一种基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法、系统及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法、系统及存储介质，基于现有的SCADA平台和61850通讯采集二次设备提供的光纤接口发送光强数据，二次设备光强测量数据入历史库，在每个给定时间间隔内分别计算光强的算数平均值和标准差，分别用来评价光模块的老化程度和稳定性；使用最小二乘法对计算得到的所有平均值和标准差分别进行自适应回归分析，得到两个回归方程；检修人员通过SCADA监控后台实时给定光强强度检修阈值和光强标准差检修阈值，获得基于回归方程的建议检修时间。本发明专利技术有效地提升了过程层光模块的运行状态预测水平，实现了对检修时间的动态预测，实现检修资源的优化配置和促进检修效率的提高。现检修资源的优化配置和促进检修效率的提高。现检修资源的优化配置和促进检修效率的提高。

【技术实现步骤摘要】
一种基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法、系统及存储介质


[0001]本专利技术涉及智能变电站过程层状态检修领域，尤其涉及一种基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法、系统及存储介质。

技术介绍

[0002]继电保护系统是电力系统中的重要组成部分。对保证电力系统的安全经济运行，防止事故发生和扩大起到关键性的作用。目前，从电力系统实际运行情况来看，因为电力继电保护引起的事故还是较多的，造成局部电网解列失压，带来不少经济损失，对电网安全构成很大威胁。
[0003]目前，继电保护的检修以人工进行定期检验为主。定期检修的试验方法、结果真实可信，试验项目齐全，可以发现问题，消除安全隐患。但这种不根据设备的实际情况、单纯按规定的时间间隔进行维修的方式，会造成设备有效利用时间的损失，甚至会引发维修故障，并且两次检修之间装置发生故障不能及时发现。
[0004]状态检修通过充分利用微机保护装置本身所具有的装置硬件监测以及部分二次回路在线监测功能，对设备的状态进行采集评价，国内外一些电力企业应用电力设备状态检修的实践都能证明，这种设备检修管理策略具本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，包括以下步骤：1)由SCADA平台采集二次设备提供的光纤接口发送光强数据；2)二次设备光强测量数据入历史库，给定时间间隔，分别计算光强的算数平均值和标准差；3)使用最小二乘法对计算得到的所有平均值和标准差分别进行自适应回归分析，并根据SCADA监控后台实时给定的光强强度检修阈值和光强标准差检修阈值计算基于回归方程的建议检修时间，为设备状态检修提供依据。2.根据权利要求1所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤1)中，基于现有SCADA平台和61850通讯协议采集二次设备提供的光纤接口光强数据。3.根据权利要求1所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤1)中，按设定的采集周期t0采集二次设备提供的光纤接口光强数据。4.根据权利要求1所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤1)中，对采集到的二次设备提供的光纤接口光强数据按时序进行记录，得到光强数据的时序序列记录为S
(x，t)
：(x1，t1)，(x2，t2)，...，(x
i
，t
i
)，...，(x
n
，t
n
)。5.根据权利要求4所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤2)中，对光强时序序列S
(x，t)
按设定的计算间隔T0计算光强的算数平均值和标准差其中系数得到光强均值时序序列：和标准差时序序列：S
(σ，T)
：(σ1，T1)，(σ2，T2)，...，(σ
i
，T
i
)，...，(σ
n
，T
n
)，为每个计算周期内光强平均值；σ1，σ2，....，σ
n
为每个计算周期内光强标准差；T1，T2，....，T
n
为每个采样周期。6.根据权利要求5所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤3)中，使用最小二乘法对光强均值时序序列和标准差时序序列S
(σ，T)
分别进行自适应一元线性回归计算，得到光强均值回归方程x
T
＝a
x
+b
x
T和光强标准差回归方程σ
T
＝a
σ
+b
σ
T，其中a
x
，b
x
分别为光强均值线性回归的参数一与参数二，T为采样周期，a
σ
，b
σ
分别为标准差回归方程的参数一与参数二。7.根据权利要求6所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤3)中，对光强均值回归方程x
T
＝a

【专利技术属性】
技术研发人员：宋亮亮，杨毅，赵国勇，范栋琛，高磊，崔玉，杜云龙，叶翔，庞福滨，陈实，宋爽，刘志仁，齐贝贝，黄哲忱，
申请(专利权)人：南京南瑞继保工程技术有限公司国家电网有限公司江苏省电力试验研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：