一种多周期双发射指令可发射的检测电路及方法技术

本发明专利技术涉及一种多周期双发射指令可发射的检测电路及方法，本发明专利技术的检测电路包括指令存储模块、发射检测模块和执行单元模块,其中：指令存储模块与发射检测模块连接，用于给发射检测模块输出预译码的双发射指令的信息，双发射指令之间不存在相关；发射检测模块与指令存储模块、执行单元模块连接，实现多个warp上双发射指令执行4个周期可发射的检测，并在第4个周期发出warp指令发射请求；执行单元模块与发射检测模块连接，执行指令的各类运算，将执行结果输出给发射检测模块，有效4个周期。本发明专利技术可以提高统一染色器阵列中多warp多周期双发射指令的发射效率。

【技术实现步骤摘要】
一种多周期双发射指令可发射的检测电路及方法
本专利技术属于计算机图形处理硬件领域，涉及一种多周期双发射指令可发射的检测电路及方法。
技术介绍
统一染色器阵列是图形处理器的关键执行部件，主要进行顶点和像素染色，采用了RISC双发射指令架构，支持多个warp染色程序，多种并行运算单元乱序执行、乱序写回，这对统一染色器阵列中的双发射指令高效执行提出了很高的要求。因此统一染色器阵列中关于多个warp多周期双发射指令可发射条件检测的设计实现就特别关键。
技术实现思路
本专利技术为解决
技术介绍
中存在的上述技术问题，而提供一种多周期双发射指令可发射的检测电路及方法，可以提高统一染色器阵列中多warp多周期双发射指令的发射效率。本专利技术的技术解决方案：本专利技术为一种多周期双发射指令可发射的检测电路，其特殊之处在于：该检测电路包括指令存储模块、发射检测模块和执行单元模块,其中：指令存储模块与发射检测模块连接，用于给发射检测模块输出预译码的双发射指令的信息，双发射指令之间不存在相关；发射检测模块与指令存储模块、执行单本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多周期双发射指令可发射的检测电路，其特征在于：该检测电路包括指令存储模块、发射检测模块和执行单元模块,其中：/n所述指令存储模块与发射检测模块连接，用于给发射检测模块输出预译码的双发射指令的信息，双发射指令之间不存在相关；/n所述发射检测模块与指令存储模块、执行单元模块连接，实现多个warp上双发射指令执行4个周期可发射的检测，并在第4个周期发出warp指令发射请求；/n所述执行单元模块与发射检测模块连接，执行指令的各类运算，将执行结果输出给发射检测模块，有效4个周期。/n

【技术特征摘要】
1.一种多周期双发射指令可发射的检测电路，其特征在于：该检测电路包括指令存储模块、发射检测模块和执行单元模块,其中：
所述指令存储模块与发射检测模块连接，用于给发射检测模块输出预译码的双发射指令的信息，双发射指令之间不存在相关；
所述发射检测模块与指令存储模块、执行单元模块连接，实现多个warp上双发射指令执行4个周期可发射的检测，并在第4个周期发出warp指令发射请求；
所述执行单元模块与发射检测模块连接，执行指令的各类运算，将执行结果输出给发射检测模块，有效4个周期。


2.根据权利要求1所述的多周期双发射指令可发射的检测电路，其特征在于：所述发射检测模块中，可发射的检测方法是检测数据、功能单元和寄存器写回通路都不相关，则满足发射条件。


3.根据权利要求1所述的多周期双发射指令可发射的检测电路，其特征在于：所述执行单元模块包含流水单元和非流水单元，流水单元包含有定点加法单元、定点乘法单元、浮点加法单元、浮点前置处理单元和浮点乘法单元；非流水单元包含有定点除法单元、浮点除法单元和加载存储单元(LSU)。


4.根据权利要求3所述的多周期双发射指令可发射的检测电路，其特征在于：所述定点除法单元和浮点除法单元为阻塞的非流水单元，加载存储单元为非阻塞的非流水单元，可同时运行多个warp的任务。


5.一种实现权利要求1所述的多周期双发射指令可发射的检测电路的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
1)功能单元相关性检测
1.1)阻塞的非流水单元的执行周期按照最快的执行时间预估，其占用时间从下发阻塞的非流水单元指令开始，到阻塞的非流水单元指令执行状态最后4个周期前结束，在这期间，阻塞的非流水功能单元有待下发的指令时，发生功能单元相关，则双发射指令不能发射；
1.2)非...

【专利技术属性】
技术研发人员：牛少平，田泽，魏艳艳，刘航，邓艺，张少锋，
申请(专利权)人：西安翔腾微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61