一种特征检测方法及设备技术

本发明专利技术公开了一种特征检测方法及设备，所述方法包括：当指定产品位于指定位置的情况下，通过光源装置沿第一指定角度照射所述指定产品；其中，所述第一指定角度为不垂直于所述指定产品的角度；通过影像采集装置对所述指定产品进行影像采集，获得检测影像；通过阴影分类器对所述检测影像进行阴影分类，当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，确定所述指定产品存在浮高现象，具有通过二维相机检测三维特征的效果。维特征的效果。维特征的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种特征检测方法及设备


[0001]本专利技术涉及智能制造
，尤其涉及一种特征检测方法及设备。

技术介绍

[0002]在设备进行装配时，需要在设备表面使用各种零件进行固定，这些零件在完成固定后通常与设备表面平齐，当零件在设备表面装配不符合规定的时候，这些零件会相对设备表面形成浮高现象。目前，设备表面零件的浮高现象通常需要通过3D相机进行检测，以确定零件相对设备表面的高度，然而3D相机的成本过高。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供了一种特征检测方法及设备，具有通过二维相机检测三维特征的效果。
[0004]本专利技术实施例一方面提供了一种特征检测方法，所述方法包括：当指定产品位于指定位置的情况下，通过光源装置沿第一指定角度照射所述指定产品；其中，所述第一指定角度为不垂直于所述指定产品的角度；通过影像采集装置对所述指定产品进行影像采集，获得检测影像；通过阴影分类器对所述检测影像进行阴影分类，当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，确定所述指定产品存在浮高现象。
[0005]在一可实施方式中，所述通过影像采集装置对所述指定产品进行影像采集，获得检测影像，包括：通过所述影像采集装置采集所述指定产品，获得第一采集影像；其中，所述指定产品和所述光源装置沿第一指定角度进行相对转动；根据预设频率对所述第一检测影像进行截图处理，获得检测影像。
[0006]在一可实施方式中，所述通过影像采集装置对所述指定产品进行影像采集，获得检测影像，包括：控制所述影像采集装置相对所述指定产品沿预设路径进行移动，在所述影像采集装置移动过程中，对所述指定产品进行影像采集，获得多个第二采集影像；根据预设阴影指标对所述多个第二采集影像进行筛选，将满足预设阴影指标的第二采集影像确定为检测影像。
[0007]在一可实施方式中，所述指定产品包含目标特征；相应的，所述通过阴影分类器对所述检测影像进行阴影分类，当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，确定所述待指定产品存在浮高现象，包括：根据所述目标特征确定所述检测影像上的检测区域；通过所述阴影分类器对所述检测区域进行阴影分类，当分类为所述检测区域存在阴影特征的情况下，根据所述阴影特征确定所述目标特征存在浮高现象。
[0008]在一可实施方式中，所述方法还包括：当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，根据所述阴影特征确定所述目标特征的高度特征。
[0009]在一可实施方式中，所述检测影像包含多张方向不同的检测图像；相应的，所述方法还包括：获得每一张检测图像中目标特征的高度特征；对所有高度特征进行整合，确定与所述目标特征对应的高度信息和偏移度信息。
[0010]在一可实施方式中，所述方法还包括：通过影像采集装置对检测样本进行影像采集，获得多个检测影像样本；所述检测影像样本包含存在阴影的影像样本和不存在阴影的影像样本；通过影像样本对神经网络进行训练，获得阴影分类器，所述阴影分类器用于对检测影像进行阴影分类。
[0011]在一可实施方式中，所述通过影像样本对神经网络进行训练，获得阴影分类器，包括：对所述影像样本进行特征标注，获得标注特征样本；通过所述标注特征样本对神经网络进行训练，获得阴影分类器；其中，所述标注特征包括如下特征至少之一：阴影信息、检测区域、阴影长度和目标特征。
[0012]本专利技术实施例另一方面提供一种特征检测设备，所述设备包括：照射模块，用于当指定产品位于指定位置的情况下，通过光源装置沿第一指定角度照射所述指定产品；其中，所述第一指定角度为不垂直于所述指定产品的角度；采集模块，用于通过影像采集装置对所述指定产品进行影像采集，获得检测影像；分类模块，用于通过阴影分类器对所述检测影像进行阴影分类，当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，确定所述指定产品存在浮高现象。
[0013]在一可实施方式中，所述采集模块，包括：采集子模块，用于通过所述影像采集装置采集所述指定产品，获得第一采集影像；其中，所述指定产品和所述光源装置沿第一指定角度进行相对转动；截图子模块，用于根据预设频率对所述第一检测影像进行截图处理，获得检测影像。
[0014]在一可实施方式中，所述采集模块，包括：移动子模块，用于控制所述影像采集装置相对所述指定产品沿预设路径进行移动，在所述影像采集装置移动过程中，对所述指定产品进行影像采集，获得多个第二采集影像；筛选子模块，用于根据预设阴影指标对所述多个第二采集影像进行筛选，将满足预设阴影指标的第二采集影像确定为检测影像。
[0015]在一可实施方式中，所述指定产品包含目标特征；相应的，所述分类模块，包括：确定子模块，用于根据所述目标特征确定所述检测影像上的检测区域；分类子模块，用于通过所述阴影分类器对所述检测区域进行阴影分类，当分类为所述检测区域存在阴影特征的情况下，根据所述阴影特征确定所述目标特征存在浮高现象。
[0016]在一可实施方式中，所述设备还包括：确定模块，用于当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，根据所述阴影特征确定所述目标特征的高度特征。
[0017]在一可实施方式中，所述检测影像包含多张方向不同的检测图像；相应的，所述设备还包括：获得模块，用于获得每一张检测图像中目标特征的高度特征；整合模块，用于对所有高度特征进行整合，确定与所述目标特征对应的高度信息和偏移度信息。
[0018]在一可实施方式中，所述采集模块，还用于通过影像采集装置对检测样本进行影像采集，获得多个检测影像样本；所述检测影像样本包含存在阴影的影像样本和不存在阴影的影像样本；所述设备还包括：训练模块，用于通过影像样本对神经网络进行训练，获得阴影分类器，所述阴影分类器用于对检测影像进行阴影分类。
[0019]在一可实施方式中，所述训练模块，包括：标注子模块，用于对所述影像样本进行特征标注，获得标注特征样本；训练子模块，用于通过所述标注特征样本对神经网络进行训练，获得阴影分类器；其中，所述标注特征包括如下特征至少之一：阴影信息、检测区域、阴影长度和目标特征。
[0020]本方法实施例提供的特征检测方法通过光源装置照射指定产品使相对指定产品表面突起的部分在指定产品表面形成阴影，通过影像采集装置对指定产品表面进行影像采集，然后通过阴影分类器对影像采集获得的检测影像进行分类，判断检测影像上是否具有阴影特征，当分类结果为检测影像存在阴影特征的情况下，可以认为指定产品上存在相对指定产品表面突起的部分，即可以确定指定产品存在浮高现象。
附图说明
[0021]通过参考附图阅读下文的详细描述，本专利技术示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本专利技术的若干实施方式，其中：
[0022]在附图中，相同或对应的标号表示相同或对应的部分。
[0023]图1为本专利技术实施例一种特征检测方法的实现流程示意图；
[0024]图2为本专利技术实施例一种特征检测方法的具体场景示意图；
[0025]图3为本专利技术实施例一种特征检测方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种特征检测方法，其特征在于，所述方法包括：当指定产品位于指定位置的情况下，通过光源装置沿第一指定角度照射所述指定产品；其中，所述第一指定角度为不垂直于所述指定产品的角度；通过影像采集装置对所述指定产品进行影像采集，获得检测影像；通过阴影分类器对所述检测影像进行阴影分类，当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，确定所述指定产品存在浮高现象。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过影像采集装置对所述指定产品进行影像采集，获得检测影像，包括：通过所述影像采集装置采集所述指定产品，获得第一采集影像；其中，所述指定产品和所述光源装置沿第一指定角度进行相对转动；根据预设频率对所述第一检测影像进行截图处理，获得检测影像。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述通过影像采集装置对所述指定产品进行影像采集，获得检测影像，包括：控制所述影像采集装置相对所述指定产品沿预设路径进行移动，在所述影像采集装置移动过程中，对所述指定产品进行影像采集，获得多个第二采集影像；根据预设阴影指标对所述多个第二采集影像进行筛选，将满足预设阴影指标的第二采集影像确定为检测影像。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述指定产品包含目标特征；相应的，所述通过阴影分类器对所述检测影像进行阴影分类，当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，确定所述待指定产品存在浮高现象，包括：根据所述目标特征确定所述检测影像上的检测区域；通过所述阴影分类器对所述检测区域进行阴影分类，当分类为所述检测区域存在阴影特征的情况下，根据所述阴影特征确定所述目标特征存在浮高现象。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：当分类为所述检测影像存在阴影特征的情况下，根据所述阴影特征确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘云明，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：