一种屏幕质量优缺的评价方法技术

本发明专利技术申请公开了一种屏幕质量优缺的评价方法，在本评价方法中首先通过系统的检测方法将显示屏的各评价指标的相关数据检测出来，分析相应数据得出在名目的检测区域内存在的缺陷数据，并对缺陷进行等级划分并设置相应权重；通过计算得出该显示屏的得分，再对比各缺陷等级所占的比分权重，评价出该显示屏的质量情况，得出该显示屏合格与否的结论。本评价方法通过构建评价显示屏质量的表示体系，深入定量地分析检测数据，将客观的数据事实与主观的人为判断分离，化主观为客观，更准确地评判显示屏质量的好坏。示屏质量的好坏。示屏质量的好坏。

【技术实现步骤摘要】
一种屏幕质量优缺的评价方法


[0001]本专利技术涉及显示屏幕领域，具体涉及一种屏幕质量优缺的评价方法。

技术介绍

[0002]平板显示屏幕以其高分辨率、高亮度以及无几何变形等优点，同时由于其体积小、重量轻和功耗低，因而被广泛的应用在人们日常使用的消费电子产品中，例如电视、电脑、手机、平板等。但由于屏幕的制作过程复杂，因此，在制作过程中难免会出现一些缺陷，其中最常见的缺陷便是屏幕出现污点污斑。
[0003]目前对于屏幕质量的评价没有一个标准的体系，无法对屏幕的缺陷进行深入的定量分析，无法对缺陷进行等级的划分；且目前屏幕质量的检测大都通过人工肉眼观察，对屏幕质量的评价全靠工人经验，这样的检测方法认为主观因素影响很大，无法对屏幕缺陷的影响程度做出客观的评价。

技术实现思路

[0004]本专利技术意在提供一种能够客观评价屏幕质量的屏幕质量优缺的评价方法。
[0005]为达到以上目的，提供如下方案：提供一种屏幕质量优缺的评价方法，所述方法包括：接通屏幕电源并向屏幕输入全白场信号，使得屏幕显示画面为全白；使用光学镜头拍摄获本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种屏幕质量优缺的评价方法，其特征在于，所述方法包括：S1：接通屏幕电源并向屏幕输入全白场信号，使得屏幕显示画面为全白；S2：使用光学镜头拍摄获取屏幕的图像；S3：对光学镜头获取的图像进行分析检测，检测出只含屏幕部分，并将此部分截取裁剪；S4：对截取出的屏幕图像应用CNN卷积神经网络算法，检测屏幕上存在的缺陷的区域S5：并对缺陷进行分类，同时测量缺陷的参数；S6：结合屏幕缺陷的参数，计算得出屏幕的最终得分；S7：将计算得出的屏幕的最终得分与人为设置的评价屏幕质量优缺的参数值进行对比，对屏幕进行等级划分。2.根据权利要求1所述的屏幕质量优缺的评价方法，其特征在于，所述缺陷的类型分为四类，具体为：重大缺陷，其在屏幕上显示亮度低于200nits，状态呈黑团状，其对屏幕质量缺陷所占权重为1；重要缺陷，其在屏幕上显示亮度高于200nits且低于800nits，状态呈黑雾状，其对屏幕质量缺陷所占权重为0.8；一般缺陷，其在屏幕上显示直径小于0.2mm，状态呈点状，其对屏幕质量缺陷所占权重为0.3；可忽略缺陷，其在屏幕上显示亮度高于800nits且低于1500nits，状态呈暗影状，其对屏幕质量缺陷所占权重为0.1。3.根据权利要求1所述的屏幕质量优缺的评价方法，其特征在于，将所述缺陷参数化，并计算每个缺陷的评分，用DS表示，每个缺陷的DS的计算公式为：其中，根据用户需求，将屏幕划分成不同区域，W
region
为缺陷所在区域权重，默认为1，重点区域可调整为大于1，非重点区域可设置为小于1，可忽略的区域可设置为0；W
defect
为缺陷类型权重，不同类型的缺陷对屏幕质量影响不...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈锋，
申请(专利权)人：北京滴普科技有限公司，
类型：发明
国别省市：