【技术实现步骤摘要】
自动开合装置及测试设备
本技术涉及测试设备
,特别是涉及一种自动开合装置及测试设备。
技术介绍
随着科技的不断发展,通讯设备、消费类电子等产品越来越多。芯片是该类电子产品的主要元件之一,芯片的性能直接影响电子产品的质量。待芯片生产完成后,需要对芯片进行测试,确保芯片达到标准。通常地,采用测试设备对芯片在一定温度下进行性能测试。传统的测试设备的承座顶部设有开合门,打开开合门,机械手将芯片压置在该设备的测试承座内,待芯片完成测试后取出,关闭开合门,使芯片在一个相对稳定的温度环境中进行测试,确保测试的可靠性。然而,传统的测试设备的开合门密封效果较差,这样外界环境会影响测试空间的露点,导致测试结果的可靠性较差。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种自动开合装置及测试设备,自动开合装置的密封效果好,测试结果的可靠性高。一种自动开合装置,所述自动开合装置包括:安装座,具有取放料口;开合门,包括左开合门及右开合门,所述左开合门及右开合门可移动地设于所述安装座;所述左开合门靠近所述右开合 ...
【技术保护点】
1.一种自动开合装置,其特征在于,所述自动开合装置包括:/n安装座,具有取放料口;/n开合门,包括左开合门及右开合门,所述左开合门及右开合门可移动地设于所述安装座;所述左开合门靠近所述右开合门的一侧设有第一凸台部,所述右开合门靠近所述左开合门的一侧对应设有与所述第一凸台部抵触配合的第二凸台部;/n驱动机构,用于驱动所述左开合门及右开合门移动,使所述开合门遮蔽或打开所述取放料口。/n
【技术特征摘要】
1.一种自动开合装置,其特征在于,所述自动开合装置包括:
安装座,具有取放料口;
开合门,包括左开合门及右开合门,所述左开合门及右开合门可移动地设于所述安装座;所述左开合门靠近所述右开合门的一侧设有第一凸台部,所述右开合门靠近所述左开合门的一侧对应设有与所述第一凸台部抵触配合的第二凸台部;
驱动机构,用于驱动所述左开合门及右开合门移动,使所述开合门遮蔽或打开所述取放料口。
2.根据权利要求1所述的自动开合装置,其特征在于,所述左开合门为折叠门;和/或,所述右开合门为折叠门。
3.根据权利要求2所述的自动开合装置,其特征在于,所述左开合门包括至少两个第一移动盖板,其中一个所述第一移动盖板设有第一滑槽,相邻另一个所述第一移动盖板对应设有嵌于所述第一滑槽内的第一滑动件;
和/或,所述右开合门包括至少两个第二移动盖板,其中一个所述第二移动盖板设有第二滑槽,相邻另一个所述第二移动盖板对应设有嵌于所述第二滑槽内的第二滑动件。
4.根据权利要求1所述的自动开合装置,其特征在于,所述安装座设有导向槽,所述开合门的侧部设有嵌于所述导向槽内的导向件。
5.根据权利要求1所述的自动开合装置,其特征在于,所述自动开合装置包括第一转接件及第二转接件,所述第一转接件的一端及第二转接件的一端分别连接所述左开合门及右开合门,另一端均连接所述驱动机构;
所述自动...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡冲,鲍军其,刘治震,戴雅萍,张磊,
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:浙江;33
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