触底判定基准设定方法技术

技术编号:28052892 阅读:8 留言:0更新日期:2021-04-14 13:17
本发明专利技术提供一种触底判定基准设定方法,能够可靠性高地设定基于参数的触底判定基准。触底判定基准设定方法包括:螺合步骤,使测定用螺丝(11)与测定用螺丝孔(13a)螺合;参数获取步骤,获取螺合步骤中的参数;触底判定步骤,基于测定用螺丝的轴力,判定触底的有无;以及判定基准设定步骤,将触底判定步骤中的判定结果与参数进行对照来设定触底判定基准。与参数进行对照来设定触底判定基准。与参数进行对照来设定触底判定基准。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】触底判定基准设定方法


[0001]本专利技术涉及一种用于判定螺丝拧紧中的触底不良的触底判定基准设定方法。

技术介绍

[0002]在利用螺丝拧紧装置的螺丝拧紧中,当产生了触底等浮起时,由于不产生轴力,因此有时无法获得适当的紧固力。当在螺丝的座面与被紧固物之间存在间隙时,可探测到产生了触底,但当在螺丝的座面与被紧固物之间不存在间隙时,有时也产生触底。此种触底可通过测量螺丝的轴力来探测。
[0003]在专利文献1中公开有一种带有轴力计的螺帽扳手。所述带有轴力计的螺帽扳手包括探针,所述探针具有通过电磁力来使螺栓头部纵向振动的振动生成体、及检测所述纵向振动并转换成信号来输出的振动检测体。带有轴力计的螺帽扳手利用振动生成体来使螺栓产生振动,利用振动检测体来检测所述振动,利用控制装置对振动检测体的检测信号进行处理来算出共振振动数,并与螺栓轴力(螺栓拧紧力)建立对应。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1:日本公开专利公报“日本专利特开2004

291217号公报(2004年10月21日公开)”
技术实现思路

[0007]专利技术所要解决的问题
[0008]但是,专利文献1中所公开的带有轴力计的螺帽扳手由于包括用于测量轴力的探针,因此存在与通常的螺帽扳手相比零件数及成本增大的问题。为了不使螺帽扳手的零件数及成本增大来判定有无产生触底,优选可通过基于在不包括轴力计的通常的螺帽扳手中所获得的测量值的参数来检测触底。
[0009]另外,在专利文献1中所公开的方法中,利用振动生成体来使螺栓产生振动,利用振动检测体来检测所述振动,利用控制装置对振动检测体的检测信号进行处理来算出共振振动数,并与螺栓轴力建立对应,由此测量轴力。在此情况下,由于间接地测量轴力,因此存在其测量结果的精度低而进行误判定的可能性。
[0010]本专利技术的一实施例的目的在于提供一种能够可靠性高地设定基于参数的触底判定基准的触底判定基准设定方法。
[0011]解决问题的技术手段
[0012]为了解决所述课题,本专利技术的一实施例的触底判定基准设定方法是设定用于判定螺丝拧紧中的触底的基准的触底判定基准设定方法,使用测量系统,所述测量系统包括具有规定的深度的测定用螺丝孔的螺丝孔构件及测量施加至已与所述测定用螺丝孔螺合的测定用螺丝的座面与所述螺丝孔构件之间的压缩力的轴力测量装置,所述触底判定基准设定方法包括:螺合步骤,使所述测定用螺丝与所述测定用螺丝孔螺合;参数获取步骤,获取
所述螺合步骤中的参数;轴力测量步骤,利用所述轴力测量装置,测量施加至所述座面与所述螺丝孔构件之间的由所述测定用螺丝所产生的轴力;触底判定步骤,基于所述轴力,判定触底的有无;以及判定基准设定步骤,将所述触底判定步骤中的判定结果与在所述参数获取步骤中所获取的参数进行对照,由此设定基于所述参数的触底判定基准。
[0013]专利技术的效果
[0014]根据本专利技术的一实施例的触底判定基准设定方法,能够可靠性高地设定基于参数的触底判定基准。
附图说明
[0015]图1是表示用于执行本实施方式的触底判定基准设定方法的基准设定系统的一例的图。
[0016]图2是表示进行了螺丝拧紧的紧固用螺丝的状态的例子的图,(a)是表示座面已从被紧固物浮起的状态的图,(b)是表示座面已接触被紧固物的状态的图。
[0017]图3的(a)及(b)是用于说明本实施方式的触底判定基准设定方法的概略的图。
[0018]图4是表示针对四种螺丝,利用负荷传感器来测定轴力的结果的图表。
[0019]图5是表示利用本实施方式的触底判定基准设定方法来进行触底判定基准的设定的例子的图表。
[0020]图6是表示本实施方式的触底判定基准设定方法中的处理的流程图。
[0021]图7是表示基准设定装置所参照的表的例子的图。
具体实施方式
[0022]以下,基于附图对本专利技术的一方面的实施方式(以下,也表述成“本实施方式”)进行说明。
[0023]§
1应用例
[0024]图2是表示被紧固物102通过紧固用螺丝101而已紧固在紧固物103的状态的例子的图,(a)是表示座面已从被紧固物102浮起的状态的图,(b)是表示座面已接触被紧固物102的状态的图。
[0025]在螺丝拧紧中,在错误地使用比原本应使用的螺丝更长的螺丝的情况、螺丝孔浅的情况、以及异物已进入螺丝孔的情况等下,有时产生在螺丝拧紧的中途螺丝的前端接触螺丝孔的底的被称为触底的不良。若产生此种不良,则变成如下的状态:尽管通过螺丝的前端到达螺丝孔的底而赋予了规定的扭矩,但所述螺丝不发挥充分的紧固力。
[0026]如图2的(a)所示,若为紧固用螺丝101的座面未接触被紧固物102的状态,则可测定座面与被紧固物W之间的距离d。如此,若可测定距离d,则可判定产生了触底。另一方面,如图2的(b)所示,即便是紧固用螺丝101的座面未接触被紧固物102的状态,有时也产生触底。但是,在图2中所示的状态下,无法通过距离d来判定触底的有无。
[0027]图3的(a)及(b)是用于说明本实施方式的触底判定基准设定方法的概略的图。在本实施方式中,如图3的(a)所示,测定紧固用螺丝101相对于紧固物103仅螺合长度L,已使被紧固物102紧固在紧固物103的状态下的紧固用螺丝101的轴力。但是,实际上在紧固用螺丝101已使被紧固物102紧固在紧固物103的状态下,为了测定轴力而必须使用超声波传感
器等高价的装置。另外,超声波传感器并非直接测定轴力的装置,因此存在测定精度变低的担忧。
[0028]在本实施方式中,如图3的(b)所示,利用配置在被紧固物102与螺丝孔构件13之间的负荷传感器14(轴力测量装置),测定通过测定用螺丝11而已使被紧固物102紧固在螺丝孔构件13的状态下的轴力。螺丝孔构件13具有规定的深度的测定用螺丝孔13a。负荷传感器14测量施加至已与测定用螺丝孔13a螺合的测定用螺丝11的座面11a与螺丝孔构件13之间的压缩力。根据图3的(b)中所示的方法,可直接测定施加至测定用螺丝11的座面11a与螺丝孔构件13之间的压缩力,即轴力,因此可进行精度高的测定。
[0029]图4是表示针对四种螺丝,利用负荷传感器14来测定轴力的结果的图表。在图4中所示的图表中,纵轴表示轴力,横幅表示进行了多次测定时的分布(概率密度)。在图4中,从左侧起依次表示以下的轴力。
[0030](A)已知具有充分的紧固力的作为样品的测定用螺丝11的轴力
[0031](B)螺丝拧紧的结果,座面已接触被紧固物的螺丝的轴力(1)
[0032](C)螺丝拧紧的结果,座面已接触被紧固物的螺丝的轴力(2)
[0033](D)螺丝拧紧的结果,座面未接触被紧固物的螺丝的轴力
[0034]在本实施方式的触底判定基准设定方法中,针对具有如图4中所示的四种图表中的(A)或(B)的图表那样本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种触底判定基准设定方法,用于判定螺丝拧紧中的轴力,使用测量系统,所述测量系统包括具有规定的深度的测定用螺丝孔的螺丝孔构件及测量施加至已与所述测定用螺丝孔螺合的测定用螺丝的座面与所述螺丝孔构件之间的压缩力的轴力测量装置,所述触底判定基准设定方法包括:螺合步骤,使所述测定用螺丝与所述测定用螺丝孔螺合;参数获取步骤,获取所述螺合步骤中的参数;轴力测量步骤,利用所述轴力测量装置,测量施加至所述座面与所述螺丝孔构件之间的由所述测定用螺丝所产生的轴力;触底判定步骤,基于所述轴力,判定触底的有无...

【专利技术属性】
技术研发人员:西垣弘二
申请(专利权)人:欧姆龙株式会社
类型:发明
国别省市:

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