静压测试样品对位装置及静压测试系统制造方法及图纸

本申请实施例提供一种静压测试样品对位装置及静压测试系统，第一对位平台与底座活动连接并可沿第一方向移动，并在第一对位平台上远离底座一侧设置第二对位平台与第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动，同时在底座上沿第一方向设置第一定位刻度条，在第一对位平台沿第二方向设置第二定位刻度条。如此通过第一对位平台和第二对位平台的对位移动，并分别结合第一定位刻度条和第二定位刻度条，可以对一个待测样品多个测试点位的快速准确定位，并实现对多组待测样品在同一测试点位的快速准确定位，减少人为主观移动待测样品对位造成的误差，减少测试点位的对位耗时，确保多组待测样品在同一测试点位的测试一致性，进而提高测试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
静压测试样品对位装置及静压测试系统
本申请涉及显示屏体测试
，具体而言，涉及一种静压测试样品对位装置及静压测试系统。
技术介绍
为了保证显示屏体的抗压强度符合质量要求，需要对显示屏体进行压力测试，在进行压力测试时，一般会用到静压测试设备。现有的静压测试设备存在对位误差，影响静压测试结果的准确性。
技术实现思路
基于现有设计的不足，本申请提供一种静压测试样品对位装置及静压测试系统。根据本申请的第一方面，提供一种静压测试样品对位装置，包括：底座；设置于所述底座上的第一对位平台；以及设置于所述第一对位平台上远离所述底座一侧的第二对位平台，所述第二对位平台上用于设置待测样品；其中，所述第一对位平台与所述底座活动连接并可沿第一方向移动，所述第二对位平台与所述第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动，所述底座上沿所述第一方向设置有第一定位刻度条，所述第一对位平台沿所述第二方向设置有第二定位刻度条。如此，所述静压测试样品对位装置通过第一对位平台和第二对位平台的对位移动，并分别结合第一定位本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种静压测试样品对位装置，其特征在于，包括：/n底座；/n设置于所述底座上的第一对位平台；以及/n设置于所述第一对位平台上远离所述底座一侧的第二对位平台，所述第二对位平台上用于设置待测样品；/n其中，所述第一对位平台与所述底座活动连接并可沿第一方向移动，所述第二对位平台与所述第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动，所述底座上沿所述第一方向设置有第一定位刻度条，所述第一对位平台沿所述第二方向设置有第二定位刻度条。/n

【技术特征摘要】
1.一种静压测试样品对位装置，其特征在于，包括：
底座；
设置于所述底座上的第一对位平台；以及
设置于所述第一对位平台上远离所述底座一侧的第二对位平台，所述第二对位平台上用于设置待测样品；
其中，所述第一对位平台与所述底座活动连接并可沿第一方向移动，所述第二对位平台与所述第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动，所述底座上沿所述第一方向设置有第一定位刻度条，所述第一对位平台沿所述第二方向设置有第二定位刻度条。


2.根据权利要求1所述的静压测试样品对位装置，其特征在于，所述底座上沿所述第一方向设置有第一滑轨，所述第一对位平台朝向所述底座的一面设置有第一滑动组件，所述第一滑动组件与所述第一滑轨连接。


3.根据权利要求1或2所述的静压测试样品对位装置，其特征在于，所述第一对位平台上沿所述第二方向设置有第二滑轨，所述第二对位平台朝向所述第一对位平台的一面设置有第二滑动组件，所述第二滑动组件与所述第二滑轨连接。


4.根据权利要求1-3任一项所述的静压测试样品对位装置，其特征在于，所述第二对位平台上设置有用于固定所述待测样品的固定组件。


5.根据权利要求4所述的静压测试样品对位装...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊芳庆，李伟厚，
申请(专利权)人：霸州市云谷电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13