一种基于银锂合金的温度测量方法技术

本发明专利技术属于反应堆温度测量技术领域，具体涉及一种基于银锂合金的温度测量方法，包括：确定待测温环境的目标温度的范围为[A1,A2]；确定银锂合金样品的熔点范围为[T1,T2]；每间隔间隔值X℃选择一个熔点值，根据对应的银锂合金相图，确定所选熔点值对应的银锂合金的成分比例，制备不同熔点值的均匀银锂合金；并加工成形状相同的银锂合金样品；将加工的银锂合金样品依次放入待测温的环境中，进行待测温环境的温度测量；温度测量结束后，判断不同熔点值的银锂合金样品的实际熔化状态，确定待测温的环境的温度区间。本发明专利技术方法能够精确测量高辐射或其他极端环境下的待测环境温度。辐射或其他极端环境下的待测环境温度。辐射或其他极端环境下的待测环境温度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于银锂合金的温度测量方法


[0001]本专利技术属于反应堆温度测量
，具体涉及一种基于银锂合金的温度测量方法。

技术介绍

[0002]常规测温一般是利用机械温度计、液体温度计、红外线或热电偶等进行测量。
[0003]然而，在反应堆堆芯等高辐射环境或其他极端环境下，这些常规的测温方法可能由于空间限制、环境影响、电磁干扰、无法接出引线及传递信号等问题无法使用。因此需要开拓一种新的测量方法，对在反应堆堆芯等高辐射环境或其他极端环境下的温度进行测量和监控。
[0004]银锂合金属于匀晶合金的一种，相比于其他共晶或匀晶合金，同一成分下其固相线和液相线间差距较小，而且其熔点在较大的温度区间内随成分的变化而连续变化，基本不受其他条件影响，可以通过成分控制来精确确定其熔点值。
[0005]基于以上情况，本专利技术开发一种基于银锂合金的温度测量方法，用于精确测量在反应堆堆芯等高辐射环境或其他极端环境下的所处环境的温度。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于针对现有技术中在反应堆堆芯等高辐射环境或其他极本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于银锂合金的温度测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤(1)、确定待测温环境的目标温度的范围为[A1,A2]；步骤(2)、根据不同成分的银锂合金的熔点值，确定银锂合金样品的熔点范围为[T1,T2]；步骤(3)、根据银锂合金样品的熔点范围[T1,T2]，每间隔间隔值X℃选择一个熔点值，根据对应的银锂合金相图，确定所选熔点值对应的银锂合金的成分比例，并根据银锂合金的成分比例制备不同熔点值的均匀银锂合金；步骤(4)、将步骤(3)制备的不同熔点值的均匀银锂合金加工成形状相同的银锂合金样品；步骤(5)、将步骤(4)加工的银锂合金样品依次放入待测温的环境中，进行待测温环境的温度测量；步骤(6)、温度测量结束后，判断不同熔点值的银锂合金样品的实际熔化状态，确定待测温的环境的温度区间。2.根据权利要求1所述的一种基于银锂合金的温度测量方法，其特征在于，所述步骤(2)中银锂合金样品的熔点范围[T1,T2]包含待测温环境的目标温度的范围[A1,A2]。3.根据权利要求1所述的一种基于银锂合金的温度测量方法，其特征在于，所述步骤(2)中在极端配比时所对应的银锂合金样品的熔点的最值分别为最小值MIN和最大值MAX，极端配比的银锂合金样品的熔点最值范围为[MIN,MAX]，极端配比的银锂合金样品的熔点最值范围[MIN,MAX]包含银锂合金样品的熔点范围[T1,T2]。4.根据权利要求3所述的一种基于银锂合金的温度测量方法，其特征在于，所述步骤(2)中MIN为180℃，MAX为962℃。5.根据权利要求1所述的一种基于银锂合金的温度测量方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：谌继明，郑鹏飞，魏然，李峰，张归航，徐莉莎，刘星，车通，
申请(专利权)人：核工业西南物理研究院，
类型：发明
国别省市：