便携式颗粒物阻挡率测试仪制造技术

便携式颗粒物阻挡率测试仪，包括主控处理单元、颗粒物传感器单元、存储单元、蓝牙接口、电源单元以及人机交互单元，颗粒物传感器单元用于采集及检测颗粒物浓度，并将检测的颗粒物浓度转换成数字信号输出至主控处理单元；主控处理单元用于对颗粒物传感器单元传送的颗粒物浓度信号进行处理分析，以计算出被测量装置或材料对颗粒物的过滤效率，即颗粒物阻挡率，并将该测试结果输出至蓝牙接口；蓝牙接口用于将主控处理单元传送的测试结果自动打印输出；存储单元用于存储主控处理单元的数据，人机交互单元用于用户与本测试仪的人机交互操作；电源单元用于为本测试仪提供工作电源。源单元用于为本测试仪提供工作电源。源单元用于为本测试仪提供工作电源。

【技术实现步骤摘要】
便携式颗粒物阻挡率测试仪


[0001]本专利技术涉及颗粒物阻挡率测试
，具体涉及一种便携式颗粒物阻挡率测试仪。

技术介绍

[0002]粒子计数器是测定洁净空气中离散粒子的粒经及其粒子浓度，以确定洁净室和洁净环境的洁净度等级。随着科技的发展，人类对环境的保护以及个人健康防护需求也越来越高，尤其是空气中悬浮的颗粒物对人的健康影响也越来越大，空气过滤器，空气净化器，防护口罩等一系列产品得到了快速发展，通常是通过评判空气过滤器，净化器以及口罩，纱布等对颗粒物的过滤效率，来确认产品的品质。目前市场上能够对纱布，口罩熔喷布等布类的过滤效率进行测定的仪器都是非常庞大，不便于携带移动，而且价格都不菲，送测还需要预约排队等待，测试结果不能当场发布，对于使用者来说效率非常低，与现代快节奏的工作格格不入。
[0003]因此，急需一种便携式颗粒物阻挡率测试仪，能够实时获得颗粒物阻挡率的测试结果，而且方便携带移动，成本低。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的是提供便携式颗粒物阻挡率测试仪，能够实时获得颗粒物阻本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.便携式颗粒物阻挡率测试仪，其特征在于，包括主控处理单元、颗粒物传感器单元、存储单元、蓝牙接口、电源单元以及人机交互单元，所述主控处理单元分别与所述颗粒物传感器单元、所述存储单元、所述蓝牙接口、所述电源单元以及所述人机交互单元电性相连；所述颗粒物传感器单元用于采集及检测颗粒物浓度，并将检测的颗粒物浓度转换成数字信号输出至所述主控处理单元；所述主控处理单元用于对所述颗粒物传感器单元传送的处理前和处理后的颗粒物浓度信号进行处理分析，以计算出被测量装置或材料对颗粒物的过滤效率，即颗粒物阻挡率，并将该测试结果输出至所述蓝牙接口；所述蓝牙接口用于将所述主控处理单元传送的测试结果自动打印输出；所述存储单元用于存储所述主控处理单元的数据，所述人机交互单元用于用户与所述测试仪的人机交互操作；所述电源单元用于为所述测试仪提供工作电源。2.根据权利要求1所述的便携式颗粒物阻挡率测试仪，其特征在于，所述主控处理单元包括处理器U9，时钟芯片U13，JTAG插座JP2，环型电感L14，晶振Y1、Y2、Y5，极性电容E14、E16、E15，电容C8、C46、C17、C20、C13、C25、C11、C12，电阻R29、R79、R77、R137、R35、R36、R78、R119、R81、R49，电池BT1，按键KEY9；所述JTAG插座JP2用于接入调试设备；所述时钟芯片U13用于为所述主控处理单元提供精确计时功能；所述处理器U9的内部设置有计算模块，能够根据所述颗粒物传感器单元传送的处理前和处理后的检测的颗粒物个数，计算出被测量装置或材料对颗粒物的过滤效率，即颗粒物阻挡率；所述处理器U9的引脚7连接所述电阻R49的一端，所述电阻R49的另一端接地，所述处理器U9的引脚9连接所述电容C12的一端，所述电容C12的另一端接地，所述处理器U9的引脚21分别连接所述电阻R81的一端和所述按键KEY9的一端，所述按键KEY9的另一端接地，所述处理器U9的引脚55分别连接所述时钟芯片U13的引脚7和所述电阻R36的一端，所述处理器U9的引脚56分别连接所述时钟芯片U13的引脚6和所述电阻R35的一端，所述电阻R36的另一端和所述电阻R35的另一端相连后接电源3.3V，所述处理器U9的引脚63连接所述极性电容E15的正极，所述处理器U9的引脚64分别连接所述电容C13的一端和所述极性电容E16的正极，所述极性电容E15的负极依次与所述电容C13的另一端和所述极性电容E16的负极相连后接地，所述处理器U9的引脚65分别连接所述晶振Y1的一端和所述晶振Y5的一端，所述晶振Y5的一端还连接所述电容C17的一端，所述电容C17的另一端接地，所述处理器U9的引脚66分别连接所述晶振Y1的另一端和所述晶振Y5的另一端，所述晶振Y5的另一端还连接所述电容C20的一端，所述电容C20的另一端接地，所述处理器U9的引脚80连接所述电阻R137的一端，所述处理器U9的引脚81连接所述电阻R79的一端，所述处理器U9的引脚80连接所述电阻R77的一端，所述处理器U9的引脚92依次连接所述电阻R29的一端、所述JTAG插座JP2的引脚8、所述电容C8的一端以及所述极性电容E14的正极，所述电容C8的另一端和所述极性电容E14的负极相连后接地，所述处理器U9的引脚95分别连接所述JTAG插座JP2的引脚5和引脚2，所述处理器U9的引脚96连接所述JTAG插座JP2的引脚1，所述处理器U9的引脚97连接所述JTAG插座JP2的引脚3，所述处理器U9的引脚98连接所述JTAG插座JP2的引脚4，所述处理器U9的引脚99连接所述JTAG插座JP2的引脚6，所述处理器U9的引脚100分别连接所述电容C46的一端和所述JTAG插座JP2的引脚7，所述电容C46的一端还连接所述电阻R29的另一端，所述电容C46的另一端接地，所述JTAG插座JP2的引脚11、引脚12、引脚13以及引脚14相连后连接所述环型电感L14的一端，所述环型电感L14的另一端接地；
所述处理器U9的引脚79为数据发送脚CPU_TX0，所述处理器U9的引脚78为数据接收脚CPU_RX0，所述处理器U9的引脚83为SD卡数据端SPI_SD_CS，所述处理器U9的引脚81为FLASH信号线输入端SPI_DIN，所述处理器U9的引脚82为FLASH信号线输入端SPI_DOUT，所述处理器U9的引脚80为时钟线SPI_CLK，所述处理器U9的引脚95为接地脚GND，所述处理器U9的引脚52为写保护脚EE_WP，所述处理器U9的引脚55为数据线SDA，所述处理器U9的引脚56为控制线SDL，所述处理器U9的引脚61为状态信号脚LINK_STATUS，所述处理器U9的引脚60为LCD控制信号脚LCD_CTRL，所述处理器U9的引脚51为LCD片选输入脚LCD_CS，所述处理器U9的引脚50为LCD寄存器选择脚LCD_RS，所述处理器U9的引脚49为LCD写信号脚LCD_WR，所述处理器U9的引脚48为LCD读信号脚LCD_RD，所述处理器U9的引脚47为LCD重启信号脚LCD_RES，所述处理器U9的引脚46、引脚45、引脚44、引脚43、引脚42、引脚41、引脚40、引脚39、引脚38、引脚37、引脚36、引脚35、引脚34、引脚33、引脚32、引脚31依次为LCD数据脚LCD_DB0、LCD_DB1、LCD_DB2、LCD_DB3、LCD_DB4、LCD_DB5、LCD_DB6、LCD_DB7、LCD_DB8、LCD_DB9、LCD_DB10、LCD_DB11、LCD_DB12、LCD_DB13、LCD_DB14、LCD_DB15，所述处理器U9的引脚75、引脚74、引脚73、引脚72、引脚71、引脚70、引脚69依次为按键输入脚KEY1、KEY2、KEY4、KEY5、KEY6、KEY7。3.根据权利要求2所述的便携式颗粒物阻挡率测试仪，其特征在于，所述颗粒物传感器单元包括接口J3和电阻R181，所述接口J3用于连接颗粒物传感器，所述接口J3的引脚1连接所述电阻R181的一端，所述电阻R181的另一端连接电源5V，所述接口J3的引脚2与引脚5相连后接地，所述接口J3的引脚3连接所述CPU_TX0，所述接口J3的引脚4连接所述CPU_RX0。4.根据权利要求2的便携式颗粒物阻挡率测试仪，其特征在于，所述存储单元包括Micro SD卡电路、FLASH电路以及芯片存储电路，所述Micro SD卡电路用于通过Micro SD卡方式存储数据，所述FLASH电路用于通过FLASH方式存储数据，所述芯片存储电路用于通过大容量芯片方式存储数据。5.根据权利要求4所述的便携式颗粒物阻挡率测试仪，其特征在于，所述Micro SD卡电路包括连接器U18，电容C36，电阻R100、R101、R102以及R108；所述连接器U18的引脚9和引脚11相连后接地，所述连接器U18的引脚10和引脚12相连后接地，所述连接器U18的引脚3连接所述电阻R101的一端，所述连接器U18的引脚5连接所述电阻R100的一端，所述连接器U18的引脚7连接所述电阻R108的一端，所述电阻R101的另一端、所述电阻R100的另一端以及所述电阻R108的另一端相连后接电源3.3V，所述连接器U18的引脚6接地，所述连接器U18的引脚4分别连接电源3.3V和所述电容C36的一端，所述电容C36的另一端接地，所述连接器U18的引脚2分别连接所述SPI_SD_CS和所述电阻R102，所述电阻R102的另一端接电源3.3V。6.根据权利要求4所述的便携式颗粒物阻挡率测试仪，其特征在于，所述FLASH电路包括串行快闪存储器U14，电阻R106、R107以及R143；所述串行快闪存储器U14的引脚1连接所述电阻R107的一端，所述串行快闪存储器U14的引脚8分别连接所述电阻R107的另一端、电源3.3V以及所述电阻R106的一端，所述串行快闪存储器U14的引脚7连接所述电阻R106的另一端，所述串行快闪存储器U14的引脚4接地，所述串行快闪存储器U14的引脚5接所述SPI_DOUT，所述串行快闪存储器U14的引脚6接所述SPI_CLK，所述串行快闪存储器U14的引脚2接所述SPI_DIN，所述串行快闪存储器U14的引脚3连接所述电阻R143的一端，所述电阻R143的另一端接地。7.根据权利要求4所述的便携式颗粒物阻挡率测试仪，其特征在于，所述芯片存储电路
包括大容量存储芯片U11和U12，电容C34和C35，电阻R39和R144；所述大容量存储芯片U11的引脚1和引脚2相连后接所述GND，所述大容量存储芯片U11的引脚3连接电源3.3V，所述大容量存储芯片U11的引脚4接地，所述大容量存储芯片U11的引脚5连接所述SDA，所述大容量存储芯片U11的引脚6连接所述SCL，所述大容量存储芯片U11的引脚7连接所述电阻R144的一端，所述电阻R144的另一端接电源3.3V，所述大容量存储芯片U11的引脚8分别连接电源3.3V和所述电容C35的一端，所述电容C35的另一端接地；所述大容量存储芯片U12的引脚1连接所述电阻R39的一端，所述大容量存储芯片U11的引脚8分别连接所述电阻R39的另一端、电源3.3V以及所述电容C34的一端，所述电容C34的另一端接地，所述大容量存储芯片U11的引脚3连接电源3.3V，所述大容量存储芯片U11的引脚4接地，所述大容量存储芯片U11的引脚5连接所述SDA，所述大容量存储芯片U11的引脚6连接所述SCL，所述大容量存储芯片U11的引脚7连接所述EE_WP，所述大容量存储芯片U11的引脚2连接所述GND。8.根据权利要求1所述的便携式颗粒物阻挡率测试仪，其特征在于，所述电源单元包括充电电路和...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔殿，刘小红，张奇，
申请(专利权)人：深圳市逸云天电子有限公司，
类型：发明
国别省市：