一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法技术

本发明专利技术涉及一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，具体步骤如下：步骤1：产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集；步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；步骤4：使用测试向量集排序算法基于步骤3得到的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。通过以上步骤，在不降低测试覆盖率的前提下，采用基于覆盖率排序的量产测试优化方法完成对测试向量集的排序优化，可以有效提高测试向量集的测试效率，缩短配置测试时间，降低配置测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法
本专利技术涉及一种FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法，属于集成电路

技术介绍
随着现场可编程逻辑门阵列(即FPGA)的不断发展，FPGA内嵌IP模块的种类和数量也越来越多，对FPGA的测试也带来了更多新的困难和挑战。近年来，在设计开发FPGA的过程中，其测试费用在总成本中的比重越来越高，对FPGA内部互连线资源和IP核模块的测试时间也占据了总开发时间的绝大部分。特别的，相对于FPGA内部的互连线资源，FPGA内嵌IP核具备更加复杂的内部结构和设计原理，不仅测试难度更高，其测试时间、测试经费也在FPGA的总测试开销中占据了绝大部分。千万门级FPGA内嵌PCIExpressIP核，是在2005年第一次被集成在FPGA器件上，经过十几年的发展，已经是高端FPGA必不可少的IP模块，PCIExpressIP核的出现，满足了用户对于高带宽和高数据传输速率的需求。开发针对PCIExpressIP核的成熟而有效的测试手段，是高性能本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，其特征在于，包括步骤如下：/n步骤1：产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集；/n步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；/n步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；/n步骤4：使用测试向量集排序算法和步骤3得到的节点覆盖率最高的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法，其特征在于，包括步骤如下：
步骤1：产生FPGA内嵌PCIExpressIP核测试需要的测试向量集；
步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；
步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；
步骤4：使用测试向量集排序算法和步骤3得到的节点覆盖率最高的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。


2.根据权利要求1所述的一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法，其特征在于：步骤2的具体步骤如下：
步骤21：创建包括所有测试向量文件的源文件序列，并定义整数N的初值N＝0，以及测试向量的总数M；
步骤22：对于源文件序列[N]中的测试向量文件进行功能仿真,并生成VCD数字格式文件；
步骤23：创建包括所有测试向量文件节点覆盖率的覆盖率序列；
步骤24：统计源文件序列[N]生成的VCD数字格式文件中存在0/1翻转变化的节点数目，计算得到对应的节点覆盖率，并添加至覆盖率序列[N]；
步骤25：从N＝0开始，对覆盖率序列进行大小排序，排序的规则为首先选取N＝0和N＝1两个测试向量，对比两者的覆盖率大小，确定覆盖率大的测试向量后，保留该测试向量，作为与下一个...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈雷，孙华波，张帆，李学武，李明哲，李政，杜艺波，
申请(专利权)人：北京时代民芯科技有限公司，北京微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11