使用双定位的整体约束的定位方法技术

本发明专利技术申请提供了一种使用双定位的整体约束的方法来提高定位准确度，同时缩短整体定位的时间，利用两个较小的形状特征提取形状模型，在匹配形状模型后，两个形状模型的中心点生成一个向量，利用模板向量和待检测图像上的向量，根据两个向量的余弦相似度求出两个向量的夹角，根据这个夹角对检测框ROI进行欧式变换。本发明专利技术申请可以应用在多种视觉检测系统中，解决了当待检测图像很大时，整体定位时间很长，检测效率低和定位位置不准确，检测准确低的问题。低的问题。低的问题。

【技术实现步骤摘要】
使用双定位的整体约束的定位方法


[0001]本专利技术主要涉及工业机器视觉图像检测与模式识别
，具体地，针对那些需要快速且高精准定位需求的图像处理技术。

技术介绍

[0002]随着图像处理与模式识别技术的迅猛发展，越来越多的工业检测开始使用图像处理算法来检测产品缺陷、测量尺寸、目标识别、目标分类等。
[0003]针对一些特定部位的缺陷检测、特定区域目标识别、尺寸测量等图像处理算法，如果要循环检测大批量的产品，在每次检测开始前都会有一个ROI定位的操作，通过定位功能来确定ROI的位置，再进行图像检测处理。
[0004]现有的定位功能大多是通过模板匹配来完成的，基于组件的匹配和基于形状的匹配应用的比较多。基于形状匹配，在待检测图像中进行模板匹配。
[0005]当待检测图像很大（例如8K*12K），如果使用大目标模板匹配会很耗时，导致整体图像检测处理时间很长，检测效率低下；如果使用小目标模板匹配，ROI位置根据模板匹配结果进行欧式变换后，定位角度会被放大，导致ROI位置不准确，直接影响后续图像检测处理结果，检测准确率低。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种使用双定位的整体约束的定位方法，其特征在于，包括以下步骤：应用于缺陷视觉检测系统，缺陷检测系统包括拍照成像装置、传送装置、图像处理视觉检测软件、分拣装置；待检测物品体积较大，或视觉缺陷检测精度较高，成像装置所拍摄的图片比较大；图像处理视觉检测软件先加载一张模板图像，要求模板图像的图像清晰，形状特征边缘清晰，待检测物品尽量没有偏转角度；使用两个定位框尽可能大的框住定位的形状特征，提取形状模板ID；在模板图像上绘制所需个数的检测框ROI，也就是待检测区域；记录上述的位置信息：两组定位形状模板位置信息、待检测ROI的位置信息；在待检测图像上匹配定位形状模板；模板图像两组定位形状模板中心点生成一个向量，待检测图像的定位形状中心点生成一个向量；根据两个向量的余弦相似度可以求出两个向量的夹角；根据这个夹角对检测框ROI进行欧式变换；计算公式：；对待检测图像的ROI区域进行图像处理，缺陷检测，这里使用多个ROI对检测区域进行了分割，所以可以使算法并行处理多个ROI检测区域，从而更进一步的提高图像处理速度。2...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈其霞，王瑞，刘恒才，
申请(专利权)人：北京平恒智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：