【技术实现步骤摘要】
折反式多光轴同轴度动态检测装置及检测方法
[0001]本专利技术涉及光电检测
，涉及折反式多光轴同轴度动态检测装置及检测方法。
技术介绍
[0002]高能激光系统在军事应用方面扮演者越来越重要的角色。传统高能激光系统中激光器由于受到增益器件的热效应及非线性效应等多种因素的限制，单台激光器难以实现高功率的输出。
[0003]常见的激光合束技术主要有偏振合束、空间合束和波长合束，其中偏振合束技术应用较为广泛。偏振合束是利用偏振合束器将两束偏振态相互垂直的激光合成一束，这样在保持光束质量不变的情况下，使功率密度加倍。
[0004]参考在中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，夏蕾发表的高精度激光合束及光轴指向控制技术研究；文章中激光合束系统的监测和校正具有两个功能：1、对各光束的偏转角度动态准确地测量；2、对各光束的传播方向进行实时的精确的调节。监测与校正方法是利用“漏光法”进行直接监测，即极小一部分的“漏光”进入光束监测系统，完成各光束相对光轴偏转角以及合束精度的监测，并实时的将所有光束偏转角测量结果反馈到...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.折反式多光轴同轴度动态检测装置，其特征是，该装置包括窗口(1)、抛物镜(2)、折转反射镜(3)、准直镜头(4)、电控衰减片(5)、能量分光片一(6)、起偏器一(7)、P&S光光瞳检测相机(8)、能量分光片二(9)、起偏器二(10)、聚焦镜头一(11)、P&S光光轴检测相机(12)、1/4波片(13)、1/2波片(14)、偏振分光片(15)、聚焦镜头二(16)、P光光轴检测相机(17)、反射镜(18)、聚焦镜头三(19)和S光光轴检测相机(20)；窗口(1)、抛物镜(2)、折转反射镜(3)、准直镜头(4)组成二级缩束系统；准直镜头(4)、电控衰减片(5)、能量分光片一(6)、起偏器一(7)和P&S光光瞳检测相机(8)依次同轴安装；能量分光片一(6)、能量分光片二(9)、1/4波片(13)、1/2波片(14)、偏振分光片(15)和反射镜(18)依次同轴安装；能量分光片二(9)、起偏器二(10)、聚焦镜头一(11)和P&S光光轴检测相机(12)依次同轴安装且组成P&S光光轴检测支路；偏振分光片(15)、聚焦镜头二(16)和P光光轴检测相机(17)依次同轴安装且组成P光光轴检测支路；反射镜(18)、聚焦镜头三(19)和S光光轴检测相机(20)依次同轴安装且组成S光光轴检测支路；待检测高能激光系统发射由P光和S光组成的激光束，激光束透过窗口(1)入射到抛物镜(2)进行反射，反射光经过窗口(1)后表面反射到折转反射镜(3)后反射进入准直镜头(4)，准直镜头(4)出射的准直光透过电控衰减片(5)入射到能量分光片一(6)，透过能量分光片一(6)的激光束入射到起偏器一(7)，激光束透过起偏器一(7)后由P&S光光瞳检测相机(8)接收；由能量分光片一(6)反射的激光束入射到能量分光片二(9)，激光束经能量分光片二(9)反射后入射到起偏器二(10)，激光束透过起偏器二(10)通过聚焦镜头一(11)会聚到P&S光光轴检测相机(12)上；能量分光片二(9)透射的激光束依次透过1/4波片(13)和1/2波片(14)入射到偏振分光片(15)，偏振分光片(15)将激光束中的P光和S光分开，P光反射由聚焦镜头二(16)会聚到P光光轴检测相机(17)上；透过偏振分光片(15)的S光由反射镜(18)反射到聚焦镜头三(19)上，P光经过聚焦镜头三(19)会聚S光光轴检测相机(20)上。2.根据权利要求1所述的折反式多光轴同轴度动态检测装置，其特征在于，所述窗口(1)接收的波长范围为1040
‑
1090nm，入射角度为15
°±2°
，前表面镀高透膜，且P光和S光透射率均大于99.8％；后表面镀半反半透膜，且P光和S光透射率为50
±
2％；前后表面膜系耐强光。3.根据权利要求1所述的折反式多光轴同轴度动态检测装置，其特征在于，所述能量分光片一(6)和能量分光片二(9)的分光比均为95：5，工作角度为45
°
。4.根据权利要求1所述的折反式多光轴同轴度动态检测装置，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：江伦，代天君，李小明，张家齐，高亮，李响，董岩，常帅，安岩，宋延嵩，董科研，佟首峰，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：发明
国别省市：
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