【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及传感器，特别涉及限定反射型传感器，该限定反射型传感器经由射出光用透镜，将来自发光部的射出光向物体检测区域照射，并经由反射光用透镜，由受光部接受来自存在于该物体检测区域的物体的反射光。
技术介绍
1、以往，作为用于检测物体是否存在于规定的位置的传感器，已经提出一种限定反射型传感器，其限定物体的检测区域，从发光部照射射出光，并由受光部接受在检测区域由物体反射的反射光(例如参照专利文献1等)。
2、在上述限定反射型传感器中，经由射出光用透镜，从发光部向检测区域照射射出光，并经由受光用透镜，由受光部接受在检测区域由物体反射的反射光。当反射光向受光部入射时，由受光部将光转换为电信号，所以，通过检测在受光部产生的电压变化，能够检测物体存在于检测区域。因此，检测区域被限定在光可从发光部照射且光可到达受光部的范围内。上述检测区域的设定范围可以根据射出光用透镜与受光用透镜的光学设计来变更。
3、在专利文献1所示的现有技术的限定反射型传感器中，射出光用透镜与受光用透镜各自由非球面透镜与柱面透镜组合而构成。由此，通过由柱...
【技术保护点】
1.一种限定反射型传感器，经由射出光用透镜，将来自发光部的射出光向物体检测区域照射，并经由反射光用透镜，由受光部接受来自存在于所述物体检测区域的物体的反射光，该限定反射型传感器的特征在于，具有：
2.如权利要求1所述的限定反射型传感器，其特征在于，
3.如权利要求1或2所述的限定反射型传感器，其特征在于，
4.如权利要求1至3中任一项所述的限定反射型传感器，其特征在于，
5.如权利要求1至4中任一项所述的限定反射型传感器，其特征在于，
6.如权利要求1至5中任一项所述的限定反射型传感器，其特征在于，
<...【技术特征摘要】
1.一种限定反射型传感器，经由射出光用透镜，将来自发光部的射出光向物体检测区域照射，并经由反射光用透镜，由受光部接受来自存在于所述物体检测区域的物体的反射光，该限定反射型传感器的特征在于，具有：
2.如权利要求1所述的限定反射型传感器，其特征在于，
3.如权利要求1或2所述的限定反射型传感器，其特征在于，
4....
【专利技术属性】
技术研发人员：柿本直也，中岛淳，多田明日香，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：
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