入射在其上的所述辐射光束的强度的测量值；和控制器，所述控制器被配置为命令所述台在横向于所述辐射光束的中心轴线的方向上从第一位置平移到第二位置，其中所述目标在所述第一位置和所述第二位置处的放大率大致相等；其中在由所述检测器测量所述辐射光束强度期间，所述台不横向于所述辐射光束的所述中心轴线平移。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述旋转轴线被定位在所述第一位置和所述第二位置处的所述辐射光束内。3.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一位置和所述第二位置关于所述辐射光束的所述中心轴线大致对称。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述台被进一步配置为将所述目标平移到第三位置，所述第三位置位于所述第一位置和所述第二位置之间，其中所述目标在所述第一位置、所述第二位置和所述第三位置中的放大率大致相等。5.根据权利要求4所述的系统，其中在所述第三位置中，所述旋转轴线与所述辐射光束的所述中心轴线大致相交。6.根据权利要求4所述的系统，其中所述第三位置中的所述旋转轴线的所述位置在所述第一位置中的所述旋转轴线的所述位置和所述第二位置中的所述旋转轴线的所述位置之间大致等距。7.根据权利要求1所述的系统，其中所述辐射光束为扇形光束或锥形光束。8.根据权利要求1所述的系统，其中所述辐射光束不是平行光束。9.一种方法，所述方法包括：将具有安装到其上的目标的台定位在第一位置处；从固定辐射源的焦点发射穿透辐射的光束，其中所述辐射光束从所述焦点延伸穿过目标的一部分，并且入射到固定辐射检测器的感测面上；在发射所述辐射光束期间使处于所述第一位置处的所述台围绕旋转轴线旋转；由所述固定检测器测量在使处于所述第一位置处的所述台旋转期间作为位置的函数的入射在其上的所述辐射光束的强度；停止测量所述辐射光束的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：尼尔斯，
申请(专利权)人：贝克休斯油田作业有限责任公司，
类型：发明
国别省市：