【技术实现步骤摘要】
将第一接口复制到第二接口上及相关系统、方法及装置优先权主张本申请案主张2019年9月20日申请的针对“将第一接口复制到第二接口上及相关系统、方法及装置(REPLICATIONOFAFIRSTINTERFACEONTOASECONDINTERFACEANDRELATEDSYSTEMS,METHODS,ANDDEVICES)”序列号为16/577,267的美国专利申请案的申请日期的权益。
本专利技术大体上涉及将第一接口的端口映射到第二接口的端口上,并且更特定来说,涉及将P1500接口的端口映射到存储器装置中的直接存取(DA)接口的端口。
技术介绍
联合电子装置工程委员会(JEDEC)固态技术协会规定存储器装置中的接口设计的可接受性。举例来说,JEDEC定义针对高带宽存储器2(HBM2)系统的三个接口。具体来说,JEDEC定义AWORD/DWORD接口(例如,命令、地址、DQ等)、P1500接口及直接存取(DA)接口。DA接口是用于供应商的测试的特殊接口。JEDEC仅定义针对DA接口的凸块(ubump)的数目及放置。因此,端口指派用法可变化(例如,特定于供应商)。
技术实现思路
本申请案的一个方面提供一种存储器装置,其中所述存储器装置包括:第一接口,其包含测试探针不可存取的第一端口;第一接口控制电路,其经配置以控制所述第一接口的操作;第二接口,其包含第二端口,所述第二端口的至少一部分包含所述测试探针可存取的测试垫;及多路复用器,其经配置以可操作地将所述第一接口及所述第二接口的至少一部分耦 ...
【技术保护点】
1.一种存储器装置,其包括:/n第一接口,其包含测试探针不能存取的第一端口;/n第一接口控制电路,其经配置以控制所述第一接口的操作;/n第二接口,其包含第二端口,所述第二端口的至少一部分包含所述测试探针能存取的测试垫;及/n多路复用器,其经配置以可操作地将所述第一接口及所述第二接口的至少一部分耦合到所述第一接口控制电路,其中所述多路复用器经配置以选择性地使所述第二接口的所述至少所述部分能够操作为所述第一接口,以使测试探针能够经由所述第二接口的所述测试垫存取所述第一接口控制电路。/n
【技术特征摘要】
20190920 US 16/577,2671.一种存储器装置,其包括:
第一接口,其包含测试探针不能存取的第一端口;
第一接口控制电路,其经配置以控制所述第一接口的操作;
第二接口,其包含第二端口,所述第二端口的至少一部分包含所述测试探针能存取的测试垫;及
多路复用器,其经配置以可操作地将所述第一接口及所述第二接口的至少一部分耦合到所述第一接口控制电路,其中所述多路复用器经配置以选择性地使所述第二接口的所述至少所述部分能够操作为所述第一接口,以使测试探针能够经由所述第二接口的所述测试垫存取所述第一接口控制电路。
2.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述第一端口包括凸块。
3.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述第一接口包含P1500接口,并且所述第一接口控制电路包含P1500控制电路。
4.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述第二接口包含直接存取DA接口。
5.根据权利要求1所述的存储器装置,其进一步包括可操作地耦合到所述第二接口的第二接口控制电路,所述第二接口控制电路经配置以控制所述第二接口的操作。
6.根据权利要求5所述的存储器装置,其中所述第二接口控制电路经配置以直接地、经由内置自测试BIST间接地以及以混合方式来选择性地存取所述存储器装置的一或多个动态随机存取存储器DRAM裸片,所述混合方式包含对所述DRAM裸片的直接存取及经由所述BIST对所述DRAM裸片的间接存取。
7.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述多路复用器经配置以响应于提供到所述多路复用器的控制信号而选择性地将所述第二接口的所述至少所述部分操作为所述第一接口。
8.根据权利要求7所述的存储器装置,其中可操作地耦合到所述第二接口的第二接口控制电路经配置以响应于提供到所述多路复用器的所述控制信号而停用。
9.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述多路复用器经配置以在所述第二接口的至少所述部分作为所述第一接口的所述选择性操作期间将所述第一端口中的每一者指派到所述第二端口中的不同一者。
10.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述第一端口的数目为十五。
11.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述第二端口的数目为六十。
12.根据权利要求1所述的存储器装置,其中所述第一接口控制电路经配置以直接地、经由内置自测试BIST间接地以及以混合方式来选择性地存取一或多个动态随机存取存储器DRAM裸片,所述混合方式包含对所述一或多个DRAM裸片的直接存取及...
【专利技术属性】
技术研发人员:堂野千秋,近藤力,藤巻亮,
申请(专利权)人:美光科技公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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