【技术实现步骤摘要】
一种光学信息检测方法、装置及设备
本申请属于光学
,尤其涉及一种光学信息检测方法、装置及设备。
技术介绍
投影器件在进行质量检测时,需要获取光学信息,通过光学信息来判断投影器件的质量。现有技术中,对于检测所需要的光学信息并没有一套完整的获取方法,尤其对于散斑参数这一光学信息,并没有一套完整的获取方法,这样导致得到的检测结果也会出现很大误差。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种光学信息检测方法、装置及设备,可以解决现有技术中,对于检测所需要的光学信息并没有一套完整的获取方法,导致得到的检测结果误差大的问题。第一方面,本申请实施例提供了一种光学信息检测方法,包括:获取第一相机采集的投影图案的局部散斑图案;所述投影图案由散斑投影组件投射在投影屏;提取所述局部散斑图案中的有效散斑及其数量;根据所述有效散斑及其数量计算所述散斑参数。进一步地,所述散斑参数包括形变参数;所述根据所述有效散斑及其数量计算所述散斑参数,包括:获取一个所述有效散斑的最小外接圆半 ...
【技术保护点】
1.一种光学信息检测方法,其特征在于,包括:/n获取第一相机采集的投影图案的局部散斑图案;所述投影图案由散斑投影组件投射在投影屏;/n提取所述局部散斑图案中的有效散斑及其数量;/n根据所述有效散斑及其数量计算所述散斑参数。/n
【技术特征摘要】
1.一种光学信息检测方法,其特征在于,包括:
获取第一相机采集的投影图案的局部散斑图案;所述投影图案由散斑投影组件投射在投影屏;
提取所述局部散斑图案中的有效散斑及其数量;
根据所述有效散斑及其数量计算所述散斑参数。
2.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,所述散斑参数包括形变参数;
所述根据所述有效散斑及其数量计算所述散斑参数,包括:
获取一个所述有效散斑的最小外接圆半径和最大外接圆半径;
根据所述最小外接圆半径、所述最大外接圆半径、所述数量和预设形变参数计算规则,计算所述形变参数。
3.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,所述散斑参数包括亮度信息;
所述根据所述有效散斑及其数量计算所述散斑参数,包括:
获取一个所述有效散斑的平均灰度值;
根据所述平均灰度值、所述数量和预设亮度信息计算规则,计算所述亮度信息。
4.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,所述散斑参数包括散斑大小;
所述根据所述有效散斑及其数量计算所述散斑参数,包括:
获取一个所述有效散斑的最小外接圆半径和最大外接圆半径;
根据所述最小外接圆半径、所述最大外接圆半径、所述数量和预设散斑大小计算规则,计算所述散斑大小。
5.一种光学信息检测装置,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取第二相机采集的投影图案的局部散斑图案;所述投影图案由散斑投影组件投射在投影屏;
...
【专利技术属性】
技术研发人员:李文健,刘畅,黄源浩,肖振中,
申请(专利权)人:奥比中光科技集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。