熔解曲线异常值处理方法、装置以及电子设备制造方法及图纸

本申请提供了一种熔解曲线异常值处理方法、装置以及电子设备，涉及数据检测技术领域，包括：获取PCR熔解过程中已扩增的荧光强度数据，利用连续小波变换的方式对荧光强度数据进行探测，确定异常值位置，在异常值位置所处的预设邻域范围内，根据可变化窗口值对荧光强度数据进行线性拟合，得到拟合曲线，对拟合曲线进行多项式拟合求导，确定熔解曲线，以缓解无法获得较高精度的熔解曲线的技术问题。法获得较高精度的熔解曲线的技术问题。法获得较高精度的熔解曲线的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
熔解曲线异常值处理方法、装置以及电子设备


[0001]本申请涉及数据检测
，尤其是涉及一种熔解曲线异常值处理方法、装置以及电子设备。

技术介绍

[0002]目前，诊断传染病标准的核酸定量方法多采用荧光实时定量PCR，能够量化样品模板的初始值，常被用在基因分析表达、转基因食物检测和癌症检测中。
[0003]但是，目前实际的数据调试中，荧光强度偶尔会出现异常值的情况，现有的方法都无法处理荧光强度变化值即熔解曲线的异常值，难以确定平滑后的熔解曲线，目前的方法无法获得较高精度的熔解曲线。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种熔解曲线异常值处理方法，以缓解无法获得较高精度的熔解曲线的技术问题。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种熔解曲线异常值处理方法，包括：
[0006]获取PCR熔解过程中已扩增的荧光强度数据；
[0007]利用连续小波变换的方式对所述荧光强度数据进行探测，确定异常值位置；
[0008]在所述异常值位置所处的预设邻域范围内，根据可变化窗口值对所述荧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种熔解曲线异常值处理方法，其特征在于，包括：获取PCR熔解过程中已扩增的荧光强度数据；利用连续小波变换的方式对所述荧光强度数据进行探测，确定异常值位置；在所述异常值位置所处的预设邻域范围内，根据可变化窗口值对所述荧光强度数据进行线性拟合，得到拟合曲线；对所述拟合曲线进行多项式拟合求导，确定熔解曲线。2.根据权利要求1所述的熔解曲线异常值处理方法，其特征在于，所述利用连续小波变换的方式对所述荧光强度数据进行探测，确定异常值位置的步骤，包括：利用连续小波变换的方式对所述荧光强度数据进行探测，得到每个尺度下对应的多个模；分别确定不同所述尺度下对应的模极大值位置；判断所述模极大值位置是否在预设层数内；若所述模极大值位置在所述预设层数内，则将所述模极大值位置确定为荧光强度异常值位置。3.根据权利要求2所述的熔解曲线异常值处理方法，其特征在于，所述判断所述模极大值位置是否在预设层数内的步骤，包括：对所述荧光强度数据进行多次探测，得到与多次探测对应的三层模极大值位置；判断所述模极大值位置是否在预设顺序层数以及连续层数内。4.根据权利要求1所述的熔解曲线异常值处理方法，其特征在于，所述在所述异常值位置所处的预设邻域范围内，根据可变化窗口值对所述荧光强度数据进行线性拟合，得到拟合曲线的步骤，包括：在所述异常值位置所处的预设邻域范围内，根据至少两个预设窗口值对所述荧光强度数据进行线性拟合，分别得到与至少两个所述预设窗口值对应的初步拟合曲线；计算至少两个所述预设窗口值对应的平滑度值，通过对比多个所述平滑度值得到最小平滑度值；确定与所述最小平滑度值对应的目标预设窗口值；将所述目标预设窗口值对应的目标初步拟合曲线确定为最终的拟合...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨智，李冬，贺贤汉，
申请(专利权)人：杭州博日科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：