X射线分析装置制造方法及图纸

X射线分析装置(1)具备：试样支承部(10)，其对配置于各待机位置的多个试样(S)进行支承；搬送部(20)，其具有把持试样(S)的把持部(26)，搬送部(20)使试样在各待机位置与测定位置之间移动；X射线照射部(30)，其朝向配置于测定位置的试样照射初级X射线；检测器(40)，其检测从被照射了初级X射线的试样产生的荧光X射线；以及试样室(51)，其包括以能够分离的方式设置的第一部分(511)和第二部分(512)，在测定位置配置有试样(S)的状态下收容试样(S)和把持部(26)。第一部分(511)设置在测定位置的周边，第二部分(512)设置于搬送部(20)。在测定位置配置有试样(S)的状态下，第二部分(512)抵接于第一部分(511)，由此成为形成有试样室(51)的状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】X射线分析装置
本专利技术涉及一种向试样照射X射线并进行分析的X射线分析装置。
技术介绍
在以往的X射线分析装置中公开了如下一种技术：使载置有多个试样的旋转台旋转，使用升降机构使移动到升降位置的试样被移动至测量仪器室(参照日本特开昭60-000043号公报(专利文献1))。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开昭60-000043号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，在专利文献1所公开的X射线分析装置中，为了使试样移动至测量仪器室，必须使旋转台旋转且使各试样依次移动到升降位置。因此，无法直接使试样在配置有试样的各位置与测量仪器室之间移动。在该情况下，由于只能在旋转台的规定的移动路径上配置试样，因此难以有效地利用装置内的空间。在使用搬送机构直接使试样在配置有试样的各位置(待机位置)与测量仪器室之间移动的情况下，在将试样配置于测定位置且使搬送机构从测量仪器室退避后进行X射线分析时，搬送机构的移动路径变长。在该情况下，在搬送机构的移动时间变长、试样的数量变多时，试样的搬送本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线分析装置，具备：/n试样支承部，其对配置于各待机位置的多个试样进行支承；/n搬送部，其具有用于把持所述试样的把持部，所述搬送部使所述试样在所述各待机位置与测定位置之间移动；/nX射线照射部，其朝向配置于所述测定位置的所述试样照射初级X射线；/n检测器，其检测从被照射了所述初级X射线的所述试样产生的荧光X射线；以及/n试样室，其包括以能够分离的方式设置的第一部分和第二部分，在所述测定位置配置有所述试样的状态下所述试样室收容所述试样和所述把持部，/n其中，所述第一部分设置在所述测定位置的周边，/n所述第二部分设置于所述搬送部，/n在所述测定位置配置有所述试样的状态下，所述第二部分抵接...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种X射线分析装置，具备：
试样支承部，其对配置于各待机位置的多个试样进行支承；
搬送部，其具有用于把持所述试样的把持部，所述搬送部使所述试样在所述各待机位置与测定位置之间移动；
X射线照射部，其朝向配置于所述测定位置的所述试样照射初级X射线；
检测器，其检测从被照射了所述初级X射线的所述试样产生的荧光X射线；以及
试样室，其包括以能够分离的方式设置的第一部分和第二部分，在所述测定位置配置有所述试样的状态下所述试样室收容所述试样和所述把持部，
其中，所述第一部分设置在所述测定位置的周边，
所述第二部分设置于所述搬送部，
在所述测定位置配置有所述试样的状态下，所述第二部分抵接于所述第一部分，由此成为形成有所述试样室的状态。


2.根据权利要求1所述的X射线分析装置，其中，
还具备试样台，所述试样台用于在所述测定位置载置所述试样，
所述试样台具有第一主表面和第二主表面，其中，所述第一主表面朝向所述X射线照射部和所述检测器侧，所述第二主表面位于...

【专利技术属性】
技术研发人员：秋山刚志，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP