一种用于光学试验检测的高精度磨机制造技术

本发明专利技术属于光学试验设备技术领域，公开了一种用于光学试验检测的高精度磨机，包括：打磨台，且在打磨台的中间位置处安装有负吸固定组件，所述负吸固定组件的两侧均设有可转动的丝杆，且每个丝杆上均套设有两个移动板；夹料组件，可拆卸的放置于打磨台顶部，且所述夹料组件包括对称的两个夹板、以及对称连接于两个夹板之间的两个夹紧弹簧；所述夹料组件放置于打磨台顶部时，夹板与丝杆垂直，且两个移动板限定于两个夹板之间；可升降的打磨组件，且所述打磨组件在下降时，驱动两个丝杆同步转动；综上，基于夹料组件的设置，能有效避免在上下料过程中直接接触元件检测面，从而最大程度的保证了精磨后检测面的精度和洁净程度。保证了精磨后检测面的精度和洁净程度。保证了精磨后检测面的精度和洁净程度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光学试验检测的高精度磨机


[0001]本专利技术属于光学试验设备
，具体涉及一种用于光学试验检测的高精度磨机。

技术介绍

[0002]具体在进行玻璃、金属等光学元件的性能检测时（例如：金属的金相检测、玻璃的表面元素检测），需要将光学元件的检测面打磨至需要的精度，由此则需要用到相应的磨机。
[0003]但是，对于现有的试验用磨机而言，大多通过人手直接进行光学元件的上下料，由此在上下料过程中则难以避免的出现人手与检测面之间的接触，特别是对于体积较小、精度要求较高的光学元件而言，人手的直接接触极易造成检测面的污染，甚至影响检测面精度，进而影响试验检测的准确性。

技术实现思路

[0004]鉴于此，为解决上述
技术介绍
中所提出的问题，本专利技术的目的在于提供一种用于光学试验检测的高精度磨机。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种用于光学试验检测的高精度磨机，包括：打磨台，且在所述打磨台的中间位置处安装有负吸固定组件，在所述负吸固定组件的两侧均设有可转动的丝杆，且每个所述丝杆上均套设有两个移动板；夹料组件，可拆卸的放置于所述打磨台顶部，且所述夹料组件包括对称的两个夹板、以及对称连接于两个夹板之间的两个夹紧弹簧；两个所述夹紧弹簧分别靠近夹板的两端，且所述夹料组件用于将待打磨的光学元件夹紧固定于两个夹板之间的中间部位；所述夹料组件放置于打磨台顶部时，夹板与丝杆垂直，且两个移动板限定于两个夹板之间；可升降的打磨组件，且所述打磨组件在下降时，驱动两个丝杆同步转动，所述丝杆转动时，驱动其上的两个移动板沿丝杆中间向两端相向移动，并解锁夹料组件；所述移动板移动至丝杆端部时，打磨组件与待打磨的光学元件接触。
[0006]优选的，在所述打磨台顶部对称固定有两个限位板，所述限位板与丝杆平行设置，且两个所述限位板之间的距离与夹板长度相等；所述夹料组件放置于打磨台顶部时，垂直限定于两个限位板之间。
[0007]优选的，在两个所述夹板的中间位置处均开设有V型槽，且将待打磨的光学元件夹紧限定于两个V型槽之间。
[0008]优选的，所述负吸固定组件包括负压发生器和可转动的多孔负吸盘；在两个所述移动板驱动夹料组件解锁后，所述负压发生器驱使多孔负吸盘产生负压，负吸固定待打磨的光学元件。
[0009]优选的，在所述打磨台顶部的中间位置处开设有通孔，在所述打磨台内部安装有
升降气缸，所述升降气缸用于驱动多孔负吸盘上下升降，且多孔负吸盘在上下升降时可穿过通孔。
[0010]优选的，所述负压发生器为圆柱形结构；所述升降气缸的顶端固定有升降环，且所述升降环套设于负压发生器上；所述多孔负吸盘的底部焊接有连接套，所述连接套套设于负压发生器外侧，并可转动的支撑于升降环顶部。
[0011]优选的，所述连接套的内壁上对称开设有两个滑槽，且两个滑槽之间滑动配合有一倒置的U型架，所述U型架底部位于负压发生器顶部下方，且在所述负压发生器顶部的中间位置处安装有驱动电机，所述驱动电机通过U型架驱动连接套及多孔负吸盘转动。
[0012]优选的，在所述打磨台的一侧安装有两个可转动齿轮，且两个齿轮分别与两个丝杆同轴装配；所述打磨组件至少包括两个可升降的齿板，且两个齿板分别与两个齿轮啮合连接。
[0013]优选的，所述齿板的顶部焊接有顶板，且顶板的底部固定有直线导轨；所述直线导轨上滑动套设有直线电机，且直线电机的底部安装有可转动的打磨头。
[0014]本专利技术与现有技术相比，具有以下有益效果：(1)在本专利技术中，设置了可独立夹持待打磨光学元件的夹料组件，以此通过夹料组件实现待打磨光学元件的上下料操作，从而避免在上下料过程中直接接触元件检测面，最大程度的保证了精磨后检测面的精度和洁净程度；另外，本专利技术磨机中的打磨组件在下降的过程中能自动驱使夹料组件解锁，并在解锁后基于负吸固定组件形成有效固定，综上，则能稳定实现打磨操作。
[0015](2)针对上述夹料组件，主要包括对称设置的两个夹板和夹紧弹簧，且两个夹板的中间部位均开设有V型槽，由此能有效夹紧不同大小的光学元件，并且整体结构简单、使用方便。
[0016](3)针对上述夹料组件，在打磨台上设有可相向移动的两组移动板，由此实现夹料组件的解锁，并且在解锁过程中还能自动调整光学元件的放置位置，从而保证光学元件能精准的定位于负吸固定组件的中间位置处，进而保证整体光学元件检测面打磨的均匀性。
[0017](4)针对上述移动板，由对应配合的丝杆进行驱动，且丝杆端部同轴装配有齿轮；另外在打磨组件中设有与齿轮啮合的齿板，由此有效实现打磨组件在升降过程中对夹料组件的驱动。
[0018](5)针对上述负吸固定组件，主要包括既可升降、又可转动的多孔负吸盘，由此实现夹料组件解锁后光学元件的稳定定位，并且配合打磨组件实现光学元件检测面的精准打磨。
附图说明
[0019]图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术的侧视图；图3为本专利技术中打磨台与夹料组件配合的俯视图；图4为本专利技术中夹料组件的结构示意图；图5为本专利技术中连接套与U型架配合的俯视图；图中：打磨台
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1；限位板
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11；通孔
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12；升降气缸
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13；升降环
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14；齿轮
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15；负吸固
定组件
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2；负压发生器
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21；多孔负吸盘
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22；连接套
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23；滑槽
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24；U型架
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25；驱动电机
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26；丝杆
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3；移动板
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4；夹料组件
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5；夹板
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51；夹紧弹簧
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52；V型槽
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53；打磨组件
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6；齿板
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61；顶板
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62；直线导轨
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63；直线电机
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64；打磨头
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65。
具体实施方式
[0020]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0021]请参阅图1
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图5所示，在本专利技术中提供了一种用于光学试验检测的高精度磨机，主要包括：打磨台1，在打磨台1的中间位置处安装有负吸固定组件2，在负吸固定组件2的两侧均设有可转动的丝杆3，且每个丝杆3上均套设有两个移动板4；夹料组件5，可拆卸的放置于打磨台1顶部，且夹料组件5包括对称的两个夹板51、以及对称连接于两个夹板51之间的两个夹紧弹簧52；两个夹紧弹簧52分别靠近夹板51的两端，且夹料组件5用于将待打磨的光学元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于，包括：打磨台（1），且在所述打磨台（1）的中间位置处安装有负吸固定组件（2），在所述负吸固定组件（2）的两侧均设有可转动的丝杆（3），且每个所述丝杆（3）上均套设有两个移动板（4）；夹料组件（5），可拆卸的放置于所述打磨台（1）顶部，且所述夹料组件（5）包括对称的两个夹板（51）、以及对称连接于两个夹板（51）之间的两个夹紧弹簧（52）；两个所述夹紧弹簧（52）分别靠近夹板（51）的两端，且所述夹料组件（5）用于将待打磨的光学元件夹紧固定于两个夹板（51）之间的中间部位；所述夹料组件（5）放置于打磨台（1）顶部时，夹板（51）与丝杆（3）垂直，且两个移动板（4）限定于两个夹板（51）之间；可升降的打磨组件（6），且所述打磨组件（6）在下降时，驱动两个丝杆（3）同步转动，所述丝杆（3）转动时，驱动其上的两个移动板（4）沿丝杆（3）中间向两端相向移动，并解锁夹料组件（5）；所述移动板（4）移动至丝杆（3）端部时，打磨组件（6）与待打磨的光学元件接触。2.根据权利要求1所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：在所述打磨台（1）顶部对称固定有两个限位板（11），所述限位板（11）与丝杆（3）平行设置，且两个所述限位板（11）之间的距离与夹板（51）长度相等；所述夹料组件（5）放置于打磨台（1）顶部时，垂直限定于两个限位板（11）之间。3.根据权利要求1所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：在两个所述夹板（51）的中间位置处均开设有V型槽（53），且将待打磨的光学元件夹紧限定于两个V型槽（53）之间。4.根据权利要求1所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：所述负吸固定组件（2）包括负压发生器（21）和可转动的多孔负吸盘（22）；在两个所述移动板（4）驱动夹料组件（5）解锁后，所述负压发生器（21）驱使多孔负吸盘（22）产生负...

【专利技术属性】
技术研发人员：周健，
申请(专利权)人：安徽建筑大学，
类型：发明
国别省市：