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一种针对PCB测试用自动上下料设备制造技术

技术编号:27842234 阅读:11 留言:0更新日期:2021-03-30 12:33
本发明专利技术涉及一种自动上下料设备,尤其涉及一种针对PCB测试用自动上下料设备。本发明专利技术提供一种能够减少人工参与度和提高测试结果精确度的针对PCB测试用自动上下料设备。一种针对PCB测试用自动上下料设备,包括:基座,基座上设有上料机构;下料机构,基座上设有下料机构。本发明专利技术通过设有上料机构,第二滑动块在从最底部向上运动过程中将测试板向上托起,第二滑动块在从最顶部向下运动过程中将测试板放在第二导料滚动组件上,PCB板滑落至基座上并进行测试,实现了上料的效果;通过第三楔形块带动弧形夹块向内侧相向运动,第一伸缩组件伸长,实现对测试时的PCB板进行前后方向的夹紧效果。效果。效果。

【技术实现步骤摘要】
一种针对PCB测试用自动上下料设备


[0001]本专利技术涉及一种自动上下料设备,尤其涉及一种针对PCB测试用自动上下料设备。

技术介绍

[0002]PCB板是一种相对精密的电子元件,PCB板表面由一些焊接电路缠绕组成,如果像普通板一样采取进行夹取装盘的方式进行上下料则容易损坏电路。目前对于PCB板上下来料主要采传送带传送,流水皮带线运送PCB板到达加工工位,人工取下PCB板,这种上下料方式对人工依赖性较高。
[0003]专利申请CN207061271U,公开日为20180302,公开了一种PCB板自动上下料机构,该专利技术包括第一传送带、第二传送带和推杆模组等,通过设有宽度调节模组和第一传送带第二传送等,本专利技术不仅结构简单、可输送不同规格产品,同时能够提升生产效率、降低生产成本,应用于自动化生产线的
,然而该设备不能对输送过程中的PCB板在检测时精准定位和夹紧,可能影响检测结果。
[0004]因而,我们需要设计一种能够减少人工参与度和提高测试结果精确度的针对PCB测试用自动上下料设备。

技术实现思路

[0005]为了克服现有PCB测试用上下料方式存在人工参与度较高和影响测试结果精确度的缺点,本专利技术的目的是提供一种能够减少人工参与度和提高测试结果精确度的针对PCB测试用自动上下料设备。
[0006]技术方案为:一种针对PCB测试用自动上下料设备,包括:基座,基座上设有上料机构;下料机构,基座上设有下料机构。
[0007]作为上述方案的改进,上料机构包括:第一支撑柱组件,基座上设有第一支撑柱组件;第一导料滚动组件,第一支撑柱组件顶部设有第一导料滚动组件;第二支撑组件,基座上设有第二支撑组件;第二导料滚动组件,第二支撑组件顶部设有第二导料滚动组件;第一轴承座,基座上安装有第一轴承座;电机,基座上安装有电机;第一转轴,第一轴承座下部有第一转轴,第一转轴与电机输出轴连接;第二转轴,第一轴承座上部安装有第二转轴;链条链轮组件,第一转轴和第二转轴之间连接有链条链轮组件;固定滑杆组件,基座上设有固定滑杆组件;第一滑动块,固定滑杆组件上滑动式设有第一滑动块;第二滑动块,第一滑动块内滑动式设有第二滑动块,第二滑动块与链条链轮组件
连接。
[0008]作为上述方案的改进,下料机构包括:第三支撑组件,基座上设有第三支撑组件;斜向导向轨,基座上设有斜向导向轨;平行导向轨,第三支撑组件顶部设有平行导向轨,平行导向轨与斜向导向轨连接;滚动圆柱,平行导向轨上均匀转动式连接有滚动圆柱。
[0009]作为上述方案的改进,还包括有定位机构,基座上设有定位机构,定位机构包括:气缸,基座上安装有气缸;第一顶块,气缸顶部设有第一顶块;第一连接杆,第一顶块上设有第一连接杆;第一楔形块,第一连接杆顶端设有第一楔形块;第二连接杆,第一顶块上设有第二连接杆;第二楔形块,第二连接杆顶端设有第二楔形块,第二连接杆和第二楔形块均与基座中间上部滑动式连接。
[0010]作为上述方案的改进,还包括有夹紧机构,第一楔形块上部和基座上中间设有夹紧机构,夹紧机构包括:第三连接杆,第一楔形块上部设有两根第三连接杆;第三楔形块,第三连接杆底端设有第三楔形块;固定块,基座中间设有固定块;第一伸缩组件,固定块内侧设有第一伸缩组件;弧形夹块,第一伸缩组件内端设有弧形夹块,弧形夹块与第三楔形块配合。
[0011]作为上述方案的改进,还包括有推料机构,第一楔形块下部和基座中间设有推料机构,推料机构包括:第二伸缩组件,第一楔形块下部设有两个第二伸缩组件;第二顶块,两个第二伸缩组件之间连接有第二顶块;第三滑动块,第二顶块上设有第三滑动块;挡块,基座中间设有挡块,第二顶块与挡块滑动式接触。
[0012]作为上述方案的改进,还包括:除尘机构,基座上中间设有除尘机构,除尘机构与第一转轴连接。
[0013]作为上述方案的改进,除尘机构包括:第二轴承座,基座上中间安装有第二轴承座;第三轴承座,第二轴承座顶部安装有第三轴承座;第三转轴,第二轴承座上部安装有第三转轴;第四转轴,第三轴承座下部安装有第四转轴;第五转轴,第三轴承座上部安装有第五转轴;传动组件,第三转轴与第一转轴之间连接有传动组件;第一锥齿轮组,第三转轴与第四转轴下部之间设有第一锥齿轮组;第二锥齿轮组,第四转轴上部与第五转轴之间使设有第二锥齿轮组;风扇,第五转轴上设有风扇。
[0014]有益效果为:1、本专利技术通过设有上料机构,第二滑动块在从最底部向上运动过程中将测试板向上托起,第二滑动块在从最顶部向下运动过程中将测试板放在第二导料滚动组件上,PCB板滑落至基座上并进行测试,实现了上料的效果;2、通过设有下料机构,PCB板继续向右滑动,并沿着斜向导向轨向下滑动,经过滚动圆柱时使得滚动圆柱转动,因而使PCB板减速右行,并停留在平行导向轨上,实现下料的效果;3、通过气缸带动第一顶块上下往复运动,从而带动第一顶块上下运动,从而带动第一连接杆和第二连接杆上下运动,进而带动第一楔形块和第二楔形块上下运动,第一楔形块和第二楔形块向上运动即实现对PCB板进行左右方向的定位效果;4、通过第三楔形块带动弧形夹块向内侧相向运动,第一伸缩组件伸长,实现对测试时的PCB板进行前后方向的夹紧效果;5、通过设有定位机构和推料机构配合,推料机构朝右上方的方向将PCB板向右推到斜向导向轨上;6、通过第五转轴转动带动风扇转动,实现对PCB板表面的灰尘进行吹灰除尘的效果,使得测试值更精确。
附图说明
[0015]图1为本专利技术的立体结构示意图。
[0016]图2为本专利技术的上料机构立体结构示意图。
[0017]图3为本专利技术的下料机构立体结构示意图。
[0018]图4为本专利技术的定位机构立体剖面结构示意图。
[0019]图5为本专利技术的夹紧机构立体结构示意图。
[0020]图6为本专利技术的推料机构立体剖面结构示意图。
[0021]图7为本专利技术的除尘机构立体结构示意图。
[0022]图中标号名称:1、基座,2、上料机构,21、第一支撑柱组件,22、第一导料滚动组件,23、第二支撑组件,24、第二导料滚动组件,25、第一轴承座,26、电机,27、第一转轴,28、第二转轴,29、链条链轮组件,210、固定滑杆组件,211、第一滑动块,212、第二滑动块,3、下料机构,31、第三支撑组件,32、斜向导向轨,33、平行导向轨,34、滚动圆柱,4、定位机构,41、气缸,42、第一顶块,43、第一连接杆,44、第一楔形块,45、第二连接杆,46、第二楔形块,5、夹紧机构,51、第三连接杆,52、第三楔形块,53、固定块,54、第一伸缩组件,55、弧形夹块,6、推料机构,61、第二顶块,62、第二伸缩组件,63、第三滑动块,64、挡块,7、除尘机构,71、第二轴承座,72、第三轴承座,73、第三转轴,74、第四转轴,75、第五转轴,76、传动组件,77、第一锥齿轮组,78、第二锥齿轮组,79、风扇。
具体实施方式
[0023]以下结合具体实施例对上述方案本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对PCB测试用自动上下料设备,其特征是,包括:基座(1),基座(1)上设有上料机构(2);下料机构(3),基座(1)上设有下料机构(3)。2.如权利要求1所述的一种针对PCB测试用自动上下料设备,其特征是,上料机构(2)包括:第一支撑柱组件(21),基座(1)上设有第一支撑柱组件(21);第一导料滚动组件(22),第一支撑柱组件(21)顶部设有第一导料滚动组件(22);第二支撑组件(23),基座(1)上设有第二支撑组件(23);第二导料滚动组件(24),第二支撑组件(23)顶部设有第二导料滚动组件(24);第一轴承座(25),基座(1)上安装有第一轴承座(25);电机(26),基座(1)上安装有电机(26);第一转轴(27),第一轴承座(25)下部有第一转轴(27),第一转轴(27)与电机(26)输出轴连接;第二转轴(28),第一轴承座(25)上部安装有第二转轴(28);链条链轮组件(29),第一转轴(27)和第二转轴(28)之间连接有链条链轮组件(29);固定滑杆组件(210),基座(1)上设有固定滑杆组件(210);第一滑动块(211),固定滑杆组件(210)上滑动式设有第一滑动块(211);第二滑动块(212),第一滑动块(211)内滑动式设有第二滑动块(212),第二滑动块(212)与链条链轮组件(29)连接。3.如权利要求2所述的一种针对PCB测试用自动上下料设备,其特征是,下料机构(3)包括:第三支撑组件(31),基座(1)上设有第三支撑组件(31);斜向导向轨(32),基座(1)上设有斜向导向轨(32);平行导向轨(33),第三支撑组件(31)顶部设有平行导向轨(33),平行导向轨(33)与斜向导向轨(32)连接;滚动圆柱(34),平行导向轨(33)上均匀转动式连接有滚动圆柱(34)。4.如权利要求3所述的一种针对PCB测试用自动上下料设备,其特征是,还包括有定位机构(4),基座(1)上设有定位机构(4),定位机构(4)包括:气缸(41),基座(1)上安装有气缸(41);第一顶块(42),气缸(41)顶部设有第一顶块(42);第一连接杆(43),第一顶块(42)上设有第一连接杆(43);第一楔形块(44),第一连接杆(43)顶端设有第一楔形块(44);第二连接杆(45),第一顶块(42)上设有第二连接杆(45);第二楔形块(46),第二连接杆(45)...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢庚香
申请(专利权)人:谢庚香
类型:发明
国别省市:

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