一种集成双通道开关测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成双通道开关测试座，包括：上胶芯，所述上胶芯设有第一配合通孔和第二配合通孔；金属外壳；第一接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第一接触元件设有第一接触部，所述第一接触部突伸出所述上胶芯的外表面；第二接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第二接触元件设有第二接触部，所述第二接触部突伸出所述上胶芯的外表面；下胶芯；第一活动元件，设置于所述下胶芯，第一活动元件设有第一弹性部，所述第一弹性部与所述第一接触部接触。与现有技术相比，减少占用空间。

【技术实现步骤摘要】
一种集成双通道开关测试座
本技术涉及高频信号测试
，特别是涉及一种集成双通道开关测试座。
技术介绍
在电子信息领域诸如移动电话、无线局域网装置等设备中，通过开关测试座的开关功能来实现内部天线和外部天线的自由转换。另外，该开关测试座也常常安装在印刷电路板中，用于连接测试探针到印刷电路板用于测试印刷电路板的传输高频信号的性能。现有技术1(CN104752917B)公开了一种小型信号连接器，包括本体、上胶芯、下胶芯、接触元件和活动元件。不足之处是：现市场上较主流的开关测试座占用面积是1.45mm*1.45mm，更小的占用面积是1.40mm*1.20mm，在现有技术情况下，在研微型产品已经接近生产制程制造的极限。但市场上有需求两个产品并排布局在一起的情况，不足之处在于，两个产品并排在一起，占用空间大。
技术实现思路
本申请实施例的目的是提出一种集成双通道开关测试座，在设置双开关时，减少占用空间。为了实现上述目的，本技术采取的技术方案是：一种集成双通道开关测试座，包括：上胶芯，所述上胶芯设有第一配合通孔和第二配合通孔；金属外壳；第一接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第一接触元件设有第一接触部，所述第一接触部突伸出所述上胶芯的外表面；第二接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第二接触元件设有第二接触部，所述第二接触部突伸出所述上胶芯的外表面；下胶芯；第一活动元件，设置于所述下胶芯，第一活动元件设有第一弹性部，所述第一弹性部与所述第一接触部接触；第二活动元件，设置于所述下胶芯，第二活动元件设有第二弹性部，所述第二弹性部与所述第二接触部接触；隔离片，位于所述第一活动元件和所述第二活动元件之间，所述隔离片位于所述第一接触元件和所述第二接触元件之间，所述隔离片与所述下胶芯通过嵌件成型固定在一起。优选的，所述第一活动元件设有第一弹臂，所述第一弹臂向下作用于所述下胶芯，使第一弹性部向上压向第一接触部，所述第二活动元件设有第二弹臂，所述第二弹臂向下作用于所述下胶芯，使第二弹性部向上压向第二接触部。优选的，所述金属外壳设有第一凹部，所述上胶芯设有第一凸部，所述第一凹部与所述第一凸部配合。优选的，所述第一活动件设有第一卡槽，所述第二活动件设有第二卡槽，所述上胶芯设有第一卡部和第二卡部，所述第一卡槽与所述第一卡部配合，所述第二卡槽与所述第二卡部配合。优选的，所述金属外壳设有止挡部，所述下胶芯设有限位槽，所述止挡部与所述限位槽配合，使上胶芯、第一活动元件、第二活动元件、下胶芯固定在一起，所述下胶芯设有止位部，所述止位部与所述止挡部配合。优选的，所述隔离片设有突伸部，所述突伸部位于位于所述第一活动元件和所述第二活动元件之间，所述突伸部位于所述第一接触元件和所述第二接触元件之间。优选的，所述隔离片呈十字型。本技术的有益效果在于：第一接触元件和第二接触元件均与同一个上胶芯过嵌件成型固定在一起，第一活动元件和第二活动元件均设置在同一个下胶芯上，从而集成双通道开关测试座，可以进行双通道高频信号测试，与现有技术相比，减少占用面积；另外，通过隔离片，防止第一活动元件与第二活动元件发生电磁干扰，防止第一接触件与第二接触件发生电磁干扰。附图说明图1为本技术实施例的立体图；图2为本技术实施例的俯视图；图3为本技术实施例的金属外壳的立体图；图4为本技术实施例的上胶芯的立体图；图5为本技术实施例的上胶芯的另一视角立体图；图6为本技术实施例的第一活动元件的立体图；图7为本技术实施例的下胶芯的立体图；图8为本技术实施例的下胶芯的另一视角立体图；图9为本技术实施例的隔离片的立体图；图10为本技术实施例的上胶芯、第一活动元件和第二活动元件的结构位置示意图；图11为本技术实施例的第一接触元件、第二接触元件、下胶芯、第一活动元件和第二活动元件的结构位置示意图；图12为本技术实施例的第一接触元件、下胶芯和第一活动元件的剖面示意图。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施的限制。如图1至图12所示。本实施例公开了一种集成双通道开关测试座包括上胶芯110、金属外壳120、第一接触元件130、第二接触元件140、第一活动元件150、第二活动元件160、下胶芯170和隔离片180。图4和图5所示，上胶芯110为绝缘塑胶材料，其包括第一配合通孔111、第二配合通孔112、第一凸部113、第一卡部114和第二卡部115。探针通过第一配合通孔111与第一活动元件150接触导电，或者探针通过第二配合通孔112与第二活动元件160接触导电，进行高频信号测试。图2所示，金属外壳120，为壳体状，其包括第一凹部121和止挡部122。第一凹部121和第一凸部113均为四个，第一凹部121和第一凸部113配合，使金属外壳120定位在上胶芯110上更稳定。图7和图8所示，下胶芯170，为绝缘塑胶材料，其包括限位槽171和止位部172。该止挡部122通过铆压而成，使上胶芯110、第一活动元件150、第二活动元件160、下胶芯170固定在一起，该止位部172与该止挡部122配合，从而防止金属外壳120松脱。图12所示，第一接触元件130，为金属弹片，其与该上胶芯110通过嵌件成型固定在一起。第一接触元件130包括第一接触部131和第一接触元件焊接部132。所述第一接触部131突伸出所述上胶芯110的外表面，第一接触元件焊接部132焊接在电路板上实现导电连接。图6所示，第一活动元件150，为金属弹片设置于所述下胶芯170，第一活动元件150设有第一弹性部151、第一活动元件焊接部152、第一弹臂153和第一卡槽154。该第一弹性部151与所述第一接触部131接触，以实现导电连接，该第一活动元件焊接部152焊接在电路板上实现导电连接，第一弹臂153向下作用于所述下胶芯170，使第一弹性部151向上压向第一接触部131，从而使第一弹性部151与第一接触部131良好的接触，保证导电连接。第一卡槽154与第一卡部114配合，使第一活动元件150定位在上胶芯110更稳定。图12所示，第二接触元件140，其与所述第一接触元件130结构相同，为金属弹片，其与该上胶芯110通过嵌件成型固定在一起。第二接触元件140包括第二接触部141和第二接触元件焊接部142。所述第二本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成双通道开关测试座，其特征在于，包括：/n上胶芯，所述上胶芯设有第一配合通孔和第二配合通孔；/n金属外壳；/n第一接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第一接触元件设有第一接触部，所述第一接触部突伸出所述上胶芯的外表面；/n第二接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第二接触元件设有第二接触部，所述第二接触部突伸出所述上胶芯的外表面；/n下胶芯；/n第一活动元件，设置于所述下胶芯，第一活动元件设有第一弹性部，所述第一弹性部与所述第一接触部接触；/n第二活动元件，设置于所述下胶芯，第二活动元件设有第二弹性部，所述第二弹性部与所述第二接触部接触；/n隔离片，位于所述第一活动元件和所述第二活动元件之间，所述隔离片位于所述第一接触元件和所述第二接触元件之间，所述隔离片与所述下胶芯通过嵌件成型固定在一起。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成双通道开关测试座，其特征在于，包括：
上胶芯，所述上胶芯设有第一配合通孔和第二配合通孔；
金属外壳；
第一接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第一接触元件设有第一接触部，所述第一接触部突伸出所述上胶芯的外表面；
第二接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第二接触元件设有第二接触部，所述第二接触部突伸出所述上胶芯的外表面；
下胶芯；
第一活动元件，设置于所述下胶芯，第一活动元件设有第一弹性部，所述第一弹性部与所述第一接触部接触；
第二活动元件，设置于所述下胶芯，第二活动元件设有第二弹性部，所述第二弹性部与所述第二接触部接触；
隔离片，位于所述第一活动元件和所述第二活动元件之间，所述隔离片位于所述第一接触元件和所述第二接触元件之间，所述隔离片与所述下胶芯通过嵌件成型固定在一起。


2.如权利要求1所述的一种集成双通道开关测试座，其特征在于：所述第一活动元件设有第一弹臂，所述第一弹臂向下作用于所述下胶芯，使第一弹性部向上压向第一接触部，所述第二活动元件设有第二弹臂，所述第二弹臂向下作用于所述下胶芯，使第...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱良，吕银涛，黄颗，
申请(专利权)人：电连技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44