一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，包括金属化薄膜方块电阻测量装置，所述金属化薄膜方块电阻测量装置上端放置有金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，所述金属化薄膜方块电阻测量辅助装置包括底板、压板和连接件，所述压板位于底板的上端。本发明专利技术金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，能够完成对规定位置的方块电阻的测量，同时能够使测量速度提升大约10倍，压块压紧金属化薄膜本体，有效的防止金属化薄膜本体产生移动，便于测量，转动轴在第一弹簧的拉力下使转辊向下压金属化薄膜本体，同时使转辊在底板上滚动，便于将底板上的金属化薄膜本体保持平整。适用于金属化薄膜方块电阻测量。

【技术实现步骤摘要】
一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置
本专利技术涉及方块电阻测量装置
，具体为一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置。
技术介绍
金属化薄膜方块电阻是金属化薄膜的一个重要参数，方块电阻的准确测量对于金属化薄膜设计、金属化薄膜产品检验十分重要。但金属化薄膜一般厚度为几微米，用方块电阻测试仪测量薄膜方块电阻时存在以下几个问题：(1)要求在金属化薄膜上等间距测量方块电阻时，手动移动金属化薄膜，或者对着刻度线移动薄膜时，由于薄膜太薄且质地较软，很容易造成位置偏移，造成测量位置与要求测量位置不一致；(2)测量不同位置金属化薄膜方阻时，由于方块电阻测试仪的探针是固定的，只能移动微米级厚度的金属化薄膜时，移动过程中很容易造成金属化薄膜褶皱，从而对方块电阻测量结果造成很大影响。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，包括金属化薄膜方块电阻测量装置，所述金属化薄膜方块电阻测量装置上端放置有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，包括金属化薄膜方块电阻测量装置(1)，其特征在于：所述金属化薄膜方块电阻测量装置(1)上端放置有金属化薄膜方块电阻测量辅助装置(2)，所述金属化薄膜方块电阻测量辅助装置(2)包括底板(21)、压板(22)和连接件(23)，所述压板(22)位于底板(21)的上端，且压板(22)通过连接件(23)和底板(21)铰接，所述压板(22)上端开设有测量孔(24)。/n

【技术特征摘要】
1.一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，包括金属化薄膜方块电阻测量装置(1)，其特征在于：所述金属化薄膜方块电阻测量装置(1)上端放置有金属化薄膜方块电阻测量辅助装置(2)，所述金属化薄膜方块电阻测量辅助装置(2)包括底板(21)、压板(22)和连接件(23)，所述压板(22)位于底板(21)的上端，且压板(22)通过连接件(23)和底板(21)铰接，所述压板(22)上端开设有测量孔(24)。


2.根据权利要求1所述的一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，其特征在于：所述底板(21)和压板(22)之间放置有金属化薄膜本体(3)，所述金属化薄膜本体(3)平铺在底板(21)上端。


3.根据权利要求1所述的一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，其特征在于：所述测量孔(24)设有三十三个，且三十三个测量孔(24)为水平排列设置，且压板(22)上的测量孔(24)根据方块电阻测量位置的要求进行按照刻度线开设。


4.根据权利要求1所述的一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，其特征在于：所述底板(21)和压板(22)的边缘完全对齐设置，且当金属化薄膜本体(3)固定于底板(21)时，其边缘线与底板(21)边缘线对齐，当压板(22)放下后，金属化薄膜本体(3)边缘线同时与压板(22)的边缘线对齐。


5.根据权利要求1所述的一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，其特征在于：所述底板(21)正面固定安装有固定板(6)，所述固定板(6)上设有压辊装置(4)和压紧装置(5)。


6.根据权利要求5所述的一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置，其特征在于：所述压辊装置(4)包括连接杆(41)、滑动块(43)、固定块(44)、套板(45)、握杆(46)、转动轴(47)、转辊(48)、第一弹簧(49)和滚轮(401)，所述连接杆(41)固定安装在固定板(6)的一侧，所述连接杆(41)上开设有梯形槽(42)，所述滑动块(43)一端位于梯形槽(42)内，所述滚轮(401)设有两个，两个所述滚轮(401)分别转动安装滑动块(43)的两侧，且两滚轮(401)均位于梯形槽(42)内，所述固定块(44)固定安装在滑动块(43)的一侧，...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡今昶，张海龙，蔡长青，蔡炜，陈凯，王意飞，沈星，刘礼邦，
申请(专利权)人：国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司，国网电力科学研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42