一种半自动测试探针磨尖机制造技术

技术编号:27969196 阅读:46 留言:0更新日期:2021-04-06 14:02
本实用新型专利技术公开一种半自动测试探针磨尖机,包括安装于工作台上的载料直线驱动机构、旋转驱动机构、磨尖驱动机构和位移驱动机构。通过载料直线驱动机构带动探针沿X轴方向移动,工程塑料压块与探针抵接带动探针旋转,同时工程塑料压块以X轴垂直方向上下移动,进一步防止探针旋转出载料台;承载探针的载料台内设有与探针适配的挡料块,限制探针在放置槽内旋转,避免探针旋转过程中出现堆积;载料台与位移驱动机构两者配合调整磨砂轮与探针的接触角度,将探针端部打磨成所需的锥型或弧型。本实用新型专利技术保证磨尖机对每一探针的作用力都相同,使探针端部打磨角度、打磨长度一致,提高探针打磨精度,以及产品良率。

【技术实现步骤摘要】
一种半自动测试探针磨尖机
本技术涉及磨尖机
,特别涉及一种半自动测试探针磨尖机。
技术介绍
在电路板自动测试系统中,测试装置通过控制探针接触被测电路板上的测试点提取信号完成测试。电路板上通常包含多个测试点,随着电路板技术的不断发张,电路板逐渐向高精度、高密度和高可靠性方向发展,体积不断缩小,电路板上相邻两测试点间距也同步缩小,因此对测试电路板的测试探针要求却来越高,测试探针主体直径要求尽可能小,便于测试探针密集安装、提高测试精度。现有技术中,将探针端部进一步打磨成锥型或弧型还可进一步提高测试精度。由于测试探针主体较细,批量旋转打磨测试探针时,测试探针难以限位,测试探针容易向磨尖机的磨砂轮方向移动,导致打磨后的测试探针长短不一,降低生产合格率。
技术实现思路
本技术提出一种半自动测试探针磨尖机,旨在优化磨尖机结构,批量打磨测试探针,提高测试探针加工稳定性。为实现上述目的,本技术提出的一种半自动测试探针磨尖机,包括工作台,所述工作台上设有用于带动探针沿X轴方向移动的载料直线驱动机构、用于旋转所述探针的旋转驱动机构、用于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半自动测试探针磨尖机,包括工作台,其特征在于,所述工作台上设有用于带动探针沿X轴方向移动的载料直线驱动机构、用于旋转所述探针的旋转驱动机构、用于打磨所述探针的磨尖驱动机构,以及用于调整探针打磨角度的位移驱动机构;/n所述载料直线驱动机构驱动端沿X轴方向设置,所述载料直线驱动机构驱动端还设有一载料台,若干所述探针沿Y轴方向可旋转地并排放置于所述载料台上,所述旋转驱动机构驱动端设有一工程塑料压块,所述工程塑料压块以X轴垂直方向上下移动,且所述工程塑料压块表面与所述探针主体滑动抵接,所述磨尖驱动机构驱动端设有一磨砂轮,所述磨砂轮与所述工程塑料压块对接,所述磨砂轮也以X轴为中心旋转,且所述磨砂...

【技术特征摘要】
1.一种半自动测试探针磨尖机,包括工作台,其特征在于,所述工作台上设有用于带动探针沿X轴方向移动的载料直线驱动机构、用于旋转所述探针的旋转驱动机构、用于打磨所述探针的磨尖驱动机构,以及用于调整探针打磨角度的位移驱动机构;
所述载料直线驱动机构驱动端沿X轴方向设置,所述载料直线驱动机构驱动端还设有一载料台,若干所述探针沿Y轴方向可旋转地并排放置于所述载料台上,所述旋转驱动机构驱动端设有一工程塑料压块,所述工程塑料压块以X轴垂直方向上下移动,且所述工程塑料压块表面与所述探针主体滑动抵接,所述磨尖驱动机构驱动端设有一磨砂轮,所述磨砂轮与所述工程塑料压块对接,所述磨砂轮也以X轴为中心旋转,且所述磨砂轮与所述探针端部摩擦抵接,所述磨尖驱动机构安装于所述位移驱动机构驱动端,所述磨砂轮通过所述位移驱动机构沿Y轴方向和Z轴方向移动,改变所述磨砂轮与所述探针端部抵接角度。


2.如权利要求1所述的半自动测试探针磨尖机,其特征在于,所述载料直线驱动机构为直线驱动气缸,所述载料台安装于所述直线驱动气缸驱动端。


3.如权利要求1所述的半自动测试探针磨尖机,其特征在于,所述载料台包括固定安装于所述载料直线驱动机构驱动端的支撑件,以及与所述支撑件适配的挡料块,所述挡料块高度小于所述探针直径;所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:卢世雄
申请(专利权)人:深圳市宾德宝电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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