一种多孔陶瓷材料等效折射率测量装置及孔隙率计算方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种多孔陶瓷材料等效折射率测量装置及孔隙率计算方法，该装置包括：太赫兹波源、太赫兹透镜、太赫兹探测器和信号采集及处理系统；太赫兹波源用于输出探测用的太赫兹波束；太赫兹透镜用于聚焦太赫兹波束；太赫兹探测器用于探测太赫兹波在不同频率的强度信息；信号采集及处理系统根据所述强度信息计算穿过多孔陶瓷材料后的太赫兹波的频率信息，进而计算得到多孔陶瓷材料的等效折射率；所述方法根据公式：

【技术实现步骤摘要】
一种多孔陶瓷材料等效折射率测量装置及孔隙率计算方法
本专利技术属于光学测量
，具体涉及一种多孔陶瓷材料等效折射率测量装置及孔隙率计算方法。
技术介绍
多孔陶瓷材料是一种内部具有孔状结构的陶瓷材料，由于其多孔结构特征，使其具有导热系数低、防隔热性质好的特点，被广泛应用于飞行器防隔热结构中。多孔陶瓷材料的孔隙率是多孔陶瓷材料理化特征参数之一，其大小直接影响到多孔陶瓷材料的防隔热特性。一般采用排水法测量多孔陶瓷材料的孔隙率，常规方法属于接触式测量，测量用水易造成对被测材料的损坏；其次，排水法适用于开孔多孔陶瓷材料，而针对闭孔多孔陶瓷材料，排水法不适用。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种多孔陶瓷材料等效折射率测量装置及孔隙率计算方法，能够实现对防隔热的多孔陶瓷材料内部孔隙率的非接触式测量，达到非接触、无损快速测量的效果，便于对多孔陶瓷材料进行定量化评价。本专利技术是通过下述技术方案实现的：一种多孔陶瓷材料等效折射率的测量装置，包括：太赫兹波源、第一太赫兹透镜、第二太赫兹透镜、太赫兹探测器和信本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多孔陶瓷材料等效折射率的测量装置，其特征在于，包括：太赫兹波源(1)、第一太赫兹透镜(2)、第二太赫兹透镜(4)、太赫兹探测器(5)和信号采集及处理系统(6)；/n所述太赫兹波源(1)、第一太赫兹透镜(2)、多孔陶瓷材料(3)、第二太赫兹透镜(4)及太赫兹探测器(5)按顺序间隔设定距离布置；所述太赫兹探测器(5)与所述信号采集及处理系统(6)电气连接；/n其中，所述太赫兹波源(1)用于输出探测用的太赫兹波束；所述第一太赫兹透镜(2)和第二太赫兹透镜(4)用于聚焦太赫兹波束；所述太赫兹探测器(5)用于探测经过第二太赫兹透镜(4)后的太赫兹波在不同频率的强度信息，并将所述强度信息发送给信号...

【技术特征摘要】
1.一种多孔陶瓷材料等效折射率的测量装置，其特征在于，包括：太赫兹波源(1)、第一太赫兹透镜(2)、第二太赫兹透镜(4)、太赫兹探测器(5)和信号采集及处理系统(6)；
所述太赫兹波源(1)、第一太赫兹透镜(2)、多孔陶瓷材料(3)、第二太赫兹透镜(4)及太赫兹探测器(5)按顺序间隔设定距离布置；所述太赫兹探测器(5)与所述信号采集及处理系统(6)电气连接；
其中，所述太赫兹波源(1)用于输出探测用的太赫兹波束；所述第一太赫兹透镜(2)和第二太赫兹透镜(4)用于聚焦太赫兹波束；所述太赫兹探测器(5)用于探测经过第二太赫兹透镜(4)后的太赫兹波在不同频率的强度信息，并将所述强度信息发送给信号采集及处理系统(6)；所述信号采集及处理系统(6)用于采集所述太赫兹波在不同频率的强度信息，并根据所述强度信息计算穿过多孔陶瓷材料(3)后的太赫兹波的频率信息，进而计算得到多孔陶瓷材料(3)的等效折射率。


2.如权利要求1所述的一种多孔陶瓷材料等效折射率的测量装置，其特征在于，所述太赫兹波源(1)、第一太赫兹透镜(2)、多孔陶瓷材料(3)、第二太赫兹透镜(4)及太赫兹探测器(5)的中心位于同...

【专利技术属性】
技术研发人员：高小强，吴永红，刘林，谢阳，刘浩，葛萌，王宗军，刘晓旭，
申请(专利权)人：北京航天计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11