检测装置、供给装置和图像形成设备制造方法及图纸

本申请题为“检测装置、供给装置和图像形成设备”。一种检测装置被配置为检测被配置为由驱动构件驱动旋转的从动构件的共转状态。该检测装置包括振动测量单元。该振动测量单元被配置为测量从动构件的振动。该检测装置被配置为基于振动测量单元的测量结果来检测从动构件的共转状态。

【技术实现步骤摘要】
检测装置、供给装置和图像形成设备
本专利技术涉及一种检测装置、供给装置以及图像形成设备。
技术介绍
迄今为止，已知一种检测装置，其检测由驱动构件驱动旋转的从动构件的共转(co-rotation)状态。作为上述检测装置，日本待审专利申请公开号2018-131282描述了一种检测装置，其包括设置在从动构件的轴上的编码器，通过编码器检测从动构件的旋转率，并基于从动构件的旋转率来检测从动构件的共转状态。然而，在日本待审专利申请公开号2018-131282中描述的检测装置具有较高的零件数并且装置结构可能很复杂。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面，一种检测装置被配置为检测被配置为由驱动构件驱动旋转的从动构件的共转状态。该检测装置包括振动测量单元。该振动测量单元被配置为测量从动构件的振动。该检测装置被配置为基于振动测量单元的测量结果来检测从动构件的共转状态。根据本专利技术的一方面，该装置结构可以被简化。附图说明图1是图像形成设备的构造示意图；图2是供给装置中的供给机构的透视图；图3是分离辊附近的放大透视图；图4是示出轴支架和附接轴的示意图；图5是用于描述供给片材的前沿位置的变化的原因的示意图；图6是根据相关技术的供给装置的透视图；图7是根据一个实施例的图像形成设备的控制框图；图8是示出振动测量装置的一个示例的示意性透视图；图9是示出对置电极的布局示例的示意图；图10是示出振动测量装置的另一示例的示意性透视图；图11是示出传感器线圈的布局示例的示意图；图12是示出由振动测量装置测量的振动数据的一个示例的曲线图；图13是将图12所示的振动数据分解为由于供给辊的偏心引起的分离辊的振动分量、由于分离辊的偏心引起的分离辊的振动分量以及其他振动分量的曲线图；图14是示出正向旋转率为60％时的振动数据的一个示例的曲线图；图15是将图14所示的振动数据分解为由于供给辊的偏心引起的分离辊的振动分量、由于分离辊的偏心引起的分离辊的振动分量以及其他振动分量的曲线图；图16是示出正向旋转率为50％时的振动数据的一个示例的曲线图；图17是将图16所示的振动数据分解为由于供给辊的偏心引起的分离辊的振动分量、由于分离辊的偏心引起的分离辊的振动分量以及其他振动分量的曲线图；以及图18是示出根据本实施例的用于确定是否需要维护分离辊的控制的控制流程图。附图旨在描绘本专利技术的示例性实施例，并且不应解释为限制其范围。在各个附图中，相同或相似的附图标号表示相同或相似的部件。具体实施方式本文使用的术语仅用于描述特定实施例的目的，而不旨在限制本专利技术。如本文所用，除非语境另外清楚地指出，否则单数形式“一”、“一个”和“该”旨在也包括复数形式。在描述附图中示出的优选实施例时，为了清楚起见可以采用特定术语。然而，本专利说明书的公开内容并不旨在限于所选择的特定术语，并且应当理解，每个特定元件包括具有相同功能、以类似方式操作并实现类似的结果的所有技术等效物。下面将参考附图详细描述本专利技术的实施例。下面将描述将本专利技术应用于图像形成设备的实施例。图1是应用了根据本专利技术的实施例的供给装置的图像形成设备的构造示意图。原稿D由原稿输送单元10沿图中的箭头方向输送(供给)以经过原稿读取单元2。原稿读取单元2以光学方式读取图像信息。曝光单元3(写入单元)基于读取的图像信息用诸如激光灯的曝光灯L照射图像形成单元4的感光鼓5。在图像形成单元4中，通过预定的图像形成过程(充电、曝光和显影步骤)在感光鼓5上形成与图像信息相对应的图像(调色剂图像)。转印单元7将形成的图像转印到片材P上，该片材P由供给装置供给并且以适当的正时被对准辊对17输送。在转印步骤之后，在包括定影辊21和压紧辊22的定影装置20中，将调色剂图像定影到片材P上，并且将片材P堆叠在排纸托盘31上。设备主体1包括多个供给装置12和13。供给装置12和13具有几乎相同的构造。供给装置13包括放置单元43(升降板)和用作供给单元的供给机构52，供给机构52用于供给放置在放置单元43上的片材P。在图中设备的右侧安装了手动供给托盘16。提供与供给装置12和13的供给机构具有相同构造的供给机构，以作为用于供给放置在手动供给托盘16上的片材P的供给单元。图中的附图标记80表示操作显示单元，该操作显示单元包括操作单元和要由使用者操作的显示单元(诸如触摸面板)。图2是供给装置13中的供给机构52的透视图。图3是分离辊附近的放大透视图。供给机构52是使用所谓的FRR片材供给系统的一种机构，该供给机构包括供给辊53、拾取辊54和分离辊55。拾取辊54被配置为使得拾取辊54可以通过臂58和螺线管与放置在放置单元43上的片材P(最上面的片材P1)接触和与之分离。供给辊53通过供给马达110(参见图7)的驱动力而沿片材供给方向被驱动旋转。当多个片材P被夹在分离辊55与供给辊53之间的分离辊隙部分中时，分离辊55用作将下部片材P与最上面的片材P分离的分离构件，从而随着供给辊53的旋转在供给方向上仅供给多个片材P中的最上面的片材P。附图标记59表示用于输送从供给机构52供给的片材的输送辊。分离辊55可旋转地附接到附接轴60。扭矩限制器62安装在附接轴60上。附接轴60可旋转地附接到轴支架63。安装在附接轴60上的扭矩限制器62将驱动力从供给马达110(参见图7)经由附接轴60传递至分离辊55，并切断驱动力。如果片材P被夹在供给辊53与分离辊55之间的分离辊隙部分中，或者如果没有片材P被夹入，则由于相对较大的旋转负荷作用在分离辊55上，扭矩限制器62切断从供给马达110到分离辊55的驱动力传递。此时，分离辊55在扭矩限制器62上滑动并与供给辊53一起旋转。如果多个片材P被夹在分离辊隙部分中，则由于片材P之间的滑动而作用在分离辊55上的旋转负载相对较低，并且扭矩限制器62将驱动力从供给马达110传递至分离辊55。因此，分离辊55通过来自供给马达110的驱动力而被驱动以在与片材供给方向相反的方向上旋转，并且除最上面的片材P1之外，将被夹在分离辊隙部分中的多个片材P中的下部片材送回到放置单元43。图4是示出轴支架63和附接轴60的示意图。如图4所示，枢轴63A设置在轴支架63的与附接轴60的支撑位置相反的两个轴向端部处。枢轴63A由设置在装置框架64上的支架保持单元64a可摆动地支撑(参见图3)。偏置构件通过偏置力f将轴支架63朝着供给辊偏置。因此，分离辊55能够以枢轴63A为支点与供给辊53接触和分离。利用这种构造，分离辊55可以跟随供给辊53的偏心、分离辊55的偏心以及这些辊的外径由于磨损(如果有的话)随着时间推移而减小，并且与供给辊53接触。考虑到降低要通过的片材的成本并且就环境友好性而言，近年来越来越多地使用包含更少的纸浆和更多的碳酸钙的片材(以下称为高碳酸钙片材)。然而，如果使本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其被配置为检测被配置为由驱动构件驱动旋转的从动构件的共转状态，所述检测装置包括：/n振动测量单元，其被配置为测量所述从动构件的振动，其中：/n所述检测装置被配置为基于所述振动测量单元的测量结果来检测所述从动构件的所述共转状态。/n

【技术特征摘要】
20190917 JP 2019-1682081.一种检测装置，其被配置为检测被配置为由驱动构件驱动旋转的从动构件的共转状态，所述检测装置包括：
振动测量单元，其被配置为测量所述从动构件的振动，其中：
所述检测装置被配置为基于所述振动测量单元的测量结果来检测所述从动构件的所述共转状态。


2.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述检测装置被配置为根据所述振动测量单元的所述测量结果来确定所述从动构件的振动周期，从而检测所述从动构件的所述共转状态。


3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其中所述振动测量单元包括与所述从动构件的轴相对的对置电极，并且被配置基于所述轴与所述对置电极之间的电容来测量所述从动构件的所述振动。


4.根据权利要求3所述的检测装置，其中所述对置电极被设置成从所述从动构件的所述轴的方向观察时与所述从动构件的位移方向交叉。


5.根据权利要求3或4所述的检测装置，其中：
至少所述对置电极的表面具有弧形形状，所述表面与所述轴相对，以及
所述对置电极与所述轴同心设置。


6.根据权利要求1或2所述的检测装置，其中所述振动测量单元包括与所述从动构件的轴相对的线圈，并被配置为在所述轴中生成涡流，并基于所述线圈的阻抗变化来测量所述从动构件的所述振动，所述阻抗取决于所述轴与所述线圈之间的距离。


7.根据权利要求1至6中的任一项所述的检测装置，其中所述从动构件是被配置为与供给辊接触以形成分离辊隙的分离辊，所述供给辊被驱动以沿片材供给方向旋转，并且在多个片材被供给到所述分离辊隙时停止共转或通过扭矩限制器的作用被驱动以沿与共转方向相反的方向旋转。


8.一种供给装置，包括：
供给辊，其被配置为被驱动以在片材供给方向上旋转；
分离辊，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：上田贤司，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：日本;JP