一种单波束测深仪用辅助支架制造技术

本实用新型专利技术提出一种单波束测深仪用辅助支架，其包括：探测仪本体和支架，支架与探测仪本体相连接，探测仪本体用于测探；所述支架包括支座、支撑梁、支撑凸起和背板，通过支座实现对探测仪本体的支撑，由连接在支座之间的支撑梁提高对支座的支撑稳定性，在支撑梁上设置支撑凸起并由支撑凸起用于承托探测仪本体的底部，继而提高对其底部的支撑稳定性，多个支撑凸起间隔设置以保证空气流通空间，保证探测仪本体在底部的散热，由背板实现对探测仪本体背部的支撑，由此提高对单波束测深仪的底部和背板的支撑稳定性继而提高单波束测深仪的探测准确性。准确性。准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种单波束测深仪用辅助支架


[0001]本技术涉及波束测探设备
，尤其涉及一种单波束测深仪用辅助支架。

技术介绍

[0002]目前，业内常用的现有技术是这样的：水深地形测量中，单波束测深仪是目前应用最广泛的仪器设备。近海测量工作中，往往与养殖区重叠，由于养殖筏架等障碍物的存在对单波束测深造成较大影响，比如会造成探头刮碰养殖筏架，对仪器设备造成损伤。但现有便携式单波束测深仪对单波束测深仪的底部和背板的支撑稳定性较差，进而影响单波束测深仪的探测准确性。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术所要解决的技术问题是：如何提供一种单波束测深仪用辅助支架以提高对单波束测深仪的底部和背板的支撑稳定性继而提高单波束测深仪的探测准确性。
[0004]为实现上述目的，本技术提出一种单波束测深仪用辅助支架，其包括探测仪本体和支架，所述支架与所述探测仪本体相连接，所述探测仪本体用于测探；
[0005]所述支架包括支座、支撑梁、支撑凸起和背板；
[0006]所述支座分别通过转轴转动连接于所述探测仪本体的两侧；
[0007]所述支撑梁的两端固定连接于所述支座上，所述支撑梁位于所述探测仪本体的下方，所述支撑梁固定设置多个所述支撑凸起，多个所述支撑凸起沿所述支撑梁长度方向间隔设置，所述支撑凸起沿朝向于所述探测仪本体底部的凸出，所述支撑凸起的顶部承托于所述探测仪本体的底部；
[0008]所述背板的底部固定于所述支座和所述支撑梁上，所述背板的表面抵接于所述探测仪本体的背面。
[0009]进一步地，所述支撑凸起为圆柱状。
[0010]进一步地，所述背板的一端连接位于所述探测仪本体的底部且沿水平方向设置，其贴合于所述探测仪本体的背面的另一端沿竖直方向设置。
[0011]进一步地，所述转轴固定连接于所述探测仪本体的两侧。
[0012]与相关技术相比，本技术提出的一种单波束测深仪用辅助支架，其有益效果在于：通过支座实现对探测仪本体的支撑，由连接在支座之间的支撑梁提高对支座的支撑稳定性，在支撑梁上设置支撑凸起并由支撑凸起用于承托探测仪本体的底部，继而提高对其底部的支撑稳定性，多个支撑凸起间隔设置以保证空气流通空间，保证探测仪本体在底部的散热，由背板实现对探测仪本体背部的支撑，由此提高对单波束测深仪的底部和背板的支撑稳定性继而提高单波束测深仪的探测准确性。
附图说明
[0013]图1为本技术实施例中单波束测深仪用辅助支架的结构示意图；
[0014]图2为本技术实施例中单波束测深仪用辅助支架的背侧结构示意图；
[0015]图3为本技术实施例中单波束测深仪用辅助支架的主视图。
具体实施方式
[0016]下面结合附图和具体实施方式对本技术做进一步详细说明。
[0017]请参见图1
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3所示，本技术提出一种单波束测深仪用辅助支架，其包括探测仪本体10和支架20，支架20与探测仪本体10相连接，探测仪本体 10用于测探。
[0018]支架20包括支座21、支撑梁22、支撑凸起23和背板24。
[0019]支座21分别通过转轴11转动连接于探测仪本体10的两侧，具体地，转轴11固定连接于探测仪本体10的两侧。
[0020]支撑梁22的两端固定连接于支座21上，支撑梁22位于探测仪本体10 的下方，支撑梁22固定设置多个支撑凸起23，支撑凸起23为圆柱状，多个支撑凸起23沿支撑梁22长度方向间隔设置，支撑凸起23沿朝向于探测仪本体10底部的凸出，支撑凸起23的顶部承托于探测仪本体10的底部，在支撑梁22上设置支撑凸起23并由支撑凸起23用于承托探测仪本体10的底部，继而提高对其底部的支撑稳定性，多个支撑凸起23间隔设置以保证空气流通空间，保证探测仪本体10在底部的散热。
[0021]背板24的底部固定于支座21和支撑梁22上，背板24的表面抵接于探测仪本体10的背面，背板24的一端连接位于探测仪本体10的底部且沿水平方向设置，其贴合于探测仪本体10的背面的另一端沿竖直方向设置。
[0022]通过支座21实现对探测仪本体10的支撑，由连接在支座21之间的支撑梁22提高对支座21的支撑稳定性，由背板24实现对探测仪本体10背部的支撑，由此提高对单波束测深仪的底部和背板24的支撑稳定性继而提高单波束测深仪的探测准确性。
[0023]最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的精神和范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单波束测深仪用辅助支架，其特征在于，其包括探测仪本体和支架，所述支架与所述探测仪本体相连接，所述探测仪本体用于测探；所述支架包括支座、支撑梁、支撑凸起和背板；所述支座分别通过转轴转动连接于所述探测仪本体的两侧；所述支撑梁的两端固定连接于所述支座上，所述支撑梁位于所述探测仪本体的下方，所述支撑梁固定设置多个所述支撑凸起，多个所述支撑凸起沿所述支撑梁长度方向间隔设置，所述支撑凸起沿朝向于所述探测仪本体底部的凸出，所述支撑凸起的顶部承托于所述探测仪本...

【专利技术属性】
技术研发人员：王平，徐义坤，骆锋，常建华，蒋林林，
申请(专利权)人：青岛振帆工程科技有限公司，
类型：新型
国别省市：