本申请是关于一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法。该方法包括：在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像；分别对目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，得到N个空间滤波结果图，N为大于1的整数；分别对N个空间滤波结果图进行线型缺陷突显处理，得到N个第一滤波响应图；根据N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。本申请提供的方案，能够提高LCD线型缺陷响应度，对于线型缺陷的适用性高，提升线型缺陷检测结果的准确性，提升LCD生产质量和生产效率。LCD生产质量和生产效率。LCD生产质量和生产效率。
【技术实现步骤摘要】
LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法、电子设备及存储介质
[0001]
[0002]本申请涉及屏幕检测
，尤其涉及LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法、电子设备及存储介质。
[0003]
技术介绍
[0004]随着时代的发展，液晶显示屏在人们生活中的参与程度越来越高，作为人机交互的关键部件，液晶显示屏的显示质量直接影响着用户的体验感，为了提升液晶显示屏的质量，液晶显示屏的缺陷检测应运而生。传统的人眼检测方法是基于人眼视觉特性对屏幕的缺陷进行检测，此方法受人自身的主观感受以及所处的检测环境影响很大，难以客观地评判缺陷的存在与否，因此，需要研发一种具有客观评判标准的，符合应用实际的液晶显示屏自动检测系统，来满足产品质量以及生产效率的要求。
[0005]在现有技术中，在公开号为CN103792699A的专利（基于B样条曲面拟合的TFT
‑
LCD Mura缺陷机器视觉检测方法）中，提出了一种LCD屏幕检测方法，通过CCD相机采集被点亮的待测LCD灰度图像，对原始图像滤波后提取感兴趣区域，采用双三次B样条曲面拟合的方法拟合出图像背景，用原始图像减去背景图像后得到消除亮度不均匀背景后的图像，利用Canny算子检测出Mura缺陷。
[0006]上述现有技术方案具有以下缺点：使用原始图像减去拟合背景图像得出响应图的方法对原有图像质量要求高，线型缺陷响应度不高。因此需要研发一种无需拟合图像背景且针对线型缺陷响应度高的LCD高效检测方法。
[0007]
技术实现思路
[0008]为克服相关技术中存在的问题，本申请提供一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，该LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，能够提高LCD线型缺陷响应度，对于线型缺陷的适用性高，提升线型缺陷检测结果的准确性，提升LCD生产质量和生产效率。
[0009]本申请第一方面提供一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，包括：在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像；分别对目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，得到N个空间滤波结果图，N为大于1的整数；分别对N个空间滤波结果图进行线型缺陷突显处理，得到N个第一滤波响应图；线型缺陷突显处理，包括：控制第一线型滤波核与第二线型滤波核分别对空间滤波结果图进行线型空间滤波，得到第二滤波响应图与第三滤波响应图，将第三滤波响应图减去第二滤波响应图；
第一线型滤波核与第二线型滤波核为正方形滤波核，滤波参数的排布方向相同且垂直于空间滤波结果图的检测角度方向，第一线型滤波核的尺寸小于第二线型滤波核的尺寸，第一线型滤波核的第一滤波参数大于第二线型滤波核的第二滤波参数；根据N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。
[0010]在一种实施方式中，分别对目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，包括：当对目标检测图像进行第i个检测角度的检测时，控制与其余N
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1个检测角度方向相同的线型滤波核对目标检测图像进行线型空间滤波，i为大于0的整数。
[0011]在一种实施方式中，根据N个第一滤波响应图确定线型缺陷位置，包括：分别对N个第一滤波响应图进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，得到N个目标响应图；分别对N个目标响应图进行灰尘过滤。
[0012]在一种实施方式中，分别对N个目标响应图进行灰尘过滤，包括：获取待测LCD实体图，通过阈值分割提取待测LCD实体图的灰尘信息，得到灰尘响应图；将灰尘响应图分别与N个目标响应图对比，确定各个目标响应图的灰尘位置；分别剔除各个目标响应图的灰尘位置，得到N个待分割响应图，待分割响应图为二值图。
[0013]在一种实施方式中，得到N个待分割响应图之后，包括：获取N个待分割响应图中的响应区域轮廓的最小旋转外接矩形；计算最小旋转外接矩形的响应区域宽高值以及最小旋转外接矩形的响应区域面积；将响应区域宽高值以及响应区域面积与线型缺陷标准映射表对比，线型缺陷标准映射表为在各个目标检测图像的尺寸大小下，判定响应区域轮廓为线型缺陷的对应的响应区域宽高阈值以及响应区域面积阈值的集合；根据对比结果确定线型缺陷的位置。
[0014]在一种实施方式中，在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像，包括：若待测LCD图像为LCD主视图，则对待测LCD图像进行阈值分割，得到LCD区域；若待测LCD图像为LCD斜视图，则将待测LCD图像仿射变换为LCD主视图之后，对待测LCD图像进行阈值分割，得到LCD区域。
[0015]在一种实施方式中，得到LCD区域之后，包括：对LCD区域进行高斯金字塔降采样，得到M层降采样结果图，M为大于1的整数；分别对M层降采样结果图计算海森矩阵，得到M个降采样响应图；分别计算M个降采样响应图中的最大响应范围的面积，得到M个最大响应范围面积；分别计算各个最大响应范围面积与LCD区域的面积的比值，选取比值最大的降采样响应图对应的降采样结果图为目标检测图像。
[0016]在一种实施方式中，选取比值最大的降采样响应图对应的降采样结果图为目标检测图像之后，包括：
通过闭操作将目标检测图像中的非目标检测对象进行连接之后，通过阈值分割将非目标检测对象剔除。
[0017]本申请第二方面提供一种电子设备，包括：处理器；以及存储器，其上存储有可执行代码，当可执行代码被处理器执行时，使处理器执行如上所述的方法。
[0018]本申请第三方面提供一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有可执行代码，当可执行代码被电子设备的处理器执行时，使处理器执行如上所述的方法。
[0019]本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：通过在灰阶画面下根据待测LCD图像获取目标检测图像，分别根据多个检测角度对目标检测图像进行线型空间滤波，达到在当前检测角度下去除其他线型干扰的目的，根据所获得的与检测角度数量相同的空间滤波结果图，通过线型缺陷突显处理之后获得与空间滤波结果图数量相同的第一滤波响应图，线型缺陷突显处理即通过控制尺寸一大一小的滤波参数排布方向相同的与空间滤波结果图检测角度方向垂直的两个线型滤波核对空间滤波结果图进行进一步的空间滤波之后作差，请参阅图11，经过线型缺陷突显处理之后获得的滤波响应图中，线型缺陷所在位置的像素值明显高于周边区域，线型缺陷所在位置得到突显，因此能够根据获取的第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。相对于现有技术，本申请技术方案在检测当前角度方向下的线型滤波时通过空间滤波排除其他角度方向的线型干扰，避免当前检测角度下的线型缺陷的检测受到干扰，通过线型缺陷突显处理提高线型缺陷的响应度，使线型缺陷所在位置在响应图中得到更明显的显示，提高线型缺陷的检测准确度，提升线型缺陷的检测效率，提升LCD生产质量和生产效率。
[0020]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
[0021]附图说明
[0022]通过结合附图对本申请示例性实施方式进行更详细的描述，本申请的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本申请示例性实施方式中本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，包括：在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像；分别对所述目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，得到N个空间滤波结果图，所述N为大于1的整数；分别对所述N个空间滤波结果图进行线型缺陷突显处理，得到N个第一滤波响应图；所述线型缺陷突显处理，包括：控制第一线型滤波核与第二线型滤波核分别对所述空间滤波结果图进行线型空间滤波，得到第二滤波响应图与第三滤波响应图，将所述第三滤波响应图减去所述第二滤波响应图；所述第一线型滤波核与所述第二线型滤波核为正方形滤波核，滤波参数的排布方向相同且垂直于所述空间滤波结果图的检测角度方向，所述第一线型滤波核的尺寸小于所述第二线型滤波核的尺寸，所述第一线型滤波核的第一滤波参数大于所述第二线型滤波核的第二滤波参数；根据所述N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。2.根据权利要求1所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，所述分别对所述目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，包括：当对所述目标检测图像进行第i个检测角度的检测时，控制与其余N
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1个检测角度方向相同的线型滤波核对所述目标检测图像进行所述线型空间滤波，所述i为大于0的整数。3.根据权利要求1所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述N个第一滤波响应图确定线型缺陷位置，包括：分别对所述N个第一滤波响应图进行根据N个检测角度的所述线型干扰滤波处理，得到N个目标响应图；分别对所述N个目标响应图进行灰尘过滤。4.根据权利要求3所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，所述分别对所述N个目标响应图进行灰尘过滤，包括：获取待测LCD实体图，通过阈值分割提取所述待测LCD实体图的灰尘信息，得到灰尘响应图；将所述灰尘响应图分别与所述N个目标响应图对比，确定各个目标响应图的灰尘位置；分别剔除所述各个目标响应图的所述灰尘位置，得到N个待分割响应图，所述待分割响应图为二值图。5.根据权利要求4所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，所述得到N个待分割响应图之后，包括：获取所述N...
【专利技术属性】
技术研发人员：梅长卿，阮治未，姜涌，王润宇，
申请(专利权)人：惠州高视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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