一种用于FPC性能测试的测试针模以及测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供用于FPC性能测试的测试针模和测试装置，测试针模包括主针模机构、第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，第一双头探针、第二双头探针、第一长探针和第二长探针均活动安装于主针模机构上，且第一双头探针的头部、第二双头探针的头部、第一长探针的头部和第二长探针的头部均伸出主针模机构上；第一双头探针的尾部和第二双头探针的尾部、第一长探针的尾部和第二长探针的尾部组成测试引脚，测试引脚与外设的测试设备相连接；当将待测FPC放置在主针模机构上，待测FPC的测试触点分别与第一双头探针的头部和第二双头探针的头部相抵接，待测FPC的测试焊脚分别与第一长探针的头部和第二长探针的头部相抵接，以提高测试精度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于FPC性能测试的测试针模以及测试装置
本专利技术属于柔性电路测试的
，特别是涉及一种用于FPC性能测试的测试针模以及测试装置。
技术介绍
现有技术中，针对柔性电路板(本申请简述为FPC)的测试，需要测试FPC中电阻的阻值，或者FPC线路的阻值。在FPC上，测试点的形式主要有例如B2Bconnecter(以下简称B2B)、或者金手指(以下简称ACF)等。目前针对B2B测试阻值的常用办法是使用两线的方式进行测试，或者使用假四线的方式进行测试，如图1所示的假四线测试的原理图，在实际被测FPC的应用中，由于被测FPC的B2B结构空间问题，一般会将探针的头部抵接在B2B的测试点上，并在探针的尾部分出两个点分别接入恒流源和电压表，此种方式的测量会使得测到的电压包含电流流经探针的内阻上的电压。随着FPC设计的电阻的阻值越来越小，两线测试及假四线的测试阻值的精度满足不了测试要求。因此，如何提高对FPC中B2B的测试精度亟待解决。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：针对现有技术中对于FPC测试通常为两本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于FPC性能测试的测试针模，其特征在于，所述测试针模包括主针模机构、第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，其中：/n所述第一双头探针、所述第二双头探针、所述第一长探针和所述第二长探针均活动安装于所述主针模机构上，且所述第一双头探针的头部、所述第二双头探针的头部、所述第一长探针的头部和所述第二长探针的头部均伸出所述主针模机构上；所述第一双头探针的尾部和所述第二双头探针的尾部、所述第一长探针的尾部和所述第二长探针的尾部组成测试引脚，所述测试引脚与外设的测试设备相连接；/n当将待测FPC放置在所述主针模机构上，所述待测FPC的测试触点分别与所述第一双头探针的头部和所述第二双...

【技术特征摘要】
1.一种用于FPC性能测试的测试针模，其特征在于，所述测试针模包括主针模机构、第一双头探针、第二双头探针、第一长探针以及第二长探针，其中：
所述第一双头探针、所述第二双头探针、所述第一长探针和所述第二长探针均活动安装于所述主针模机构上，且所述第一双头探针的头部、所述第二双头探针的头部、所述第一长探针的头部和所述第二长探针的头部均伸出所述主针模机构上；所述第一双头探针的尾部和所述第二双头探针的尾部、所述第一长探针的尾部和所述第二长探针的尾部组成测试引脚，所述测试引脚与外设的测试设备相连接；
当将待测FPC放置在所述主针模机构上，所述待测FPC的测试触点分别与所述第一双头探针的头部和所述第二双头探针的头部相抵接，所述待测FPC的测试焊脚分别与所述第一长探针的头部和第二长探针的头部相抵接。


2.根据权利要求1所述的测试针模，其特征在于，所述测试针模还包括双头探针转接板、主安装机构、底座安装机构和长探针转接板，其中：
所述第一双头探针的尾部和所述第二双头探针的尾部分别与所述双头探针转接板上的金属触点相抵接；
所述第一长探针的尾部和所述第二长探针的尾部分别穿过所述双头探针转接板、所述主安装机构和所述底座安装机构，并分别与所述长探针转接板上的金属触点相抵接；
所述长探针转接板上的金属触点与所述长探针转接板上的两个端子相连通；所述双头探针转接板上的两个端子和所述长探针转接板上的两个端子相导通；
所述双头探针转接板上的金属触点与所述双头探针转接板上的两个端子组成所述测试引脚。


3.根据权利要求2所述的测试针模，其特征在于，所述测试针模还包括第一电阻和第二电阻；
所述第一电阻连通所述第一双头探针的尾部和所述第一长探针的尾部；
所述第二电阻连通所述第二双头探针的尾部和所述第二长探针的尾部。


4.根据权利要求3所述的测试针模，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：许康俊，
申请(专利权)人：深圳市燕麦科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44