锁相环参考杂散快速仿真方法技术

锁相环参考杂散快速仿真方法，涉及集成电路技术。本发明专利技术包括下述步骤：1）采集锁相环信号，所述锁相环包括鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控振荡器和分频器；2）计算杂散抑制比；所述步骤1）中，锁相环信号包括包括环路滤波器输出的直流调谐电压频谱信号，所述步骤2）中，采用下式计算杂散抑制比X：X=

【技术实现步骤摘要】
锁相环参考杂散快速仿真方法
本专利技术涉及集成电路技术。
技术介绍
PLL工作原理如图1所示，将低频的参考输入信号倍频到高频输出。PLL主要架构由压控振荡器（VCO），分频器（DIV），鉴频鉴相器+电荷泵（PFD+CP）以及环路滤波器（FILTER）构成。因为该系统中有低频参考输入，所以在高频输出端的频谱中会出现低频杂散。该杂散会严重影响输出信号纯净度，同时，高性能PLL对参考杂散的抑制性能有很高的要求，因此，一种高精度PLL输出信号参考杂散仿真方法是十分必要的。传统的仿真方法通过对输出信号直接FFT运算，以得到输出参考杂散。然而，直接在输出端计算PLL的参考杂散开销很大。输出端是高频信号，也是整个PLL中频率最高的信号。直接对高频信号分析，需要提取的时域信号步长特别短，否则FFT分析出来的频谱将会有频谱泄露。对高频信号进行短步进的时域仿真，特别是集成电路后仿验证，需要占用大量的服务器资源，仿真时间高达几个星期。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种能够大幅度缩短仿真时间的仿真方法为集成电路设计中针本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.锁相环参考杂散快速仿真方法，包括下述步骤：/n1）采集锁相环信号，所述锁相环包括鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控振荡器和分频器；/n2）计算杂散抑制比；/n其特征在于，所述步骤1）中，锁相环信号包括包括环路滤波器输出的直流调谐电压频谱信号，/n所述步骤2）中，采用下式计算杂散抑制比X：/nX =

【技术特征摘要】
1.锁相环参考杂散快速仿真方法，包括下述步骤：
1）采集锁相环信号，所述锁相环包括鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控振荡器和分频器；
2）计算杂散抑制比；
其特征在于，所述步骤1）中，锁相环信号包括包括环路滤波器输出的直流调谐电压频谱信号，
所述步骤2）中，采用下式计算杂散抑...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈磊，岑远军，杨金达，
申请(专利权)人：成都华微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51