一种用于FPC性能测试的测试针模以及测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供用于FPC性能测试的测试针模和测试装置，测试针模包括主针模机构、第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，第一双头探针、第二双头探针、第一长探针和第二长探针均活动安装于主针模机构上，且第一双头探针的头部、第二双头探针的头部、第一长探针的头部和第二长探针的头部均伸出主针模机构上；第一双头探针的尾部和第二双头探针的尾部、第一长探针的尾部和第二长探针的尾部组成测试引脚，测试引脚与外设的测试设备相连接；当将待测FPC放置在主针模机构上，待测FPC的测试触点分别与第一双头探针的头部和第二双头探针的头部相抵接，待测FPC的测试焊脚分别与第一长探针的头部和第二长探针的头部相抵接，以提高测试精度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于FPC性能测试的测试针模以及测试装置
本专利技术属于柔性电路测试的
，特别是涉及一种用于FPC性能测试的测试针模以及测试装置。
技术介绍
现有技术中，针对柔性电路板(本申请简述为FPC)的测试，需要测试FPC中电阻的阻值，或者FPC线路的阻值。在FPC上，测试点的形式主要有例如B2Bconnecter(以下简称B2B)、或者金手指(以下简称ACF)等。目前针对B2B测试阻值的常用办法是使用两线的方式进行测试，或者使用假四线的方式进行测试，如图1所示的假四线测试的原理图，在实际被测FPC的应用中，由于被测FPC的B2B结构空间问题，一般会将探针的头部抵接在B2B的测试点上，并在探针的尾部分出两个点分别接入恒流源和电压表，此种方式的测量会使得测到的电压包含电流流经探针的内阻上的电压。随着FPC设计的电阻的阻值越来越小，两线测试及假四线的测试阻值的精度满足不了测试要求。因此，如何提高对FPC中B2B的测试精度亟待解决。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：针对现有技术中对于FPC测试通常为两线测试或者假四线的测试，精度达不到测试要求，提供一种用于FPC性能测试的测试针模以及测试装置，以提高对FPC的测试精度。本专利技术第一方面提供一种用于FPC性能测试的测试针模，所述测试针模包括主针模机构、第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，其中：所述第一双头探针、所述第二双头探针、所述第一长探针和所述第二长探针均活动安装于所述主针模机构上，且所述第一双头探针的头部、所述第二双头探针的头部、所述第一长探针的头部和所述第二长探针的头部均伸出所述主针模机构上；所述第一双头探针的尾部和所述第二双头探针的尾部、所述第一长探针的尾部和所述第二长探针的尾部组成测试引脚，所述测试引脚与外设的测试设备相连接；当将待测FPC放置在所述主针模机构上，所述待测FPC的测试触点分别与所述第一双头探针的头部和所述第二双头探针的头部相抵接，所述待测FPC的测试焊脚分别与所述第一长探针的头部和第二长探针的头部相抵接。可选地，所述测试针模还包括双头探针转接板、主安装机构、底座安装机构和长探针转接板，其中：所述第一双头探针的尾部和所述第二双头探针的尾部分别与所述双头探针转接板上的金属触点相抵接；所述第一长探针的尾部和所述第二长探针的尾部分别穿过所述双头探针转接板、所述主安装机构和所述底座安装机构，并分别与所述长探针转接板上的金属触点相抵接；所述长探针转接板上的金属触点与所述长探针转接板上的两个端子相连通；所述双头探针转接板上的两个端子和所述长探针转接板上的两个端子相导通；所述双头探针转接板上的金属触点与所述双头探针转接板上的两个端子组成所述测试引脚。可选地，所述测试针模还包括第一电阻和第二电阻；所述第一电阻连通所述第一双头探针的尾部和所述第一长探针的尾部；所述第二电阻连通所述第二双头探针的尾部和所述第二长探针的尾部。可选地，所述第一电阻和所述第二电阻均设于所述双头探针转接板上。可选地，所述测试针模还包括导向针模机构、弹性件、导向件以及固定板，其中：所述弹性件和所述导向件分别安装于所述主针模机构和所述导向针模机构之间；所述导向针模机构的适配孔穿过所述第一双头探针、所述第二双头探针、所述第一长探针和所述第二长探针，且所述导向针模机构嵌设于所述主针模机构开设的槽内；所述固定板固定安装于所述主针模机构机构上，以使固定所述导向针模机构。可选地，所述测试针模还包括支撑机构，所述支撑机构包括多个支撑柱，所述多个支撑柱固定安装于所述主安装机构与所述底座安装机构之间。可选地，所述双头探针转接板上的两个端子和所述长探针转接板上的两个端子，分别通过第一导线和第二导线相导通。可选地，所述测试设备包括恒流单元和测压单元，其中：通过所述双头探针转接板，所述恒流单元的一端与所述第一双头探针的尾部相连，所述恒流单元的另一端与所述第二双头探针的尾部相连，所述测压单元的一端与所述第一长探针的尾部相连，所述测压单元的另一端与所述第二长探针的尾部相连。本专利技术第二方面提供一种用于FPC性能测试的测试装置，其中，所述测试装置包括测试设备以及上述第一方面任一项所述的测试针模。可选地，测试设备包括恒流单元和测压单元；所述测试设备包括恒流单元和测压单元；所述恒流单元的一端与第一双头探针的尾部相连，所述恒流单元的另一端与第二双头探针的尾部相连；所述测压单元的一端与第一长探针的尾部相连，所述测压单元的另一端与第二长探针的尾部相连。本专利技术提供一种用于FPC性能测试的测试针模和测试装置，其中，测试针模包括主针模机构、第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，其中：第一双头探针、第二双头探针、第一长探针和第二长探针均活动安装于主针模机构上，且第一双头探针的头部、第二双头探针的头部、第一长探针的头部和第二长探针的头部均伸出主针模机构上；第一双头探针的尾部和第二双头探针的尾部、第一长探针的尾部和第二长探针的尾部组成测试引脚，测试引脚与外设的测试设备相连接；当将待测FPC放置在主针模机构上，待测FPC的测试触点分别与第一双头探针的头部和第二双头探针的头部相抵接，待测FPC的测试焊脚分别与第一长探针的头部和第二长探针的头部相抵接。本专利技术提供的测试针模，通过在主针模机构上设置第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，且第一双头探针的头部、第二双头探针的头部、第一长探针的头部和第二长探针的头部均伸出主针模机构上，当将待测FPC放置在主针模机构上，待测FPC的测试触点分别与第一双头探针的头部和第二双头探针的头部相抵接，待测FPC的测试焊脚分别与第一长探针的头部和第二长探针的头部相抵接。另外，第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针的尾部组成测试引脚，通过测试引脚与外设的测试设备相连接，如此可以使得待测FPC两端的电阻R(待测FPC上相邻测试触点之间的电阻)各引出两个回路，其中一个回路作为恒流源的回路，另一个回路作为电压测试回路，从而实现真四线的测试，与假四线的测试方式相比，本专利技术实施例中的这两个回路相互独立，互不干扰，以使得被测量测的电压不会包含电流流经探针的内阻上的电压，以提高对FPC的测试精度以及测量更小范围的阻值。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是
技术介绍
中提供的假四线测试的一原理图；图2是本专利技术一实施例测试针模提供的一立体图；图3是本专利技术一实施例测试针模提供的一爆炸视图；图4是本专利技术一实施例测试针模提供的一剖视图；图5是本专利技术一实施例测试针模提供的一局部放大图；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于FPC性能测试的测试针模，其特征在于，所述测试针模包括主针模机构、第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，其中：/n所述第一双头探针、所述第二双头探针、所述第一长探针和所述第二长探针均活动安装于所述主针模机构上，且所述第一双头探针的头部、所述第二双头探针的头部、所述第一长探针的头部和所述第二长探针的头部均伸出所述主针模机构上；所述第一双头探针的尾部和所述第二双头探针的尾部、所述第一长探针的尾部和所述第二长探针的尾部组成测试引脚，所述测试引脚与外设的测试设备相连接；/n当将待测FPC放置在所述主针模机构上，所述待测FPC的测试触点分别与所述第一双头探针的头部和所述第二双头探针的头部相抵接，所述待测FPC的测试焊脚分别与所述第一长探针的头部和第二长探针的头部相抵接。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于FPC性能测试的测试针模，其特征在于，所述测试针模包括主针模机构、第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，其中：
所述第一双头探针、所述第二双头探针、所述第一长探针和所述第二长探针均活动安装于所述主针模机构上，且所述第一双头探针的头部、所述第二双头探针的头部、所述第一长探针的头部和所述第二长探针的头部均伸出所述主针模机构上；所述第一双头探针的尾部和所述第二双头探针的尾部、所述第一长探针的尾部和所述第二长探针的尾部组成测试引脚，所述测试引脚与外设的测试设备相连接；
当将待测FPC放置在所述主针模机构上，所述待测FPC的测试触点分别与所述第一双头探针的头部和所述第二双头探针的头部相抵接，所述待测FPC的测试焊脚分别与所述第一长探针的头部和第二长探针的头部相抵接。


2.根据权利要求1所述的测试针模，其特征在于，所述测试针模还包括双头探针转接板、主安装机构、底座安装机构和长探针转接板，其中：
所述第一双头探针的尾部和所述第二双头探针的尾部分别与所述双头探针转接板上的金属触点相抵接；
所述第一长探针的尾部和所述第二长探针的尾部分别穿过所述双头探针转接板、所述主安装机构和所述底座安装机构，并分别与所述长探针转接板上的金属触点相抵接；
所述长探针转接板上的金属触点与所述长探针转接板上的两个端子相连通；所述双头探针转接板上的两个端子和所述长探针转接板上的两个端子相导通；
所述双头探针转接板上的金属触点与所述双头探针转接板上的两个端子组成所述测试引脚。


3.根据权利要求2所述的测试针模，其特征在于，所述测试针模还包括第一电阻和第二电阻；
所述第一电阻连通所述第一双头探针的尾部和所述第一长探针的尾部；
所述第二电阻连通所述第二双头探针的尾部和所述第二长探针的尾部。


4.根据权利要求3所述的测试针模，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：许康俊，
申请(专利权)人：深圳市燕麦科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44