【技术实现步骤摘要】
一种三维微小位移测量方法及系统
[0001]本专利技术涉及微小位移测量
,特别是涉及一种三维微小位移测量方法及系统。
技术介绍
[0002]随着我国航空航天、船舶重工等的快速发展,对精密测量有了更高的要求。微小位移测量作为精密测量的一种关键的基础技术,制约着尖端制造业的发展。微小位移测量技术经过多年的研究得到较大的发展,主要有激光位移测量技术、光栅位移测量技术、LVDT位移传感器、PSD位移传感器等,而这些传感器都有一个显著缺点,其传感器体积较大,不能把传感器做小做薄,制约了其测量狭窄空间微小位移的能力;且光学传感器功耗较高,对电池容量要求较大,不利于传感器的安装布置。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的是提供一种三维微小位移测量方法及系统,以实现对三维空间微小位移的测量。
[0004]为实现上述目的,本专利技术提供了如下方案:
[0005]一种三维位移测量方法,包括:
[0006]获取待测位移物体的模型;在所述待测位移物体的模型上设置有三个容栅传感器组;所述模型包括第一 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种三维位移测量方法,其特征在于,包括:获取待测位移物体的模型;在所述待测位移物体的模型上设置有三个容栅传感器组;所述模型包括第一子模型和第二子模型,所述第一子模型设置在所述第二子模型的内部;所述容栅传感器组的动栅设置在所述第一子模型的外侧壁上且静栅设置在所述第二子模型的内侧壁上或者所述容栅传感器组的动栅设置在所述第二子模型的内侧壁上且静栅设置在所述第一子模型的外侧壁上;每个所述容栅传感器组的动栅和静栅形成通道,每个通道用于检测所述动栅的极距变化和面积变化;所述面积变化为所述动栅和所述静栅的相对面积变化;分别获取三个所述容栅传感器组的电压值;根据所述容栅传感器组的电压值确定位移。2.根据权利要求1所述的三维位移测量方法,其特征在于,所述根据所述容栅传感器组的电压值确定位移,具体包括:当所述第一子模型和所述第二子模型均为半球时,根据容栅传感器组的电压值确定容栅传感器通道的电压分量,根据所述容栅传感器通道的电压分量确定位移;每个所述容栅传感器组包括一个容栅传感器;三个所述容栅传感器呈品字形排布;当所述第一子模型和所述第二子模型均为长方体时,根据所述容栅传感器组的电压值确定位移;所述长方体的一个底面和相邻两个侧面上均设置有容栅传感器组;所述长方体的同一面上的容栅传感器组包括两个容栅传感器,两个所述容栅传感器间隔设置。3.根据权利要求2所述的三维位移测量方法,其特征在于,所述根据所述容栅传感器通道的电压分量确定位移,具体包括:根据容栅传感器通道的电压分量利用如下公式确定位移:其中,u1为半球的第一容栅传感器的电压值,u2为半球的第二容栅传感器的电压值,u3为半球的第三容栅传感器的电压值,G为放大系数,u0为初始电压,I为电流值,t为时间,x为沿x方向的位移值,y为沿y方向的位移值,z为沿z方向的位移值,d0为初始极距,l为容栅初始位置正对长度,b为容栅宽度,ε为介电常数。4.根据权利要求3所述的三维位移测量方法,其特征在于,所述根据所述容栅传感器组的电压值确定位移之后还包括:根据第二容栅传感器的电压值和第三容栅传感器的电压值的比值确定所述待测位移物体在y方向的位移方向;根据容栅传感器的电压值与初始电压的比值确定所述待测位移物体在x方向的位移方向;所述容栅传感器为第一容栅传感器或第二容栅传感器或第三容栅传感器;
根据第一容栅传感器的电压值和第二容栅传感器的电压值的比值确定所述待测位移物体在z方向的位移方向。5.根据权利要求2所述的三维位移测量方法,其特征在于,所述当所述第一子模型和所述第二子模型均为长方体时,根据所述容栅传感器组的电压值确定位移,具体包括:当所述第一子模型和所述第二子模型均为长方体时,根据容栅传感器组的电压值利用如下公式确定位移:如下公式确定位移:其中,为长方体第一侧面对应的第一容栅传感器的电压值,为长方体第一侧面对应的第二容栅传感器的电压值,为长方体第二侧面对应的第三容栅传感器的电压值,为长方体第二侧面对应的第四容栅传感器的电压值,为长方体底面对应的第五容栅传感器的电压值,为长方体底面对应的第五容栅传感器的电压值,l
x
为长方体的长,l
z
为长方体的高,l
y
为长方体的宽,α1、α2、α3、α4、α5、α6分别为动栅发生旋转后l
x
与y轴夹角、l
x
与z轴夹角、l
y
与x轴夹角、l
y
与z轴夹角、l
z
与x轴夹角、l
x
与y轴夹角,Δd
x
、Δd
y
、Δd
z
分别为三个通道每两对容栅传感器之间的安装间隔,I为电流值,t为时间,x为沿x方向的位移值,y为沿y方向的位移值,z为沿z方向的位移值,ε为介电常数,s为容栅传感器动栅和静栅之间的正对面积。6.根据权利要求5所述的三维位移测量方法,其特征在于,所述根据所述容栅传感器组的电压值确定位移之后还包括:根据第一比值或者第二比值确定所述待测位移物...
【专利技术属性】
技术研发人员:李新娥,年夫顺,金怀智,张智超,赵夏青,王川东,汪洋,
申请(专利权)人:中北大学,
类型:发明
国别省市:
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