一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚制造技术

本实用新型专利技术涉及一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚，其特征在于，包括：至少一熔样坩埚和至少一成型坩埚，所述熔样坩埚或成型坩埚为铂金材质，所述熔样坩埚或成型坩埚为上宽下窄的锅型，底边厚度大于侧部厚度，所述底边与侧部内侧之间的连接处设置有倒角，所述侧部外侧设置有一圈安装边。本实用新型专利技术X荧光分析专用熔融铂金坩埚适合于马弗炉中进行熔样，制成的熔片具有表面光滑、样品均匀等优点，非常适合X荧光分析的准确成分分析。

【技术实现步骤摘要】
一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚
本技术涉及分析测试领域，具体涉及一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚,可以用于马弗炉进行熔融样品，熔出的样品片用于X荧光分析仪进行准确测试。
技术介绍
一般X荧光分析仪采用的熔融方式制成熔片方式进行测试，熔融时采用一次成型方式，即熔样与成型为同一个坩埚，但由于熔样坩埚使用时间长后，样品的侵蚀原因，坩埚内部越来越不光洁，从而制成的样品片表面粗糙，对测试结果带来较大的误差，为了解决这个问题，一般要求熔样坩埚每半年进行一次重新整形制作，但这样会造成大量浪费。
技术实现思路
为了克服现有技术的上述缺陷，本技术的目的在于提供一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚，成型坩埚具有能长期保持坩埚表面光洁，制成的样品表面光洁、样品均匀等优点，特别适合X荧光分析仪的测试。为了实现本技术的目的，所采用的技术方案是：一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚，包括：至少一熔样坩埚和至少一成型坩埚，所述熔样坩埚或成型坩埚为铂金材质，所述熔样坩埚或成型坩埚为上宽下窄的锅型，底边厚度大于侧部厚度，所述底边与侧部内侧之间的连接处设置有倒角，所述侧部外侧设置有一圈安装边。在本技术的一个优选实施例中，所述熔样坩埚安装边到顶部的距离为4.4mm。在本技术的一个优选实施例中，所述熔样坩埚侧部的角度为水平朝下78°。在本技术的一个优选实施例中，所述熔样坩埚安装边的厚度为0.6mm。在本技术的一个优选实施例中，所述成型坩埚侧部的角度为水平朝下105°。在本技术的一个优选实施例中，所述成型坩埚的安装边环设在顶部，厚度为0.5mm。在本技术的一个优选实施例中，所述熔样坩埚或成型坩埚为95％的金与5％的铂混合的铂金材质。本技术的有益效果在于：本技术采用新型X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚，熔融坩埚使用时间长，成型坩埚具有能长期保持坩埚表面光洁，制成的样品表面光洁、样品均匀、使用简便等优点，特别适合X荧光分析仪的测试。适合X荧光分析仪的测试。该X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚特别适合于马弗炉使用，无须使用大型自动熔样设备，为广大中小企业节约大量经费。附图说明图1为本技术的熔样坩埚图。图2为本技术的成型坩埚图具体实施方式下面结合附图给出本技术较佳实施例，以详细说明本技术的技术方案。如图1或2所示的X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚，包括了熔样坩埚100和成型坩埚200，熔样坩埚100和成型坩埚200为95％的金与5％的铂混合的铂金材质。熔样坩埚100和成型坩埚200为上宽下窄的锅型，底边110、210厚度大于侧部120、220的厚度，侧部120的角度为水平朝下78°，侧部220的角度为水平朝下105°。底边110的厚度为1.0mm，侧部120厚度为0.55mm。底边210的厚度为1.0mm，侧部220厚度为0.7mm。底边110、210与侧部120、220内侧之间的连接处设置有倒角130、230，光滑过渡，侧部120、220外侧设置有一圈安装边140、240，安装边140到顶部的距离为4.4mm。安装边140的厚度为0.6mm。安装边240环设在顶部，厚度为0.5mm。因为具备上述结构，本技术的工作原理在于：采用熔样坩埚100和成型坩埚200分离方式，一套铂金坩埚分一个熔样坩埚100和一个成型坩埚200，熔样坩埚100和成型坩埚200采用的材料一致，为95％的金与5％的铂混合的铂金材质。使用时先熔样坩埚100中进行熔融样品，再对成型坩埚200进行预热，熔样完毕，把熔样坩埚100中的熔融样品倒入成型坩埚200中，冷却后即可送荧光分析仪中进行测定。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下，本技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内，本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚，其特征在于，包括：/n至少一熔样坩埚和至少一成型坩埚，所述熔样坩埚或成型坩埚为铂金材质，所述熔样坩埚或成型坩埚为上宽下窄的锅型，底边厚度大于侧部厚度，所述底边与侧部内侧之间的连接处设置有倒角，所述侧部外侧设置有一圈安装边。/n

【技术特征摘要】
1.一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚，其特征在于，包括：
至少一熔样坩埚和至少一成型坩埚，所述熔样坩埚或成型坩埚为铂金材质，所述熔样坩埚或成型坩埚为上宽下窄的锅型，底边厚度大于侧部厚度，所述底边与侧部内侧之间的连接处设置有倒角，所述侧部外侧设置有一圈安装边。


2.如权利要求1所述的一种X荧光分析专用成套熔融铂金坩埚，其特征在于，所述熔样坩埚安装边到顶部的距离为4.4mm。


3.如权利要求1所述的一种X荧光分析专用成套熔...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘彪，郭晓明，
申请(专利权)人：上海精谱科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31