用于X射线管的组件或电子俘获套筒及包括这种装置的X射线管制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种X射线管真空区域中的组件，其包括：引导电子束(13)穿过的开口(14、15、16)；以及由第一材料组成的基体，其中，第一材料为金属，其中，开口(14、15、16)的表面上布置有第二材料，该第二材料的原子序数小于第一材料的原子序数。本发明专利技术还涉及一种靶材载体(6)，其包括：由第一材料组成的基体，该第一材料为金属；以及基体面向电子束(13)的表面上的第二材料，该第二材料在靶材(5)与物镜光阑(4)之间延伸。本发明专利技术又涉及一种X射线管，尤其是微焦X射线管，其包括用于将电子束(13)引导到靶材(5)上的机构以及布置在电子束(13)的传播路径中的根据本发明专利技术的组件和/或根据本发明专利技术的靶材载体(6)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于X射线管的组件或电子俘获套筒及包括这种装置的X射线管
本专利技术涉及一种X射线管真空区域中的组件，其包括引导电子束穿过的开口、电子俘获套筒以及X射线管，尤其是微焦X射线管。
技术介绍
在微焦X射线管的情景下，管电流并不对应于靶材或阳极中产生可用辐射的电流。即使将电子光学器件调节到最高分辨率，也只有约2.5％的电子会击中靶材。其余97.5％的电子在从阴极到靶材的途中撞击X射线管的组件。这些电子的很大一部分被物镜光阑吸收，因为这一组件会严重限制电子束。剩余97.5％的电子事先撞击电子光学器件。这些组件通常由金属诸如铁(线圈铁芯)、钛或钼等金属组成，并与外界形成真空密封。在所有上述情况下，都会产生杂散辐射。杂散辐射的另一来源是从靶材散射回的电子。在靶材附近安装所谓的电子俘获套筒，该电子俘获套筒会吸收这些电子，以使它们不会在靶材上形成第二焦斑或撞击靶材载体。这时也会产生杂散辐射，从而增高整体图像亮度并降低对比度。电子俘获套管靠近靶材，因此必须能够承受高温。这就是它通常也由金属(诸如钼)组成的原因。目前是通过探测器比较在2D图像记录中纠正亮度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线管真空区域中的组件，其包括：/n引导电子束(13)穿过的开口(14、15、16)；以及/n由第一材料组成的基体，其中，所述第一材料为金属，/n其中，所述开口(14、15、16)的表面上布置有第二材料，所述第二材料的原子序数小于所述第一材料的原子序数。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种X射线管真空区域中的组件，其包括：
引导电子束(13)穿过的开口(14、15、16)；以及
由第一材料组成的基体，其中，所述第一材料为金属，
其中，所述开口(14、15、16)的表面上布置有第二材料，所述第二材料的原子序数小于所述第一材料的原子序数。


2.根据权利要求1所述的组件，其中，所述组件是具有管状开口(15)的束管(3)或线圈铁芯(8、9)，或是具有环状开口(16)的光阑(4)，或是多个上述组件的组合。


3.一种靶材载体(6)，其包括：
由第一材料组成的基体，其中，所述第一材料为金属；以及
所述基体面向所述电子束(13)的表面上的第二材料，所述第二材料在靶材(5)与物镜光阑(4)之间延伸。


4.根据前述权利要求中任一项所述的组件或靶材载体(6)，其中，所述第一材料为钼、铁、钨或钛，并且所述第二材料为铝、铍、硅、碳、尤其是石墨形式的碳、硼或这些元素中一种或多种的化合物。


5.根据前述权利要求中任一项所述的组件或靶向载体(6)，其中，所述第一材料...

【专利技术属性】
技术研发人员：安德烈·舒，
申请(专利权)人：康麦特有限公司，
类型：发明
国别省市：瑞士;CH