测量设备点检方法及运行控制装置、计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测量设备点检方法，其特征在于，包括以下步骤：获取若干级判定物料组；获取判定物料组的每一判定物料的测量值；将每一测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一判定物料的单点偏差率；根据每一判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；根据第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；若第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率；根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性。通过本发明专利技术的测量设备点检方法无需制作仿形标定块，直接采用判定物料组进行点检，减少标定块的制作成本与工时，同时能快速准确地得到点检结果；同时测量多个判定物料进行点检，节省时间，提升点检效率。

【技术实现步骤摘要】
测量设备点检方法及运行控制装置、计算机可读存储介质
本专利技术涉及电池PACK制造领域，特别涉及一种测量设备点检方法及运行控制装置、计算机可读存储介质。
技术介绍
传统的判定方式是定做一个完全模仿锂离子电池的外形尺寸来加工制作的标定块，尺寸精准，经专业检测机构鉴定，具备尺寸标准值，测量设备在测量标定块之后，比较测量值与标定值之间的差异，从而判定测量设备的稳定性。但是在实际情况中，由于产品的结构形状、光泽度等因素，制作标定块的难度非常大，成本极高，甚至无法制作；仿形标定块极其难以加工，耗费大量人力，时间和资金去验证，实际结果不理想，不能实现测量设备的准确点检。
技术实现思路
本专利技术的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种测量设备点检方法，直接对实际产品进行点检，无需定制标定块，减少成本，同时能够符合点检要求。根据本专利技术第一方面实施例的测量设备点检方法，包括以下步骤：获取若干级判定物料组，其中，所述判定物料组的等级序列根据判定物料的使用频次确定；获取判定物料使用频次最高对应的所述判定物料组的每一判定物料的测量值；将每一所述测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一所述判定物料的单点偏差率；根据每一所述判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；若所述第一平均偏差率不在预设范围，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，其中该下一级判定物料组的判定物料使用频次相较前一次使用的判定物料组的使用频次低；根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性。根据本专利技术实施例的测量设备准确性判定方法，至少具有如下技术效果：通过本专利技术的测量设备准确性判定方法无需制作仿形标定块，直接采用判定物料组进行点检，减少标定块的制作成本与工时，同时能快速准确地得到点检结果；同时测量多个判定物料进行点检，节省时间，提升点检效率。根据本专利技术的一些实施例，在所述获取每一所述判定物料的单点偏差率之后，所述测量设备点检方法包括以下步骤：若所述单点偏差率小于第一预设值，则判定为合格，进行下一个单点偏差率的判定；或，若所述单点偏差率大于所述第一预设值，则判定为不合格，重新获取当前所述单点偏差率，再次对重新获取的单点偏差率进行判定。根据本专利技术的一些实施例，所述根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性，包括：若所述第一平均偏差率小于第二预设值，则确定测量设备准确性合格。根据本专利技术的一些实施例，所述若所述第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，还包括：若所述第一平均偏差率大于第二预设值，则重新获取当前所述第一平均偏差率；将重新获取的第一平均偏差率与所述第二预设值进行比较；若重新获取的第一平均偏差率大于所述第二预设值，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率。根据本专利技术的一些实施例，所述根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性，包括：若所述第二平均偏差率小于所述第二预设值，则确定所述测量设备准确性合格。根据本专利技术的一些实施例，还包括以下步骤：所述根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性，还包括以下步骤：若所述第二平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第三平均偏差率；根据所述第三平均偏差率，确定所述测量设备的准确性。根据本专利技术的一些实施例，还包括以下步骤：存储所述单点偏差率与所述第一平均偏差率；根据所述单点偏差率，输出单点偏差结果；根据所述第一平均偏差率，输出平均偏差结果。根据本专利技术的一些实施例，所述将每一所述测量值与初测值数据库进行匹配，包括：将所述判定物料组的每一判定物料与初测值数据库进行匹配，获取所述判定物料组的每一判定物料对应的初测值；根据每一所述测量值、所述初测值与公差，计算得到每一所述判定物料的单点偏差率。根据本专利技术第二方面实施例的运行控制装置，包括：至少一个控制处理器，以及与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个控制处理器执行，以使所述至少一个控制处理器能够执行上述第一方面所述的测量设备点检方法。根据本专利技术第三方面实施例的计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行上述第一方面所述的测量设备点检方法。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步地说明；图1为本专利技术实施例的测量设备点检方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例的判定单点偏差率的流程示意图；图3为本专利技术实施例的确定测量设备的准确性的流程示意图；图4为本专利技术实施例的根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性的流程示意图；图5为本专利技术实施例的获取每一判定物料的单点偏差率的流程示意图；图6为本专利技术另一实施例的运行控制装置的示意图。具体实施方式本部分将详细描述本专利技术的具体实施例，本专利技术之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本专利技术的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本专利技术保护范围的限制。在本专利技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。下面参考附图描述根据本专利技术实施例的测量设备点检方法。如图1所示，根据本专利技术实施例的测量设备点检方法，包括以下步骤：S100：获取若干级判定物料组，其中，判定物料组的等级序列根据判定物料的使用频次确定；S200：获取判定物料使用频次最高对应的判定物料组的每一判定物料的测量值；S300：将每一测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一判定物料的单点偏差率；S400：根据每一判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；S500：根据第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；S600：若第一平均偏差率不在预设范围，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，其中该下一级判定物料组的判定物料使用频次相较前一次使用的判定物料组的使用频次低；S700：根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性。判定物料来自生产方与客户均进行过相关性测量并被双方认可的物料，且该物料从实际产品中选取。在本具体实施例中，判定物料组有三组，分别为一级判定物料组、二级判定物料组、三级判定物料组。一级判定物料组即工作物料组，在以下情况使用：每日点检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量设备点检方法，其特征在于，包括以下步骤：/n获取若干级判定物料组，其中，所述判定物料组的等级序列根据判定物料的使用频次确定；/n获取判定物料使用频次最高对应的所述判定物料组的每一判定物料的测量值；/n将每一所述测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一所述判定物料的单点偏差率；/n根据每一所述判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；/n根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；/n若所述第一平均偏差率不在预设范围，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，其中该下一级判定物料组的判定物料使用频次相较前一次使用的判定物料组的使用频次低；/n根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量设备点检方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取若干级判定物料组，其中，所述判定物料组的等级序列根据判定物料的使用频次确定；
获取判定物料使用频次最高对应的所述判定物料组的每一判定物料的测量值；
将每一所述测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一所述判定物料的单点偏差率；
根据每一所述判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；
根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；
若所述第一平均偏差率不在预设范围，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，其中该下一级判定物料组的判定物料使用频次相较前一次使用的判定物料组的使用频次低；
根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性。


2.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，其特征在于，在所述获取每一所述判定物料的单点偏差率之后，所述测量设备点检方法包括以下步骤：
若所述单点偏差率小于第一预设值，则判定为合格，进行下一个单点偏差率的判定；或，
若所述单点偏差率大于所述第一预设值，则判定为不合格，重新获取当前所述单点偏差率，再次对重新获取的单点偏差率进行判定。


3.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，其特征在于，所述根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性，包括：
若所述第一平均偏差率小于第二预设值，则确定测量设备准确性合格。


4.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，其特征在于，所述若所述第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，还包括：
若所述第一平均偏差率大于第二预设值，则重新获取当前所述第一平均偏差率；
将重新获取的第一平均偏差率与所述第二预设值进行比较；
若重新获取的第一平均偏差率大于所述第二预设值，则获取下一级判定物料组的...

【专利技术属性】
技术研发人员：周雪斌，万海林，方挣挣，
申请(专利权)人：欣旺达电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44