一种光模块高温测试工装制造技术

本发明专利技术涉及元器件检测领域，特别是一种光模块高温测试工装。本发明专利技术通过将光模块放置在所述预热底座上的所述预热区域进行预热，当光模块预热到预设温度时插入测试板通道进行测试，待测试的光模块测试完后直接拿取预热区域的其他光模块进行测试，无需等待；与此同时，不断补充预热区域空缺的位置补充待检测的光模块；进而大大减少了测试的等待时间，能够进行不间断的测试，进而大大的提高了光模块的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块高温测试工装
本专利技术涉及元器件检测领域，特别是一种光模块高温测试工装。
技术介绍
全球通信的快速发展极大地促进了光模块生产行业的崛起。光模块拥有极大的市场空间，能否在光模块行业拥有一席之地，不仅要靠光模块的质量，更需要光模块产量作为支撑。现有光模块测试方法不一，效果较好的方案是用高低温冲击试验箱进行测试。该方案测试模块时，将插好模块的测试板放入高低温冲击试验箱的出风管道口，并保证管道口与测试板上方接触区域密闭。然后对高低温冲击试验箱进行升温操作，当测试板检测到模块温度达到预设温度时开始测试。但采用高低温冲击试验箱进行模块的高温测试时，单次只能测试一只模块，效率低；且高低温冲击试验箱价格昂贵，成本高；同时每只模块温度都需要从常温甚至低温升至预设高温才能进行测试，需要一定的温升时间。另外，现有测试方案进行测试时，测试板有的带罩子，有的不带罩子。带罩子测试时，由于罩子壁薄，强度低，经常出现拔插光模块损伤外壳的情况；不带罩子测试时，由于未进行光模块的合理限位，经常出现拔插不到位而引起无法测试的问题。本专利技术旨在设计一款光模块高温测试工装，以提高工业级光模块的检测效率，为光模块生产商带来更大的效益。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中所存在的检测效率低下的问题，提供一种光模块高温测试工装。为了实现上述专利技术目的，本专利技术提供了以下技术方案：一种光模块高温测试工装，包括烤盘，所述烤盘上设置有预热底座，所述预热底座包括光模块测试通道、测试板和预热区域；所述预热区域设置在所述预热底座上，用于预热光模块；所述测试板通过支撑部件安装在所述预热底座上；所述光模块测试通道设置在所述测试板和所述预热底座之间。本专利技术通过将光模块放置在所述预热底座上的所述预热区域进行预热，当光模块预热到预设温度时插入测试板通道进行测试，待测试的光模块测试完后直接拿取预热区域的其他光模块进行测试，无需等待；与此同时，不断补充预热区域空缺的位置补充待检测的光模块；进而大大减少了测试的等待时间，能够进行不间断的测试，进而大大的提高了光模块的测试效率。作为本专利技术的优选方案，所述光模块测试通道的数量为N个，其中N≥1。本专利技术通过设置多个光模块测试通道，从而在同一时间进行多个光模块的测试，极大的提升了光模块的测试效率。作为本专利技术的优选方案，所述测试板的数量为N个。作为本专利技术的优选方案，所述支撑部件包括锁紧螺钉和螺柱，所述测试板通过锁紧螺钉和螺柱安装在所述预热底座上。作为本专利技术的优选方案，所述光模块测试通道与待测试光模块形状大小相匹配，且内部为光滑平面，采用高强度金属材质。本专利技术通过将光模块测试通道的内表面设置为光滑金属面，便于放取光模块，减少磨损和刮伤，从而解决了光模块测试拔插不可靠、易伤模块壳体的问题。作为本专利技术的优选方案，所述光模块测试通道与所述测试板之间设有支撑部件，所述支撑部件采用隔热材料。本专利技术通过设置支撑部件，为所述测试板提供支撑的同时最大化的减少了测试板和预热底座的接触面积，从而避免测试板的温度过高影响测试性能。作为本专利技术的优选方案，所述测试板包括传输接口。作为本专利技术的优选方案，所述预热底座上设有防干涉槽，所述防干涉槽设置在所述传输接口下方。本专利技术通过防干涉槽，防止测试板上的传输接口与预热底座发生干涉，使本专利技术更加稳定。作为本专利技术的优选方案，所述预热底座通过固定螺钉安装在所述烤盘上。作为本专利技术的优选方案，所述预热区域包括多个模块预热槽。与现有技术相比，本专利技术的有益效果：1.本专利技术通过将光模块放置在所述预热底座上的所述预热区域进行预热，当光模块预热到预设温度时插入测试板通道进行测试，待测试的光模块测试完后直接拿取预热区域的其他光模块进行测试，无需等待；与此同时，不断补充预热区域空缺的位置补充待检测的光模块；进而大大减少了测试的等待时间，能够进行不间断的测试，进而大大的提高了光模块的测试效率。2.本专利技术通过设置多个光模块测试通道，从而在同一时间进行多个光模块的测试，极大的提升了光模块的测试效率。3.本专利技术通过将光模块测试通道的内表面设置为光滑金属面，便于放取光模块，减少磨损和刮伤，从而解决了光模块测试拔插不可靠、易伤模块壳体的问题。4.本专利技术通过设置支撑部件，为所述测试板提供支撑的同时最大化的减少了测试板和预热底座的接触面积，从而避免测试板的温度过高影响测试性能。5.本专利技术通过防干涉槽，防止测试板上的传输接口与预热底座发生干涉，使本专利技术更加稳定。附图说明图1为本专利技术实施例1所述的一种光模块高温测试工装的结构示意图；图2为本专利技术实施例1所述的一种光模块高温测试工装的结构爆炸图；图3为本专利技术实施例1所述的一种光模块高温测试工装中预热底座的结构示意图；图4为本专利技术实施例2所述的一种光模块高温测试工装的结构爆炸图；图5为本专利技术实施例2所述的一种光模块高温测试工装的结构示意图；图6为本专利技术实施例3所述的一种光模块高温测试工装的结构爆炸图；图7为本专利技术实施例3所述的一种光模块高温测试工装的结构示意图；图中标记：1-预热底座，2-测试板，3-测试板锁紧螺钉，4-螺柱，5-四周固定螺钉，6-A型光模块，7-烤盘，8-预热区域，9-光模块测试通道，10-防干涉槽，11-支撑部件。具体实施方式下面结合试验例及具体实施方式对本专利技术作进一步的详细描述。但不应将此理解为本专利技术上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本
技术实现思路
所实现的技术均属于本专利技术的范围。实施例1如图1和图2所示，一种光模块高温测试工装，包括烤盘7、预热底座1以及测试板2。烤盘7是使整个工装升温的关键部件，插上电源设置好温度值后，烤盘7会快速的升温并将温度传给预热底座1。与此同时，预热底座1给光模块6加热使光模块6在很短时间内达到预设温度。同时，在烤盘未工作时，本专利技术可作为光模块常温测试工装。所述预热底座1通过四周的固定螺钉5安装在所述烤盘7上，也是该光模块高温测试工装进行光模块加热的关键零部件。如图3所示，所述预热底座1包括预热区域8、防干涉槽10以及光模块测试通道9；其中预热区域8用于对光模块6进行预热处理；防干涉槽10设在测试板2的接口下方，用于防止测试板2上的元器件接口与预热底座1发生干涉。所述光模块测试通道9设置在预热底座与测试板之间，且所述光模块测试通道9内壁光滑、强度高，即避免了损伤光模块外壳的问题，又能够保证光模块与测试板接触可靠。同时，所述光模块测试通道9上方分布有支撑部件11，所述支撑部件11采用隔热材料，其形状为圆柱台状，用于支撑测试板2的同时减少测试板2和预热底座1的接触面积，避免测试板2的温度过高影响测试性能。所述测试板2通过锁紧螺钉3以及螺柱4安装在所述预热底座1上，当测试板2检测到光模块6温度到达预设温度时便开始测试。测试板2上设有传输接口，用于连接射频线、USB线以及电源线等线路。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光模块高温测试工装，包括烤盘(7)，其特征在于，所述烤盘(7)上设置有预热底座(1)，所述预热底座(1)包括光模块测试通道(9)、测试板(2)和预热区域(8)；/n所述预热区域(8)设置在所述预热底座(1)上，用于预热光模块；所述测试板(2)通过支撑部件安装在所述预热底座(1)上；所述光模块测试通道(9)设置在所述测试板(2)与所述预热底座(1)之间。/n

【技术特征摘要】
1.一种光模块高温测试工装，包括烤盘(7)，其特征在于，所述烤盘(7)上设置有预热底座(1)，所述预热底座(1)包括光模块测试通道(9)、测试板(2)和预热区域(8)；
所述预热区域(8)设置在所述预热底座(1)上，用于预热光模块；所述测试板(2)通过支撑部件安装在所述预热底座(1)上；所述光模块测试通道(9)设置在所述测试板(2)与所述预热底座(1)之间。


2.根据权利要求1所述的一种光模块高温测试工装，其特征在于，所述光模块测试通道(9)的数量为N个，其中N≥1。


3.根据权利要求2所述的一种光模块高温测试工装，其特征在于，所述测试板(2)的数量为N个。


4.根据权利要求1所述的一种光模块高温测试工装，其特征在于，所述支撑部件包括锁紧螺钉(3)和螺柱(4)，所述测试板(2)通过锁紧螺钉(3)和螺柱(4)安装在所述预热底座(1)上。


5.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨龙兵，庞兵，罗红波，姚宏，
申请(专利权)人：成都新易盛通信技术股份有限公司，四川新易盛通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51